一种测试装置，包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括：操作顺序保持件，用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息；触发返回信号接收件，用于当第一测试模块之测试操作已完成，接收从第一测试模块来之触发返回信号，触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号，提供触发信号至第二测试模块，触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测试装置，且特别涉及一种包括多个选择性地装设有多种测试模块的测试模块槽之测试装置。
技术介绍
一种用于执行在测试中的设备之模拟测试的测试装置，此测试装置通过允许测试模块产生与提供测试信号至在测试中的设备以及其它测试模块测量从在测试中的设备而来的输出信号而执行测试。为了实现这样的测试模块之操作，当基于决定例如测试模块之操作顺序的测试顺序之测试程序而提供触发信号给它们时，此测试装置同步地控制测试模块。近来，发展出一种测试装置，其包括多个测试模块槽，这些测试模块槽分别选择性地装设有用于产生不同种类测试信号而测试在测试中的设备之不同种类的测试模块。在这样的测试装置中，既然分别地装设至多个测试模块槽的测试模块是选择性地被改变，且测试模块之测试操作所需的时间彼此不同，则不可避免地需要关连于每当测试模块被改变时测试模块之装设位置或组合的测试程序，且必须为极端困难之测试准备程序。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的就是提供一种测试装置，其能够克服伴随公知技术的上述缺点。上述与其它目的可通过独立权利要求所描述的组合而达成。从属权利要求定义本专利技术的进一步优点与范例组合。根据本专利技术之第一方面，一种测试装置，包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括操作顺序保持件(operation order holding means)，用于保持指示这些测试模块中的第一测试模块在这些测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操作的信息；触发返回信号接收件，用于当第一测试模块之测试操作已完成，接收从第一测试模块来之触发返回信号，此触发返回信号指示第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当触发返回信号接收件接收触发返回信号时，提供触发信号至第二测试模块，此触发信号指示第二测试模块应开始其测试操作。第一测试模块可为任意波形调整器，用于产生与提供任意模拟波形至测试中的该设备，第二测试模块可为相位特性测试器，用于接收测试中的该设备回应任意波形调整器所提供之模拟波形而输出的模拟波形，并测试模拟波形之相位特性，操作顺序保持件可保持指示任意波形调整器执行模拟波形之提供操作至测试中的该设备后，相位特性测试器应执行从测试中的该设备之模拟波形的接收操作的信息，触发返回信号接收件可接收从任意波形调整器来的触发返回信号，当任意波形调整器在模拟波形的预设时间内已完成提供操作，触发返回信号指示任意波形调整器已完成提供操作，以及触发信号提供件可提供触发信号至相位特性测试器，当触发返回信号接收件接收触发返回信号时，触发信号指示相位特性测试器应开始模拟波形从测试中的该设备之接收操作。触发返回信号接收件与触发信号提供件可为多任务器电路用以从每一个测试模块获得每个触发返回信号，选择从第一测试模块获得之触发返回信号之一，以及提供被选择的触发返回信号至第二测试模块做为触发信号，以及操作顺序保持件可为触发器电路，用以保持选择信号，以控制多任务器电路选择触发返回信号。第一测试模块可平行执行第一与第二测试操作，操作顺序保持件可保持指示第二测试模块之测试操作应被执行于第一测试模块之第一测试操作之后的信息，以及指示多个测试模块中第三测试模块之测试操作应被执行于第一测试模块之第二测试操作之后的信息，在第一测试模块之第一测试操作已完成时，触发返回信号件可从第一测试模块接收第一触发返回信号，第一触发返回信号指示第一测试模块已完成第一测试操作，并在第一测试模块之第二测试操作已完成时，从第一测试模块接收第二触发返回信号，第二触发返回信号指示第一测试模块已完成第二测试操作，以及当触发返回信号接收件接收第一触发返回信号时，触发信号提供件可提供第一触发信号至第二测试模块，第一触发信号指示第二测试模块应开始它的测试操作，并在触发返回信号接收件接收该第二触发返回信号时，提供第二触发信号至第三测试模块，第二触发信号指示第三测试模块应开始它的测试操作。上述
