记录介质检测系统技术方案

一种记录介质检测系统，包括：　　　　磁场产生单元，用于在预定特定区域内产生交变磁场；　　　　靠近所述特定区域设置的检测单元，用于检测不小于预定磁通量密度差Ｂ２的磁通量密度变化；　　　　　记录介质，包含多个由磁性材料制成并且形成为具有预定长度的线状的磁性线，在施加交变磁场的时候，这些磁性线会引发大巴克豪森效应；　　　　其中，在将记录介质放在所述特定区域内的时候，由检测单元在安装位置检测到的磁通量密度差Ｂ１不小于磁通量密度差Ｂ２。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种记录介质检测系统，并且更具体地涉及一种用于检测记录介质的记录介质检测系统。
技术介绍
近来，为防止信息泄漏而颁布了更多的法律法规，比如与私人信息保护、个人隐私保护标志(privacy mark)、信息安全相关的法律法规和其它一些法律法规。不过，因为印刷纸张非常容易带走和保藏，因而仍旧很难完全防止诸如印制在纸张上的隐私信息和机密信息这样的信息的泄漏。因此，急切需要有一种在保持记录纸张使用方便的同时防止记录在记录纸上的机密信息被泄漏的方法。 已经提出了各种各样的方法来解决这一问题。 例如，提出了一种限制将特定记录介质转移出管制区域的方法(例如，日本专利申请特开(JP-A)第2004-285524号)。 JP2004-285524A中公开的方法通过为记录介质加上磁性材料并且用安装在管制区域的入口或出口处的门装置对记录介质进行检测来防止记录介质被带出。 不过，JP2004-285524A的方法并没有规定在记录介质由用户携带着通过入口或出口时产生的磁通反转量，并且，因为各个记录介质包含任意量的磁性物质，所以通常难于由门装置检测到记录介质。 本专利技术的目的是给出一种可精确检测记录介质的记录介质检测系统。
技术实现思路
本专利技术是从上述情况出发而做出的，并且提供了一种记录介质检测系统。 根据本专利技术的一个方面，提供了一种记录介质检测系统，包括磁场产生单元，用于在预定特定区域内产生交变磁场；靠近所述特定区域设置的检测单元，用于检测不小于预定磁通量密度差B2的磁通量密度变化；记录介质，包含多个由磁性材料制成并且形成为具有预定长度的线状的磁性线，在施加交变磁场的时候，这些磁性线会引发大巴克豪森效应(large Barkhausen effect)；并且在将记录介质放在特定区域内的时候，由检测单元在安装位置处检测到的磁通量密度差B1不小于磁通量密度差B2。附图说明下面将根据附图详细介绍本专利技术的实施例，其中图1是用在根据本专利技术的记录介质检测系统中的记录介质的一个示例的示意图；图2A、2B和2C是示出了大巴克豪森效应的说明性图表；图3是示出了根据本专利技术的记录介质检测系统的结构的示意图；图4是示出了门装置的示意图；图5是示出了门装置的示意图；图6是示出了门装置的电子结构的示意图；图7A是示出了例1的特定区域中磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2的区域的示意图；图7B是示出了对比例1的特定区域中磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2的区域和磁通量密度变化量B1低于磁通量密度差B2的区域的示意图；图8包括示出了在示例和对比例中使用的记录介质的示意图；图9A是示出了对比例2的特定区域中磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2的区域或更大和磁通量密度差B1低于磁通量密度差B2的区域的示意图；图9B是示出了对比例3的特定区域中磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2或更大的区域和磁通量密度差B1低于磁通量密度差B2的区域的示意图；图10A是示出了双层记录介质的示意剖面图；以及图10B是示出了三层记录介质的示意剖面图。具体实施方式根据本专利技术的记录介质检测系统中的磁场产生单元在预定的特定区域内产生交变磁场。记录介质包含多个磁性线(magnetic wire)，这些磁性线由磁性材料制成并且形成为具有特定长度的线状，在施加交变磁场的时候，这些磁性线会造成大巴克豪森(Barkhausen)效应，当把这样的记录介质放到所述特定区域内时，在包含在记录介质中的磁性线的大巴克豪森效应的作用下，会在检测单元的安装位置处出现磁通量密度的变化，即，会出现磁通量密度差B1。 靠近特定区域设置的检测单元检测不到低于预定磁通量密度差B2的磁通量密度变化，而是仅能够检测到大小为B2或更多的磁通量密度差的磁通量密度变化。就是说，检测单元只有在其中的变化不低于磁通量密度差B2的时候才能检测到记录介质。 