一种基于异质结的圆偏振光检测器制造技术

本发明专利技术公开了一种基于异质结的圆偏振光检测器，是通过在设有绝缘介电层的基底上设置两层有机半导体构成异质结，且处于上层的机半导体层在圆偏振光照射下可产生手性活性，从而实现圆偏振光的检测。本发明专利技术圆偏振光检测器的光响应性能和电学性能优异，且制作方法简单、成本低，具有更好的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于异质结的圆偏振光检测器
本专利技术涉及光电探测器
，具体涉及一种基于异质结的圆偏振光检测器。
技术介绍
当自然光与物质相互作用后，会在折射光、反射光、散射光以及热辐射中引入与物质特性(如粗糙度、材料、含水度等)相关的偏振态。因此，偏振成像不仅能够有效识别传统强度成像无法或者难以分辨的低对比度目标，还能够凸显出目标物体的轮廓特征，在地面及空间遥感、矿物勘探、医学诊断、烟雾气候环境下的导航、伪装识别、海面和水下目标的探测与识别等方面有着传统技术不具备的优势，是一种新的信息分析手段。光的偏振态可分为线偏振态和圆偏振态。目前，测量圆偏振特性最常见的方法是在探测器前加线偏振片和四分之一波片，通过旋转偏振片或四分之一波片来实现圆偏振光的测量。但该方法需要通过机械旋转，单次测量只能获取单一偏振态的信息。并且器件由分立系统组成，体积大且稳定性差，难以实现小型化和集成化的圆偏振光直接检测。为了实现圆偏振光的小型化和集成化的直接检测，人们提出将具有光学活性或者手性结构的材料作为活性层来制备圆偏振光探测器，通过电学信号直接检测圆偏振光。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于异质结的圆偏振光检测器，其特征在于：包括基底层(1)，在所述基底层(1)上设置有绝缘介电层(2)，在所述绝缘介电层(2)上设置有电荷传输层(3)，在所述电荷传输层(3)上设置有圆偏振光敏感层(4)，在所述圆偏振光敏感层(4)上间隔设置有源电极(5)和漏电极(6)；/n所述电荷传输层(3)与所述圆偏振光敏感层(4)构成异质结结构，且所述圆偏振光敏感层(4)在圆偏振光照射下可产生手性活性，从而实现圆偏振光的检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于异质结的圆偏振光检测器，其特征在于：包括基底层(1)，在所述基底层(1)上设置有绝缘介电层(2)，在所述绝缘介电层(2)上设置有电荷传输层(3)，在所述电荷传输层(3)上设置有圆偏振光敏感层(4)，在所述圆偏振光敏感层(4)上间隔设置有源电极(5)和漏电极(6)；
所述电荷传输层(3)与所述圆偏振光敏感层(4)构成异质结结构，且所述圆偏振光敏感层(4)在圆偏振光照射下可产生手性活性，从而实现圆偏振光的检测。


2.根据权利要求1所述的圆偏振光检测器，其特征在于：所述圆偏振光敏感层为F8BT、F6BT或其它聚芴衍生物中的一种。


3.根据权利要求1或2所述的圆偏振光检测器，其特征在于：所述电荷传输层为3-己基取代聚噻吩、吡咯并吡咯二酮或其衍生物中的一种。


4.根据权利要求1或2所述的圆偏振光检测器，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱龙臻，姚宏兵，王冠龙，张灿，赵丰胜，
申请(专利权)人：合肥工业大学，
类型：发明
国别省市：安徽;34