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本发明的技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。一种用于并行波形分析的测试和测量系统获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。该系统...
该专利属于特克特朗尼克公司所有，仅供学习研究参考，未经过特克特朗尼克公司授权不得商用。

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