技术实现思路
并不必须叙述本专利技术的所有必要特征。本专利技术也可为上述特征的子组合。为让本专利技术之上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。附图说明图1为一范例之系统方框图。图2为一范例之测试头布局用于4DUT测试。图3.1为一范例之系统同步方框图。图3.2为一范例之ASYNC模块方框图。图4.1为一范例之RF承载板的示意图。图5.1为一范例之RF仪器显示用于4DUT平行测试之模块。图5.2为一范例之VSA/VSG模块。图5.3为一计算结构VSA/VSG总线连接。图5.4为一范例之RFCOM模块方框图。图5.5为一范例之RFDIST方框图。图5.6为一范例之RFFE(RF前端)方框图。图5.7为一范例之RFMTX方框图。图5.8为一范例之4DUTs连续DUT数字化的时间分析。图6.1为一范例之BBFE模块方框图。图7.1为一范例之BBWG/D方框图。图8.1为一范例之AVWG/D方框图。图9.1为一范例之表示DCAP与DAW之250M数字模块的方框图。图10表示关连于本专利技术一实施例之范例的测试装置100之架构。图11表示关连于本实施例之范例的测试装置100之详细架构。图12表示关连于本实施例之范例的测试装置100之操作顺序。图13表示关连于本实施例之范例的触发矩阵206之架构。主要元件标记说明100测试装置102总控制装置104站台控制装置106模拟同步电路控制单元108数字同步控制单元110模拟测试模块110a任意波形调整器110b相位特性测试器112数字测试模块112a图形产生器120测试中的设备200参考时脉产生单元202可变时脉产生单元204时脉矩阵206触发矩阵400触发控制模块402多任务器电路 404优先序编码器406触发器电路具体实施方式1.介绍本专利技术涉及一组测试头模块，设计用以当设置在例如半导体测试联盟(Semiconductor Test Consortium，STC)开放半导体测试架构(OPENSTAR)顺应式测试系统之系统的测试头时，执行射频(Radio Frequency，RF)与混合信号/模拟测试。这些模块设计用以能够测试包括但不局限下列设备无线局域网络(W-LAN)、手机、音频(audio)、视频(video)、盘片机(disk drive)、高分辨率电视(HDTV)、多样化数字光盘(DVD)以及其它RF、模拟与混合信号集成电路。在此所描述之测试头模块包括异步(ASYNC)模拟同步(Analog Sync)RF模块VSA/VSG向量信号分析器/向量信号产生器(Vector SignalAnalyzer/Vector Signal Generator)RFCOM RF共享(RF Common)RFDIST RF分布(RF Distribution)RFFE RF前端(RF Front End)RFMTX RF开关阵列(RF Switch Matrix)RFPA RF功率放大器(RF Power Amplifier)AVWG/D 影音波形产生器/数化器(Audio Video Waveform Generator/Digitizer)BBWG/D 基础频带波形产生器/数化器 (Base Band W本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试装置，其特征是包括多个测试模块槽，用于对测试中的设备进行测试的多种测试模块选择性地装设于其中，包括：操作顺序保持件，用于保持指示上述多个测试模块中的第一测试模块在上述多个测试模块中的第二测试模块进行测试操作前所应执行之测试操 作的信息；触发返回信号接收件，用于当该第一测试模块之测试操作已完成时，接收从该第一测试模块来之触发返回信号，该触发返回信号指示该第一测试模块已完成其测试操作；以及触发信号提供件，用于当该触发返回信号接收件接收该触发返回信号， 提供触发信号至该第二测试模块，该触发信号指示该第二测试模块应开始其测试操作。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：稻叶健司，宫崎将司，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]
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