具有可去活的扫描电路的电路装置制造方法及图纸

具有若干功能块（ＦＢ１…ＦＢｎ）的电路装置，其中，每个功能块均与至少一个其它功能块相连，且该连接至少有一部分分别通过一个联锁元件（ＳＦＦ１…ＳＦＦｍ）来实现，所述联锁元件可通过激活线路（扫描允许）从正常模式切换到测试模式，并具有另一数据输入和输出端，该另一数据输入和输出端借助数据线路段（ＤＬ１…ＤＬ１）如此地相互连接，使得所述联锁元件（ＳＦＦ１…ＳＦＦｍ）形成一种实现扫描电路的写寄存器。沿着所述的激活线路（扫描允许）和／或数据线路段（ＤＬ１…ＤＬ１）至少布置一种可电编程的保护元件（ＳＥ），该保护元件将相关的线路断开，或将其与一个确定的电位相连。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有若干功能块的电路装置，其中，每个功能块均与至少一个其它功能块相连，而且该连接至少有一部分通过联锁元件来实现，所述联锁元件可通过激活线路从正常模式切换到测试模式，并具有另外一个数据输入和输出端，该另外一个数据输入和输出端借助数据线路段如此地相互连接，使得所述联锁元件形成一种实现扫描电路的写寄存器。US 4,534,028曾公开过这种电路装置。其中讲述的、在电路装置中实现的扫描电路被用来简单地测试该电路装置的功能块，因为通过可与写寄存器互连的、在此被构造为触发器的联锁元件，可以在确定的时间点上给各个功能块加上确定的输入状态，而且存放于联锁元件内的中间结果可通过该写寄存器重新读出。在此，功能块应该是一种执行某种可测试的功能的电路单元。某些形式的电子电路，譬如用于芯片卡的电路对电路信息及芯片内部数据(例如用于密码方法的密钥)需要有较高程度的保密性。必须防止这种与安全有关的信息遭到外来分析和干扰操作。同时，针对这些与安全有关的电路块及数据，电路设计需要有一个最低程度的透明度和访问，以便通过测试来确保足够的可靠性。为了在生产期间或之后确保较高程度的测试保护，经常在电子电路中附加地集成了一些测试元件，譬如上述的扫描电路，这些测试元件可以将功能块置成几乎所有所需的状态，以便根据其功能性对其进行检验。在此，为测试而添加的元件通常由中央测试控制器进行激活或去活。而该测试控制器则通过特殊的测试管脚由软件或外部信号激活。两种方案都比较容易被干扰操作，由此形成了潜在的危险性。为此，迄今用于提高集成电路的可分析性的方法与目前对特殊电子构件所要求的高安全性是相互矛盾的。我们还已知，在测试或首次投入运行之后，电路装置的特殊功能块同其余电路的分开是不可逆的。为此，申请DE 197 11 478.4曾讲述过，测试ROM只能通过不可逆调的多路转换器读出，由此避免在测试后对测试ROM进行访问。DE 27 38 113 A1曾公开过利用可损坏的入口来不可逆地阻止对具有与安全性或功能有关的内容的存储器进行访问。然而这些已知的装置有个缺点，就是所述不可逆调或可损坏的电路元件布置在容易发现的地方，而且可较容易地“修复”，由此可能实现各种分析及干扰操作。因此，本专利技术的任务在于，对文章开头所述的电路装置进行改进，使得几乎不可能借助扫描电路进行滥用的分析。该任务由权利要求1所述的电路装置来实现。优选扩展方案由从属权利要求给出。扫描电路的联锁元件分布在整个芯片平面上。由此，激活线路和由数据线路段组成的数据线路也经过整个芯片平面。而保护元件由此是分散地分布在芯片平面上，使得防止“侵害”的安全性极高。此外，通过适当地选择工艺，可为防止保护元件的再编程实现极高的安全性。在DE 196 04 776 A1中曾给出过这种保护元件的例子。选择不同的保护元件作为可断或可生成的线路段，也即作为“熔断器”或“反熔断器”，这样可以提高安全性，因为“入侵者”不会立即知道究竟采用了哪类元件。也可以优选地采用该两种类型。另外，还可以通过联系逻辑门来使用所述的保护元件，以便通过规定其输入端的电位来将其功能定义为断开或闭合的开关。下面参考附图并借助实施例来阐述本专利技术。其中附图说明图1示出了本专利技术的电路装置，以及图2示出了用于保护元件的实施例。图1所示的电路装置示出了功能块FB1…FBn，它们直接或通过连接元件SFF1…SFFm彼此相连。在此，功能块同一个或多个其它的功能块相连。而且此处的连接可直接或通过连接元件来实现。所述连接元件SFF1…SFFm通常被构造为特殊的触发器-所谓的扫描触发器。此外，连接元件SFF1…SFFm还可通过激活线路“扫描允许”从正常工作状态切换到测试工作状态，在所述正常工作状态下，连接元件负责将功能块的输出端接通到下一功能块的输入端。