【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】下文涉及诊断成像技术。本专利技术特别涉及用于短孔(short-bore)磁共振成像扫描器的磁场梯度线圈,并将结合本专利技术的特定参考描述本专利技术。然而,下文更为广泛地涉及用于各种类型磁共振成像扫描器的磁场梯度线圈,并涉及用于对减小的关注体积成像的专用梯度线圈。在磁共振成像系统中,通常在成像区域内产生磁场梯度以实现磁共振的空间编码。这些梯度是由一组磁场梯度线圈产生的。通常提供梯度线圈,用于在每个横向的x和y方向以及轴向的z方向上产生独立的磁场梯度。对于各种应用,例如在短孔磁共振成像扫描器内产生梯度,或者在缩小的视场(FoV)上产生专用的局部梯度以成像特定器官,理想的是采用相对更短的梯度线圈。将梯度线圈调整到缩小的长度而同时保持高的梯度峰值振幅和线性以及孔直径时,线圈匝被压缩得愈加靠近线圈末端。此外,在周围冷屏内感应的涡流引起的成像失真和假象变得更成问题。此外,适应的或变化的视场梯度线圈要求采用特定的磁共振扫描器或磁场梯度线圈组,以用于更大范围的应用。本专利技术设想出克服前述局限性及其它局限的一种改进的装置和方法。根据一个方面,公开了用于磁共振成像装置的梯度线圈。初级 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员:S·M·什瓦特斯曼,M·A·莫里奇,G·D·德梅斯特,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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