电感电容品质因数损耗测量装置制造方法及图纸

技术编号:2638552 阅读:275 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种测量电抗、阻抗及其派生特性的装置。它提供一种测量精度较高,相位失真较小,量程范围较大,适合与LSI双积分式A/D转换器直接配合完成全部测量功能,可与数字万用表组合的多功能数字式电容、电感、品质因数和损耗的测量装置。它包括信号源、限流电阻、半桥电路、两路移相电路、两路相敏检波器、功能选择转换开关和LSI双积分A/D转换器等电路。(*该技术在2011年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量电抗、阻抗及其派生特性的装置。已有的半桥电路用于测量电感L、电容C、品质因数Q和损耗D等参数时,采用四相位发生器,单路相敏检波(PSD),快速滤波(LPF)和双积分式A/D变换,(参见唐统一、王怀亮等《交流电桥》,P264~281,机械工业出版社,1988,4)。Henry.P.HALL,(IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,VOL、IM·22,NO.December.1973,P387-390)提出一种CRL参数测量仪,主要包括半桥电路、放大电路、高通和低通滤波器、功能转换开关、一路相敏检波、比较器和逻辑电路以及显示电路、计数器和电源。上述电路中的双积分电路的输入端由复杂的逻辑电路控制,在积分期与反积分期期间分别与半桥电路的两路输出相关,属于分时测量。由于只有一路相位检波,逻辑控制电路就必须在整个测量期间不断地改换半桥电路的两路输出及PSD的参考相位,因此对控制电路及滤波器的要求均很高。本专利技术的目的在于提供一种测量精度较高,相位失真较小,量程范围较大,适合与LSI双积分式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电感、电容、品质因数和损耗测量装置,包括信号源、限流电阻、半桥电路、相敏检波器、功能选择转换开关、显示测量和电源电路等,其特征在于设有两路移相电路,两路相敏检波器和ISI双积分A/D转换器;信号源为正弦振荡器,并通过限流电阻R↓[0]和被测元件与半桥电路连接;半桥电路由放大器和电流/电压转换器组成,其输出通过功能选择转换开关与两路移相电路和两路相敏检波器连接;两路移相器输出信号分别作为两路相敏检波器的参考信号;两路相敏检波器的输出分别作为ISI双积分A/D转换器的参考信号(标准信号)和输入信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐先
申请(专利权)人:福建省龙溪无线电厂
类型:发明
国别省市:35[中国|福建]

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