用于并行波形分析的测试和测量系统技术方案

本发明专利技术的技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。一种用于并行波形分析的测试和测量系统获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。该系统还获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。附加地，该系统在网络上使用多个测试装备的库存信息来跟踪多个测试资产，并且使得远程用户能够访问被存储在云计算系统上的装备日志以及对波形的相应分析的结果，以用于分析的执行。

【技术实现步骤摘要】
用于并行波形分析的测试和测量系统

涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。
技术实现思路
集成电路（硅芯片或“芯片”）的验证和测试包括一个处理，在该处理中，针对实验室设置中的所有功能正确性来测试芯片的制造设计。这可以使用被组装在测试板或参考板上的芯片，连同芯片被设计用于其的系统的其它组件来完成。目标是要验证客户在真正部署中最终可能具有的芯片的所有用例并且证明用于所有这些使用模型的设计合格。这样的验证也可以应用于其它类型半导体的测试，所述其它类型半导体诸如任何其它半导体，诸如砷化镓、磷化铟等。然而，根据摩尔定律，随着新的半导体设计上的晶体管数量上的持续增加，硅芯片和其它类型的半导体的复杂性也迅速地增加。这种日益增加的复杂性一同带来了对如下的客户测试的不断增长的需求：验证下一代硬件，同时减少总体测试时间并增加测试吞吐量。特别地，随着硅芯片复杂性的增加，要测试的场景数量也随着每个场景的排列而增加。这为硅芯片和其它类型的半导体验证创建了非常大的挑战。例如，硅芯片验证在历史上依赖于用于调试、表征、符合性本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法，包括：/n获取在所述DUT上执行第一测试所得到的来自所述DUT的第一波形；/n响应于在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的获取：/n开始分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形；并且/n在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第二测试所得到的来自所述DUT的第二波形；以及/n响应于获取在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形：/n在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的同时，开始分析在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形。...

【技术特征摘要】
20190517 IN 201921019655;20200510 US 16/8709901.一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法，包括：
获取在所述DUT上执行第一测试所得到的来自所述DUT的第一波形；
响应于在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的获取：
开始分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形；并且
在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第二测试所得到的来自所述DUT的第二波形；以及
响应于获取在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形：
在分析在所述DUT上执行所述第一测试所得到的所述第一波形的同时，开始分析在所述DUT上执行所述第二测试所得到的所述第二波形。


2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始获取在所述DUT上执行第三测试所得到的第三波形。


3.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：
获取在DUT上执行附加测试所得到的附加波形；以及
至少部分并行地执行对在所述DUT上执行附加测试所得到的所述附加波形的相应分析。


4.根据权利要求3所述的方法，其中与执行对除了一个或多个附加波形之外的其它波形的相应分析至少部分并行地执行对在DUT上执行附加测试所得到的一个或多个附加波形的获取。


5.根据权利要求3所述的方法，其中获取附加波形包括：
使用示波器获取所述附加波形；以及
将所述附加波形存储到分解的持久性存储器中。


6.根据权利要求5所述的方法，其中将附加波形存储到分解的持久性存储器中包括：
经由应用编程接口（API）从运行在示波器上的获取引擎接收所述附加波形；以及
将接收到的波形存储在远程用户的系统可远程访问的集中式数据服务器上的数据库中。


7.根据权利要求3所述的方法，其中至少部分并行地执行相应分析包括：在云计算系统上至少部分并行地执行对附加波形的相应分析。


8.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在云计算系统上自动存储对附加波形的相应分析结果；以及
使得远程用户能够访问被存储在所述云计算系统上的对所述附加波形的相应分析结果。


9.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在云计算系统上存储通过在DUT上的附加测试所得到的测试装备的装备日志；以及
使得远程用户能够访问所述装备日志。


10.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：
在网络上将包括示波器在内的多个测试资产的库存信息存储在云计算系统上，所述示波器和云计算系统连接到所述网络。


11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器在网络上使用多个测试装备的库存信息中的至少一部分来跟踪多个测试资产中的至少一个。


12.根据权利要求11所述的方法，其中多个测试资产附加地包括以下各项中的一个或多个：误码率测试器（BERT）、任意波形发生器（AWG）、任意函数发生器（AFG）、电压表、DUT、探头和测试软件。


13.根据权利要求11所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器确定多个测试资产的使用模式。


14.根据权利要求11所述的方法，进一步包括：
由测试和测量系统的至少一个计算机处理器管理多个测试资产的自动软件升级。


15.一种测试和测量系统，包括：
至少一个存储器；和
耦合到所述至少一个存储器的至少一个处理器，其中所述至少一个存储器具有存储在其上的计算机可执行指令，所述计算机...

【专利技术属性】
技术研发人员：S曼达姆克里什纳库马，S马哈瓦，M古塔哈利拉什米帕斯，SK马卡纳哈利拉迈亚，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US