具有已改善故障检测覆盖率的制作缺陷分析仪制造技术

一种用于测试在其上装有多个元件的印刷电路板的制作缺陷分析仪，其特征在于，该分析仪包括： ａ）多个传感器，每个传感器： ｉ）适合于装在印刷电路板上的元件之一上； ｉｉ）具有多层，至少在一层上具有导电的故障测试点，所述的导电故障测试点至少在第一点和第二点之间形成一个导电通路；和 ｉｉｉ）至少有两个端点，一个连接到第一点，一个连接到第二点； ｂ）测试控制装置，用于： ｉ）以使电流能在传感器的两个端点之间流动的方式连接传感器并测量在印刷电路板和传感器之间感应耦合的信号； ｉｉ）以防止电流在两个端点之间流动的方式连接传感器并测量在印刷电路板和传感器之间电容耦合的测试信号。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总的涉及用于测试印刷电路板的设备，特别涉及用于检测印刷电路板上的制作缺陷的设备。授与Cilingiroglu的美国专利US-5,124,660公开了一种制作缺陷分析仪，在该分析仪中，形状通常为平板的金属电极置在印刷电路板上的元件的上面。该电极由产生电场的振荡器驱动，在测试中电场耦合到元件的引线结构上。这种类型的耦合称为“电容耦合”。测试探头连接到印刷电路板上，以测量电容性地耦合到电路板的信号。为了确定在试验中的元件的特定引线是否正确地连接到印刷电路板上，可把在印刷电路板上该引线与该印刷电路板连接的故障测试点连接到电流测量装置上。而将电路板上的其它故障测试点接地，以避免虚假信号，这称之为“屏蔽”。如果电流测量装置检测出电流，表明从元件的引线结构到印刷电路板是一条通路。如果没有测出电流，则表明在测元件的引线结构和印刷电路板存在断裂，这种断裂表明存在有制作方面的缺陷。授予Crook等的美国专利US-5,254,953公开了一个类似的系统，按该专利，在测试中测试信号是电容性地耦合在元件的引线结构和呈平板形的导电电极之间。美国专利US-5,124,660和US-5,254,95本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蒂莫西·W·希恩，
申请(专利权)人：特拉达因公司，
类型：发明
国别省市：