一种内存功耗测试装置、系统及其应用方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内存功耗测试装置、系统及其应用方法，本发明专利技术装置包括带有内存槽和金手指的内存转接板，内存转接板为多层PCB板，内存转接板上设有用于走高速信号的第一层和用于作为高速信号的参考平面的第二层，第一层的每一根信号走线直接连接在内存槽和金手指上的信号端子之间，第二层的每一根信号走线至少一侧放置电容，该电容串联于内存槽和金手指的信号参考平面之间，且内存槽和金手指的信号参考平面之间串联有电阻，电阻两端分别连接有测试信号输出端子。本发明专利技术可单独检测出内存条功耗、以便将内存控制器和内存条功耗分开，而且采用了电容的交流耦合的方法去解决参考平面不连续问题，同时又能满足直流电源只能从电阻通过的设计需求。

【技术实现步骤摘要】
一种内存功耗测试装置、系统及其应用方法
本专利技术属于计算机部件的功耗测试技术，具体涉及一种内存功耗测试装置、系统及其应用方法。
技术介绍
芯片功耗测试是芯片测试重要组成。在通用的PC机、服务器以及其它高端控制系统中，内存功耗由芯片内存控制器和内存条两部分组成。通用的测试方法是只在系统的主板上制作测试点，进行整个内存系统（内存控制器和内存条）的功耗测试，而不能将内存条和内存控制器分开进行功耗测试。而对于芯片厂商而言，内存控制器的功耗是芯片功耗的重要组成部分，是一项重要的技术指标。通用CPU或者带内存控制器的芯片，往往需要测试内存部分的功耗情况，以确认总芯片的功耗。但是因为内存条与内存控制器通常共用一个电源系统，测试设备只能测试芯片控制器和内存条的总功耗，不能将芯片控制器和内存条的各自功耗测试出来。因此，如何将内存控制器和内存条功耗分开，已成为一项亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题：针对现有技术的上述问题，提供一种内存功耗测试装置、系统及其应用方法，本专利技术可单独检测出内存条功耗、以便将内存控制器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内存功耗测试装置，其特征在于，包括带有内存槽（11）和金手指（12）的内存转接板（1），所述内存转接板（1）为多层PCB板，所述内存转接板（1）上设有用于走高速信号的第一层和用于做高速信号的参考平面的第二层，所述第一层的每一根信号走线直接连接在内存槽（11）和金手指（12）上的信号端子之间，所述第二层的每一根信号走线至少一侧放置有电容，该电容串联于内存槽（11）和金手指（12）的信号参考平面之间，且内存槽（11）和金手指（12）的信号参考平面之间串联有电阻，所述电阻两端分别连接有测试信号输出端子。/n

【技术特征摘要】
1.一种内存功耗测试装置，其特征在于，包括带有内存槽（11）和金手指（12）的内存转接板（1），所述内存转接板（1）为多层PCB板，所述内存转接板（1）上设有用于走高速信号的第一层和用于做高速信号的参考平面的第二层，所述第一层的每一根信号走线直接连接在内存槽（11）和金手指（12）上的信号端子之间，所述第二层的每一根信号走线至少一侧放置有电容，该电容串联于内存槽（11）和金手指（12）的信号参考平面之间，且内存槽（11）和金手指（12）的信号参考平面之间串联有电阻，所述电阻两端分别连接有测试信号输出端子。


2.根据权利要求1所述的内存功耗测试装置，其特征在于，所述内存转接板（1）为四层PCB板。


3.根据权利要求1所述的内存功耗测试装置，其特征在于，所述第一层为内存转接板（1）的表层。


4.根据权利要求1所述的内存功耗测试装置，其特征在于，所述第二层为内存转接板（1）的内层。


5.根据权利要求1所述的内存功耗测试装置，其特征在于，所述电容的电容值为0.1uf...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾维，邓博文，王海波，卢旭东，王晓东，
申请(专利权)人：天津飞腾信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12