一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，所述探针排结构包括测试平台，所述测试平台上并排安装有多个探针单元，所述测试平台上开有若干孔洞以容纳探针单元穿过并固定；所述探针排结构还包括铜条，所述铜条上开有孔，所述孔的位置与各探针单元一一对应，所述探针单元的顶部去除探针头，插入至所述铜条上的孔中，接触位置通过焊接方式固定连接。该探针排结构，能够有效的确保测试端和硅片的接触性，确保测试时电流、电压的稳定，可以兼容常规5BB、9BB等多主栅电池片，减少更换探针的次数和数量。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构
本技术涉及新型MWT太阳能电池的IV测试
，尤其是一种应用于主栅电池片IV测试的探针排结构。
技术介绍
太阳能光伏组件由于其节省能源、降低污染等特性，使其使用越来越广泛。太阳能产业的蓬勃发展，产业自动化水平逐渐提高，整个机台稼动率和机台产出率成为工厂降本提效的关键。在太阳能电池片生产过程中IV测试是必须的一个环节，现有技术在MWT测试分选时，先对MWT电池片前后左右以及旋转角度进行定位，然后通过皮带将电池片传送至测试平台，上台面上升，作为电池片的承载平台，同时上台面产生真空吸附作用，将电池片吸附住固定在上台面上；接着下台面的测试探针上升，穿过上台面的孔洞与电池片正负电极点有效接触，从而测量电池片电性能。该测试装置是电池片的下表面与上台面有效接触，利用上台面产生的真空吸附电池片，下台面探针上升进行电性能测量，故探针排需要准确的对应各极点。探针排是通过探针和电池片接触电池片来测量电池片的各种电性能参数，由于长时间的接触和运行探针针头出现磨损导致接触不良，测试结果不稳定；而且在生产不同产品时会有不同的需求，IV测试的探针排针对不同产品需要重新设计安装，如5BB、9BB等多主栅电池片对IV测试探针排的密度要求有所区别，探针排无法做到通用，在测试时需不停更换探针排以匹配不同型号的多主栅电池片的检测，更换探针排、安装、对准等过程大大延长了测试时间，增加了探针的耗材成本，也降低了测试的准确性。
技术实现思路
为了解决上述
技术介绍
中的问题，本技术的目的是提供一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，会有效的确保测试端和硅片的接触性，确保测试时电流、电压的稳定，可以兼容常规5BB、9BB等多主栅电池片，减少更换探针的次数和数量。本技术一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，所述探针排结构包括测试平台，所述测试平台上并排安装有多个探针单元，所述测试平台上开有若干孔洞以容纳探针单元穿过并固定；所述探针排结构还包括铜条，所述铜条上开有孔，所述孔的位置与各探针单元一一对应，所述探针单元的顶部去除探针头，插入至所述铜条上的孔中，接触位置通过焊接方式固定连接。进一步的，所述铜条上与开孔面相对的面与硅片的极点位置相接触。作为一种优选，所述铜条的尺寸为170mm*2mm*4mm，开孔面位于170mm*2mm的侧面上，孔深为1.5mm，孔径为1.2mm。为了只用方便且避免检测人员受伤，所述铜条两端打磨成圆弧面。更进一步的，所述探针单元中设有使探针能够从孔洞中弹出的弹性结构。有益效果：本技术通过铜条与硅片上的电极点相接触，减少了探针头与电极点直接接触，有效的确保测试端和硅片的接触性，确保测试时电流、电压的稳定。铜条接触面大，可以兼容常规5BB、9BB等多主栅电池片，减少更换探针的次数和数量，降低探针的耗材成本和提高机台的稼动时间。铜条接触的形式，使用方便，使用时只需要定期用细砂纸对铜条和硅片的接触面进行打磨，去除氧化层和脏污，保证铜条和硅片有良好的接触性。附图说明图1至图3为本技术中所采用的铜条结构示意图；图4、图5为本技术应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构示意图；图中，1-探针单元，2-铜条，3-孔。具体实施方式下面结合附图对本技术进行详细说明：如图1至5所示，本技术提供一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，所述探针排结构包括测试平台，所述测试平台上并排安装有多个探针单元1，所述测试平台上开有若干孔洞以容纳探针单元1穿过并固定；所述探针排结构还包括铜条2，所述铜条2上开有孔3，所述孔3的位置与各探针单元1一一对应，所述探针单元1的顶部去除探针头，插入至所述铜条2上的孔3中，接触位置通过焊接方式固定连接。进一步的，所述铜条2上与开孔3面相对的面与硅片的极点位置相接触。作为一种优选，所述铜条2的尺寸为170mm*2mm*4mm，开孔3面位于170mm*2mm的侧面上，孔3深为1.5mm，孔3径为1.2mm。为了只用方便且避免检测人员受伤，所述铜条2两端打磨成圆弧面。更进一步的，所述探针单元1中设有使探针能够从孔3洞中弹出的弹性结构。本方案的制作过程为：①探针排上插满探针，并剪掉探针头；②准备长度170mm*2mm*4mm铜条2，在170mm*2mm的面，用钻头打出直径1.2mm的孔3，孔3深1.5mm，位置间距和探针相同；③将去掉针头的探针插入铜条孔3中，接触位置用焊锡焊接，防止松动；④将铜条2170mm*2mm(非打孔面）的面，打磨成平面，两侧棱角位置打磨成圆弧面。使用时定期用细砂纸对铜条2和硅片的接触面进行打磨，去除氧化层和脏污，保证铜条2和硅片有良好的接触性。探针只在探针的弹性出现异常时进行更换。本专利是在生产常规主栅电池片时，无论多少根主栅和对探针密集度要求是多少的情况下，可以做到通用。同时可以减少探针的更换次数，降低探针的耗材成本和提高机台的稼动时间。上述仅为本申请的较佳实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，其特征在于，所述探针排结构包括测试平台，所述测试平台上并排安装有多个探针单元，所述测试平台上开有若干孔洞以容纳探针单元穿过并固定；/n所述探针排结构还包括铜条，所述铜条上开有孔，所述孔的位置与各探针单元一一对应，所述探针单元的顶部去除探针头，插入至所述铜条上的孔中，接触位置通过焊接方式固定连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，其特征在于，所述探针排结构包括测试平台，所述测试平台上并排安装有多个探针单元，所述测试平台上开有若干孔洞以容纳探针单元穿过并固定；
所述探针排结构还包括铜条，所述铜条上开有孔，所述孔的位置与各探针单元一一对应，所述探针单元的顶部去除探针头，插入至所述铜条上的孔中，接触位置通过焊接方式固定连接。


2.根据权利要求1所述的一种应用于多主栅电池片IV测试的探针排结构，其特征在于，所述铜条上与开孔面相对的面与硅片的极点位置相接触。
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【专利技术属性】
技术研发人员：张顺超，李克阁，
申请(专利权)人：徐州谷阳新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32