【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电场分布的自动测量技术，具体地说，涉及电子、光电子材料和器件中电场分布及有关特性的自动电光检测装置。电场和电位分布是电子和光电子材料及其器件的一个基本问题，它们的许多特性都与其密切相关。因此，对材料和器件特性深层次的了解必然会涉及到场分布的问题。以往，没有合适的实验方法可用于电子和光电子材料及其器件中电场分布特性的直接测量。由专利技术人提出的连续波电光检测法，为其直接测量开辟了途径。实现该方法的测量装置是由激光器、准直物镜、1/4波片、聚焦物镜、被测样品、检偏器、分束器、光功率计、光电探测器、锁相放大器、红外摄像仪组成。由于研究的是电场、电位的分布特性，故而每一分布特性曲线的获得均需作多次的测量。用这样的装置，测量时间长，操作不方便，测量的精度和重复性均不理想，即使测量完毕，处理数据和描绘曲线又要耗费许多时间，这些问题的存在，显然严重地妨碍了该方法的应用向实用化前进。鉴此，本专利技术的目的旨在提供一种自动测量电子、光电子材料和器件中电场分布及其有关特性的电光检测装置。本专利技术的目的是这样来实现的设置了以微机为主体的数据采集、处理系统和二维步进...
【技术保护点】
一种电场分布自动电光检测装置，包括激光器［１］、准直物镜［２］、滤光片［２０］、分束器［４］、聚焦物镜［５］、固定在样品架上的被测样品［６］、分束器［７］、透镜［８］、电视摄像机［９］、滤光片［１９］、１／４波片［１３］、检偏器［１４］、聚焦物镜［１５］、光电探测器［１６］、锁相放大器［１７］、激励电路［１８］，本专利技术的特征在于设置了一个以微机为主体的数据采集、处理系统［２５］和一个二维步进驱动系统，驱动样品架作二维步进移动的是微机控制的二维步进驱动系统，微机对锁相放大器［１７］输入的表征被测样品［６］内电场强度的电压量，进行自动数据采集、处理、存贮，最后进行屏幕显示或...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱祖华，丁桂兰，楼东武，周强，丁纯，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]
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