用于并行波形分析的测试和测量系统技术方案

本发明专利技术的技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。一种用于并行波形分析的测试和测量系统获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。该系统还获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。附加地，该系统在网络上使用多个测试装备的库存信息来跟踪多个测试资产，并且使得远程用户能够访问被存储在云计算系统上的装备日志以及对波形的相应分析的结果，以用于分析的执行。

【技术实现步骤摘要】
用于并行波形分析的测试和测量系统

涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。
技术实现思路
集成电路（硅芯片或“芯片”）的验证和测试包括一个处理，在该处理中，针对实验室设置中的所有功能正确性来测试芯片的制造设计。这可以使用被组装在测试板或参考板上的芯片，连同芯片被设计用于其的系统的其它组件来完成。目标是要验证客户在真正部署中最终可能具有的芯片的所有用例并且证明用于所有这些使用模型的设计合格。这样的验证也可以应用于其它类型半导体的测试，所述其它类型半导体诸如任何其它半导体，诸如砷化镓、磷化铟等。然而，根据摩尔定律，随着新的半导体设计上的晶体管数量上的持续增加，硅芯片和其它类型的半导体的复杂性也迅速地增加。这种日益增加的复杂性一同带来了对如下的客户测试的不断增长的需求：验证下一代硬件，同时减少总体测试时间并增加测试吞吐量。特别地，随着硅芯片复杂性的增加，要测试的场景数量也随着每个场景的排列而增加。这为硅芯片和其它类型的半导体验证创建了非常大的挑战。例如，硅芯片验证在历史上依赖于用于调试、表征、符合性测试和在工厂进行测试的测试装备（例如，示波器、任意波形发生器（AWG）、任意函数发生器（AFG）、误码率测试器（BERT）等）。这种测试装备传统上执行两个高级任务。第一个任务是要在测试期间获取由示波器生成的波形，并且第二个任务是要使用数字信号处理（DSP）算法分析波形并验证模拟信号。常规地，这两项任务是按顺序完成的。特别地，常规示波器具有专用硬件来将波形获取到存储器中，所述波形然后由嵌入在示波器内的中央处理单元分析。由于任务是按顺序执行的，因此这由于要被验证和测试的硅芯片的复杂性增加而增加了总体测试时间。因此，为了解决在上面提到的目前已知系统的技术问题和限制，本文中描述的系统和方法使将波形获取到存储器中和对所获取波形进行分析的上述任务分离。在一个示例实施例中，本文中描述的系统和方法获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。本文中描述的系统和方法还可以获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取在DUT上利用示波器执行第二测试所得到的第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。这样的改进因此增加了测试吞吐量并减少了总体测试时间。在一个示例实施例中，一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法包括：从DUT电子地获取在DUT上执行第一测试所得到的第一波形；响应于获取在DUT上执行第一测试所得到的第一波形：开始电子地分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形；以及在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始电子地获取在DUT上执行第二测试所得到的来自DUT的第二波形。该方法进一步包括，响应于获取在DUT上执行第二测试所得到的第二波形：在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始电子地分析在DUT上执行第二测试所得到的第二波形；以及开始电子地获取在DUT上执行第三测试所得到的第三波形。根据各种实施例，非暂时性计算机可读存储介质具有存储在其上的计算机可执行指令，所述计算机可执行指令在由至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器执行上述方法中的一个或多个。附图说明附图中的组件不一定相对于彼此成比例。贯穿若干个视图，相同的附图标记指定对应的部分；图1是现有技术示波器波形获取和分析的时序图；图2是根据本公开的各种示例实施例的示波器波形获取和分析的时序图；图3是图示根据本公开的各种示例实施例的用于并行波形分析的测试和测量系统的网络架构的框图；图4是图示根据本公开的各种示例实施例的用于并行波形分析的测试和测量系统的示例架构中的并行分析组件的框图；图5是图示根据本公开的各种示例实施例的用于并行波形分析的测试和测量系统中的示例操作的序列图；图6是图示根据本公开的各种示例实施例的用于并行波形分析的测试和测量系统中的示例存记和监控架构的框图；图7是图示根据本公开的各种示例实施例的用于并行波形分析的测试和测量系统中的示例资产管理和控制架构的框图；图8是图示根据本公开的各种示例实施例的示例测试自动化平台架构的框图，用于并行波形分析的测试和测量系统可以在所述示例测试自动化平台架构内操作；图9是图示根据各种示例实施例的示例测试系统计算设备的概览框图，在所述示例测试系统计算设备中可以实现用于并行波形分析的测试和测量系统的实施例；图10是根据各种示例实施例的在用于并行波形分析的测试和测量系统中进行并行波形分析的示例计算机化方法的流程图；图11是根据各种示例实施例的用于在用于并行波形分析的测试和测量系统中进行并行波形分析的另一示例计算机化方法的流程图；图12是根据各种示例实施例的用于在用于并行波形分析的测试和测量系统中进行并行波形分析的示例计算机化方法的流程图，所述并行波形分析牵涉与获取第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。具体实施方式本技术公开的各种实施例提供了用于硅芯片和其它半导体验证和测试的系统和方法，所述系统和方法使将波形获取到存储器中和对所获取波形进行分析的任务分离。在一个示例实施例中，本文中描述的系统和方法获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。本文中描述的系统和方法还可以获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取在DUT上利用示波器执行第二测试所得到的第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。这样的改进因此增加了测试吞吐量并减少了总体测试时间。图1是现有技术示波器波形获取和分析的时序图100。时序图100的纵轴上示出了四个示例测试（测试#1、测试#2、测试#3和测试#4）。在半导体验证中执行的测试包括诸如通过AWG来生成测试信号，并且将该测试信号施加到DUT。示波器获取将特定测试信号施加到DUT所得到的波形。然后，系统对将特定测试信号施加到DUT所得到的波形进行分析。因此，每个测试具有波形获取部分和波形分析部分。现有技术系统在开始后续测试的波形获取部分和波形分析部分之前，完成该测试的波形获取部分和波形分析部分。特别地，在图1中示出的现有技术示例中，测试#1具有波形获取部分102和波形分析部分104。测试#2具有波形获取部分106和波形分析部分108。测试#3具有波形获取部分110和波形分析部分112。最后，测试#4具有波形获取部分114和波形分析部分116。时序图100示出了相对于其它测试，随时间的经过何时执行每个测试的每个部分。如所示出的，现有技术系统在开始后续测试的波形获取部分和波形分析部分之前，完成每个测试的波形获取部分和波形分析部分。如所示出的，测试#1的波形获取部分102和波形分析部分104这两者都在测试#2的波形获取部分106和波形分析部分108开始之前完成。测试#2的波形获取部分106和波形分析部分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法，包括：/n获取在所述DUT上执行第一测试所得到的来自所述DUT的第一波形；/n响应于在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的获取：/n开始分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形；并且/n在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第二测试所得到的来自所述DUT的第二波形；以及/n响应于获取在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形：/n在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的同时，开始分析在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形。/n