该连接元件为测试工作状态还设有另一输入和输出端。通过该另一输入和输出端，所述连接元件借助划线示出的数据线路段DL1…DL1被相互连接到写寄存器上。因此，在测试状态下，数据能够通过写寄存器的输入端“扫描输入”而装入到连接元件SSF1…SSFm之中，以便通过切换至正常工作状态、并借助单个的时钟脉冲给功能块FB1…FBn加上事先装在写寄存器内的数据。功能块FB1…FBn的输出数据被装载到后接在每个功能块上的连接元件之中，通过切换至测试模式，这些数据可以通过写寄存器及其输出端“扫描输出”被读出。利用这种扫描电路，每个功能块FB1…FBn都可置为任何一种状态，并单个进行测试。在本专利技术的方法中，在激活线路“扫描允许”和接有连接元件SSF1…SSFm的数据线路DL1…DL1内均装设有保护元件SE。如图2所示，这些保护元件可实施为断路保护器“熔断器”，或实施为可生成的连接“反熔断器”，后者譬如可以作用为短路接地，或将线路固定地与供电电压相连，作为另外一种具有该性能的可能性，所述保护元件也可以与逻辑门联系在一起，以便联锁成固定的功能。这些保护元件SE分散地分布在整个芯片面上，在测试之后，它们可简单地断开或短路掉激活线路“扫描允许”及数据线路段D1…D1，并由此断开或短路掉所述的扫描电路。权利要求1.具有若干功能块(FB1…FBn)的电路装置，其中，每个功能块均与至少一个其它功能块相连，而且该连接至少有一部分分别通过一个联锁元件(SFF1…SFFm)来实现，所述联锁元件可通过激活线路(扫描允许)从正常模式切换到测试模式，并具有另一数据输入和输出端，该另一数据输入和输出端借助数据线路段(DL1…DL1)如此地相互连接，使得所述联锁元件(SFF1…SFFm)形成一种实现扫描电路的写寄存器，其特征在于沿着所述的激活线路(扫描允许)和/或数据线路段(DL1…DL1)至少布置一种可电编程的保护元件(SE)，该保护元件将相关的线路断开，或将其与一个确定的电位相连。2.如权利要求1所述的电路装置，其特征在于至少一个保护元件(SE)为电可断的线路段(熔断器)，且被布置在所述的相关线路之中。3.如权利要求1或2所述的电路装置，其特征在于至少一个保护元件(SE)为电可生成的线路段(反熔断器)，并被布置在所述的相关线路和所述的确定电位之间。4.如上述权利要求之一所述的电路装置，其特征在于至少一个保护元件(SE)是利用一种布置在所述相关线路中的逻辑门组成，且该逻辑门的第二个输入端可以借助电可断或电可生成的线路段被不可逆地置为一个确定的电位，由此禁止该逻辑门。全文摘要具有若干功能块(FB1…FBn)的电路装置,其中,每个功能块均与至少一个其它功能块相连,且该连接至少有一部分分别通过一个联锁元件(SFF1…SFFm)来实现,所述联锁元件可通过激活线路(扫描允许)从正常模式切换到测试模式,并具有另一数据输入和输出端,该另一数据输入和输出端借助数据线路段(DL1…DL1)如此地相互连接,使得所述联锁元件(SFF1…SFFm)形成一种实现扫描电路的写寄存器。沿着所述的激活线路(扫描允许)和/或数据线路段(DL1…DL1)至少布置一种可电编程的保护元件(SE),该保护元件将相关的线路断开,或将其与一个确定的电位相连。文档编号H01L27/04GK1320214SQ99811453 公开日2001年10月31日 申请日期1999年9月28日 优先权本文档来自技高网...

【技术保护点】
具有若干功能块（ＦＢ１…ＦＢｎ）的电路装置，其中，每个功能块均与至少一个其它功能块相连，而且该连接至少有一部分分别通过一个联锁元件（ＳＦＦ１…ＳＦＦｍ）来实现，所述联锁元件可通过激活线路（扫描允许）从正常模式切换到测试模式，并具有另一数据输入和输出端，该另一数据输入和输出端借助数据线路段（ＤＬ１…ＤＬ１）如此地相互连接，使得所述联锁元件（ＳＦＦ１…ＳＦＦｍ）形成一种实现扫描电路的写寄存器， 其特征在于： 沿着所述的激活线路（扫描允许）和／或数据线路段（ＤＬ１…ＤＬ１）至少布置一种可电编程的保护元件（ＳＥ），该保护元件将相关的线路断开，或将其与一个确定的电位相连。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：H帕尔姆，M斯默拉，S瓦尔斯塔布，
申请(专利权)人：因芬尼昂技术股份公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]