因为在将记录介质放在特定区域中时检测单元在安装位置检测到的磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2，所以在将记录介质放在特定区域内的时候检测单元检测到了记录介质。 这样，因为在将记录介质放在特定区域内时在安装位置由检测单元检测到的磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2，所以检测单元精确地检测到了记录介质。 当把特定区域分成多个区域并且将记录介质放在各个区域中时，由检测单元在各个安装位置检测到的磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2(检测单元可检测到的最低差值)。 这样，即使在把记录介质放在特定区域中分出的多个区域当中的任何一个分区内的时候，检测单元都能够精确地检测到记录介质。 检测单元可以包含靠近特定区域设置的脉冲检测单元和磁通量密度差检测单元，该脉冲检测单元检测在磁性材料的磁通量受到交变磁场反转时产生的磁通量反转脉冲，磁通量密度差检测单元根据由脉冲检测单元检测到的磁通量反转脉冲检测不低于磁通量密度差B2的磁通量密度变化。 因为记录介质包含多个磁性线，所以可以由脉冲检测单元检测到由包含在记录介质中的各个磁性线的大巴克豪森效应造成的磁通量反转脉冲；在将记录介质放在特定区域内的时候由记录介质造成的磁通量密度差是根据由脉冲检测单元检测到的多个通量反转脉冲确定的；并且磁通量密度差检测单元检测不低于磁通量密度差B2的磁通量密度变化。 通过调节下列因素中的至少一项，可以使磁通量密度差B1大于磁通量密度差B2，从而使得磁通量密度差B1变得大于磁通量密度差B2或更大包含在记录介质中的磁性线的数量、磁性线的长度和与磁性线长度方向垂直的方向上的截面宽度。 此外，磁性线在与长度方向垂直的方向上的截面优选地具有圆形形状，并且磁性线在长度方向上的长度与磁性线的直径的比值优选地是100或更大。 记录介质还可以包括纸制基材和包含磁性线的基材。 基材可以是多层的。 多层基材可以通过将磁性线散布在不包含磁性线的纸层之间来制备。 多层基材可以包括包含磁性线的纸层和将包含磁性线的纸层夹在中间的不包含磁性线的多个纸层。 记录介质可以包括纸制基材、包含磁性线的基材和涂层。 磁性线可以用绝缘层来覆盖。 绝缘层可以由气相沉积方法来形成。 磁性线的直径可以小于记录介质的厚度。 将首先介绍在根据本专利技术的记录介质检测系统中使用的记录介质的材料和层结构及其生产工艺。 如图1所示，用于在本专利技术中使用的记录介质10包含磁性线12和纸质基材14。记录介质10包含一个或更多个磁性线12。 根据本专利技术的记录介质并没有特殊的限制，只要它包含纸质基材14和磁性线12即可，但是可以根据需要包含其它各种不同的材料。用在本专利技术中的记录介质10可以仅仅包含纸质基材14和磁性线12，但是也可以根据需要具有处于基材表面上的涂层。 —基材和涂层—基材的层结构并没有具体限制，可以是单层或者2层或更多层的多层，但是实践中优选地是2或3层的结构。 当基材具有两层时，将磁性线12散布在交界区域内。另选地，当基材具有三层时，优选地将磁性线12散布在一个层内，该层夹在不包含磁性线12的其它两层之间。因为在基材是单层时，磁性线12处于基材表面附近，所以优选地要形成涂层来使存在于基材表面上的磁性线12从外面几乎看不见。 单层基材可以通过对包含原料纸14和磁性线12的原料进行片状成形处理来制备，并本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种记录介质检测系统，包括磁场产生单元，用于在预定特定区域内产生交变磁场；靠近所述特定区域设置的检测单元，用于检测不小于预定磁通量密度差B2的磁通量密度变化；记录介质，包含多个由磁性材料制成并且形成为具有预定长度的线状的磁性线，在施加交变磁场的时候，这些磁性线会引发大巴克豪森效应；其中，在将记录介质放在所述特定区域内的时候，由检测单元在安装位置检测到的磁通量密度差B1不小于磁通量密度差B2。2.根据权利要求1所述的记录介质检测系统，其中，当把特定区域分为多个区域并且将记录介质置于各个分区中时，在检测单元中在安装位置处检测到的磁通量密度差B1不低于磁通量密度差B2。3.根据权利要求1所述的记录介质检测系统，其中，检测单元还包括靠近所述特定区域设置的脉冲检测单元，用于检测在磁性材料的通量由交变磁场反转时产生的磁通量反转脉冲；和磁通量密度差检测单元，用于根据由脉冲检测单元检测到的磁通量反转脉冲检测不低于磁通量密度差B2的磁通量密度变化。4.根据权利要求1所述的记录介质检测系统，其中，预先对包含在记录介质中的磁性线的数量、长度和在与磁性线的长度方向垂直的方向上的截面...

【专利技术属性】
技术研发人员：山口昭治，黄田保宪，高桥邦广，布施真理雄，松田司，
申请(专利权)人：富士施乐株式会社，
类型：发明
国别省市：