【技术实现步骤摘要】
一种集成IC的MOS管RDSON值测试电路
本技术属于集成IC的测试技术,尤其涉及一种集成IC的MOS管RDSON值测试电路。
技术介绍
MOS管,具有阻抗高、噪声低、热稳定性好一系列优点使得在很多邻域被广泛使用,当然,对MOS各类参数的精准度也跟着提高,其中MOS的导通电阻是在不断的降低,减少管子的损耗,过大的导通内阻会导致功率过大,可能存在烧管子的情况,所以厂家在测试MOS管时,导通电阻RDSON都是被很注重的参数项。在集成IC出厂前,需要进行各项测试。对于含有MOS管的集成IC,对其MOS管的测试就是其中一项。一般测试MOS管的方法就是直接向管子的漏极加电压或是灌电流使得管子导通,然后结合测试机的电压源或电流源进行电压、电流测试、输出,但是管子的压降在mV级别,甚至在uV级别,测试机在测试时必定存在一定的误差,这样计算出的内阻也会存在误差。在现有技术中,终端产品出厂前进行导通电阻RDSON值测试基本是不精确的,很大一部分会影响判断MOS管的损耗。
技术实现思路
为解决现有技术不足,本技术 ...
【技术保护点】
1.一种集成IC的MOS管RDSON值测试电路,其特征在于,包括仪表放大器和调节电阻,其中:/n调节电阻设于仪表放大器的第一引脚J与第八引脚J之间;/n仪表放大器的第四引脚V-和第七引脚V+分别接-15V和+15V;/n仪表放大器的第二引脚VIN-通过开关AK1-A连接集成IC的CS端,第三引脚VIN+通过开关AK1-C连接集成IC的DRAIN端;/n仪表放大器的第六引脚VOUT通过开关连接测试源,测试源用于获得仪表放大器的放大输出结果;/n仪表放大器的第五引脚REF接AGND。/n
【技术特征摘要】
1.一种集成IC的MOS管RDSON值测试电路,其特征在于,包括仪表放大器和调节电阻,其中:
调节电阻设于仪表放大器的第一引脚J与第八引脚J之间;
仪表放大器的第四引脚V-和第七引脚V+分别接-15V和+15V;
仪表放大器的第二引脚VIN-通过开关AK1-A连接集成IC的CS端,第三引脚VIN+通过开关AK1-C连接集成IC的DRAIN端;
仪表放大器的第六引脚VOUT通过开关连接测试源,测试源用于获得仪表放大器的放大输出结果;
仪表放大器的第五引脚REF接AGND。
2.根据权利要求1所述的集成IC的MOS管RDSON值测试电路,其特征在于,仪表放大器为INA128。
3.根据权利要求1所述的集成IC的MOS管RDSON值测试电路,其特征在于,集成IC为内部含有MOS管的集成IC,集成IC的CS端对应其内部MOS管的漏极,集成IC的DRAIN端对应其内部MOS管的源极。
4.根据权利要求1所述的集成IC的MOS管RDSON值...
【专利技术属性】
技术研发人员:王小梅,
申请(专利权)人:四川明泰电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:四川;51
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