本发明专利技术涉及一种评测基板上的金属沉积物表面出现晶须风险的方法，其中该金属沉积物为纯金属沉积物或者合金沉积物，该方法是测量该金属沉积物的电化学阻抗。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
一种测评基板上的金属沉积物表面出现晶须风险的方法，其中该金属沉积物为纯金属或者合金沉积物，该方法是测量该金属沉积物的电化学阻抗。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：大卫芒雄，斯蒂文梅纳尔，
申请(专利权)人：微脉冲电镀概念公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]
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