用于具有界面的微结构的测试头制造技术

技术编号:2637695 阅读:160 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种测试头,用于与一测试中的电气元(部)件的诸测试点和印刷电路板上的诸接触点进行接触。多根弹簧弹性的、长的、有两相对端的电气接触单元,其一端接触一测试点,另一端接触一接触点,至少两个最好三个导向板彼此间隔开地设置在测试点和接触点之间的空间。对于每一接触单元,第一、第二、第三导向板相应的第一、第二、第三馈入开口,其中,两相邻开口之间的位置横向错开互不对齐以使穿过开口的接触单元被保持在摩擦锁定状态。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具有可以与测试中的电气元(部)件的测试点相接触的装置的测试头,其中,这些测试点最好排列得彼此非常接近。上面所述的测试头是用于与一测试中的电气元(部)件,例如半导体元(部)件的多个排列得非常接近的测试点同时进行接触的那种测试头。此测试头包括多个针形的接触单元,该接触单元均由弹性材料组成,且诸测试端被引导得压靠在一个预定的测试点上。接触力是当诸接触单元分别置于诸测试点上或诸测试点被分别置于接触单元上时,在垂直于其纵向长度的方向上由于弹性伸展弯折或弯曲接触单元而产生的。诸接触单元被安排在两导向板的馈入开口(以下简称开口)内,所述导向板是彼此互相间隔开的。由于接触单元所要起的作用,接触单元必须轴向可移动地安装在导向板的开口内。希望能防止这样的情况,即当接触单元位于测试头的准备测试的位置时,接触单元由于重力方向的作用而脱出测试头或开口,例如在两次测试步骤之间脱出测试头或开口。DE2364786建议在接触单元的端部区域提供一支承头,所述支承头的外部尺寸大于开口的净宽度。由于采用支承头会使接触单元的直径扩大从而接触单元就需要较大的设置空间。接触单元之间的距离的增大之后就不再可能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试头,用于与测试中的一电气元(部)件的至少一个测试点以及一个电路的至少一个接触点进行接触,所述测试头包括: 一由弹性导电材料制成的接触单元,所述接触单元,当测试中的电气元(部)件和电路的接触点相隔开一距离时,具有一接触电气元(部)件的测试点的第一端和接触该电路的接触点的相对的第二端; 一离开测试点一定距离的第一导向板,一离开接触点一定距离的第二导向板,且该第一导向板和第二导向板彼此互相隔开一定距离;对于每一接触单元,该第一导向板设有一相应的第一馈入开口和该第二导向板设有一相应的第二馈入开口,其特征是: 该接触单元穿过第一导向板中相应的第一开口和第二导向板中相应的第二开口...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:赖讷施密德克劳斯吉林格尔乌尔里希高斯海因茨多伊施
申请(专利权)人:精密金属有限公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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