【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微波吸收材料的复介电常数和复导磁率的测试方法及系统。由于射频到微波频谱应用的发展，特别是作为研究天然材料，人工合成材料和生物体组织的重要手段，以及在通讯和电子对抗方面的应用，测量各种有机和无机的电介质、半导体、铁氧体等的复介电常数ε＝ε′-jε″和复导磁率μ＝μ′-jμ″愈来愈增加它的重要性，对于中、低损耗材料已有许多可靠的测量方法;对于高损耗材料，过去广泛采用测量线的开路-短路法，但当样品损耗增高时，该方法的测量误差显著升高，灵敏度下降，其测量结果难以满足要求。ADA 100764、ADA120577介绍了利用微波矢量网络分析仪测量放样品装置的两个散射系统S11和S21，按有关公式计算微波吸收材料的复导磁率。这个测试系统由微波信号源，用于测量散射系数S11和S21的放样品装置以及微波矢量网络分析仪构成，利用计算机准确度提高技术，可以满足目前的要求。然而，微波矢量网络分析仪不具备直接测量材料电磁参数的功能，当需要这方面应用时，还要解决一些特殊的技术问题和计算程序。例如要自行设计带状线或其他结构的放样品装置，及与这些结构有关的转换接头;或配置高性...
【技术保护点】
一种微波吸收材料的电磁参数测试方法，利用Ｓ参数测量单元，测量放样品装置（含样品）的两个散射系数Ｓ↓〔１１〕和Ｓ↓〔２１〕，计算材料的复介电常数ε和复导磁率μ，其特征在于所说的参数测量单元用微波干涉方法，所说的放样品装置能进行四种不同测量的转换，利用定标技术和比对测量方法得到散射系数Ｓ↓〔１１〕和Ｓ↓〔２１〕。所说的定标技术和比对测量方法是在测量Ｓ↓〔１１〕和Ｓ↓〔２１〕之前，分别将参考信号对Ｓ↓〔１１〕和Ｓ↓〔２１〕进行定标测量，然后分别测量从样品反射和透射的信号同参考信号进进行干涉后的驻波节点和衰减器读数相对于定标时的变化来获得散射系数Ｓ↓〔１１〕和Ｓ↓〔２１〕。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：倪尔湖，施铁矛，张志鸣，沈建华，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]
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