【技术特征摘要】
20190517 IN 201921019655;20200510 US 16/8709901.一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法，包括：
获取在所述DUT上执行第一测试所得到的来自所述DUT的第一波形；
响应于在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的获取：
开始分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形；并且
在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第二测试所得到的来自所述DUT的第二波形；以及
响应于获取在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形：
在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的同时，开始分析在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形。


2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第三测试所得到的第三波形。


3.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
获取在DUT上执行附加测试所得到的附加波形；以及
至少部分并行地执行对在所述DUT上执行附加测试所得到的所述附加波形的相应分析。


4.根据权利要求3所述的方法，其中与执行对除了一个或多个附加波形之外的其它波形的相应分析至少部分并行地执行对在DUT上执行附加测试所得到的一个或多个附加波形的获取。


5.根据权利要求3所述的方法，其中获取附加波形包括：
使用示波器获取所述附加波形；以及
将所述附加波形存储到分解的持久性存储器中。


6.根据权利要求5所述的方法，其中将附加波形存储到分解的持久性存储器中包括：
经由应用编程接口（API）从运行在示波器上的获取引擎接收所述附加波形；以及
将接收到的波形存储在远程用户的系统可远程访问的集中式数据服务器上的数据库中。


7.根据权利要求3所述的方法，其中至少部分并行地执行相应分析包括：在云计算系统上至少部分并行地执行对附加波形的相应分析。


8.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在云计算系统上自动存储对附加波形的相应分析结果；以及
使得远程用户能够访问被存储在所述云计算系统上的对所述附加波形的相应分析结果。


9.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在云计算系统上存储通过在DUT上的附加测试所得到的测试装备的装备日志；以及
使得远程用户能够访问所述装备日志。


10.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在网络上将包括示波器在内的多个测试资产的库存信息存储在云计算系统上，所述示波器和云计算系统连接到所述网络。


11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器在网络上使用多个测试装备的库存信息中的至少一部分来跟踪多个测试资产中的至少一个。


12.根据权利要求11所述的方法，其中多个测试资产附加地包括以下各项中的一个或多个：误码率测试器（BERT）、任意波形发生器（AWG）、任意函数发生器（AFG）、电压表、DUT、探头和测试软件。


13.根据权利要求11所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器确定多个测试资产的使用模式。


14.根据权利要求11所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器管理多个测试资产的自动软件升级。


15.一种测试和测量系统，包括：
至少一个存储器；和
耦合到所述至少一个存储器的至少一个处理器，其中所述至少一个存储器具有存储在其上的计算机可执行指令，所述计算机...

【专利技术属性】
技术研发人员：S曼达姆克里什纳库马，S马哈瓦，M古塔哈利拉什米帕斯，SK马卡纳哈利拉迈亚，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US