一种高温电阻率的测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种高温电阻率的测试装置及其测试方法，属于材料测试设备领域。本发明专利技术的测试装置包括测试夹具（１），温控加热炉（２），高阻计（３），屏蔽机构（４），电源（５），其中电源（５）分别连接高阻计（３）和温控加热炉２，高阻计（３）连接电极测试台（１）检测电阻，屏蔽机构（４）罩于测试夹具（１）内部和外部。本发明专利技术的测试方法包括准备电阻的检测装置；测试夹具的校准；待测样品的准备；屏蔽装置接地；高阻计的测量和计算电阻率等步骤。本发明专利技术的测量装置和测试方法能对室温电阻率较高（＞１０↑［１２］Ω.ｃｍ）的材料进行高温（ＲＴ～８００℃）电阻率测量，结构简单，使用方便，具有较高的可靠性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，属于材料测试设备领域。
技术介绍
电阻率是评价电介质材料特别是铁电陶瓷材料高低温绝缘性能的一个极其重要的指标，它对相关器件的可靠性起着决定性的作用；测试夹具的好坏与否是高低温电阻参数测试准确的关键。按现行标准要求，部分瓷介电容器(GJB1522-92、GJB1313-91等)要求测量高温绝缘电阻；按实际应用要求，高温压电陶瓷要求测量高温电阻率。因此，根据测试要求，在夹具设计时要求在测试温度范围内其空载绝缘电阻＞1×1014Ω。但是，由于测试夹具本身漏电和内外干扰信号的影响，在测量室温电阻率较高的电介质材料的电阻时很容易产生较大的误差。所以，在测量高绝缘电阻材料时为了提高测量的准确度，除了提高测试夹具的空载绝缘电阻外，还必须消除或减小内外干扰信号的影响。目前的测量设备或装置在测量电介质材料在室温附近的电阻率尚能满足测试要求；但是在测量高温电阻率时由于测试夹具的空载绝缘电阻随着温度的升高而下降，且消除处于高温环境下的样品的干扰信号也存在一定的问题，所以目前的测试装置还无法实现较高温度(＞200℃)，特别是高温(～800℃)电阻率的测量。因此为满足实际应用的要求，迫切需本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高温电阻率的测试装置，包括测试夹具（１），温控加热炉（２），高阻计（３），屏蔽机构（４），电源（５），其特征在于：　　　　电源（５）分别连接高阻计（３）和温控加热炉２，高阻计（３）连接电极测试台（１）检测电阻，屏蔽机构（４）罩于测试夹具（１）内部和外部。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：董显林，周志勇，曹菲，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]