线状物的三维测量装置和线状物的三维测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术的线状物的三维测量装置包括：对线状物进行拍摄的立体照相机(11)，隔着线状物位于立体照相机(11)的相向处的透过光照射构件(50)，以及获取线状物的三维形状的运算部，立体照相机(11)获取从透过光照射构件(50)照射光的线状物的透过光图像，运算部基于透过光图像获取线状物的三维形状。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】线状物的三维测量装置和线状物的三维测量方法
本专利技术涉及一种以立体(stereo)方式对导线(wire)、缆线(cable)等线状物测量形状的线状物的三维测量装置和线状物的三维测量方法。
技术介绍
作为利用两台照相机的视差测量三维位置的方法，之前以来利用的是立体方式的三维测量方法。这是如下方法，即，在视点不同的两个图像上找出想要测量的点的对应点，并根据各图像上的对应点及两台照相机的位置关系且通过三角测量的原理算出测量点的三维位置。所述立体方式中，找到各图像上的对应点的匹配处理(matchingprocess)是信息处理的负荷最大且最耗费成本的过程。因此，为了改进匹配处理已提出各种方法。日本专利特开平5-026640号公报(专利文献1)中记载了如下：关于一种通过立体方式进行的线状物的三维测量，作为半导体封装的外部引线的形状测量方法，在一图像中的外部引线像上取测量采样点，且将另一图像中的极、线(极线(epipolarline))与外部引线像的交点作为测量采样点的对应点。极线是将连结一图像的视点与测量点的直线投影到另一图像上而获得的直线，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种线状物的三维测量装置，其特征在于包括：/n立体照相机，对线状物进行拍摄；/n透过光照射构件，隔着所述线状物位于所述立体照相机的相向处；以及/n运算部，获取所述线状物的三维形状；/n所述立体照相机获取从所述透过光照射构件照射光的所述线状物的透过光图像，/n所述运算部基于所述透过光图像获取所述线状物的三维形状。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180330 JP 2018-0683261.一种线状物的三维测量装置，其特征在于包括：
立体照相机，对线状物进行拍摄；
透过光照射构件，隔着所述线状物位于所述立体照相机的相向处；以及
运算部，获取所述线状物的三维形状；
所述立体照相机获取从所述透过光照射构件照射光的所述线状物的透过光图像，
所述运算部基于所述透过光图像获取所述线状物的三维形状。


2.根据权利要求1所述的线状物的三维测量装置，其特征在于，
所述立体照相机获取未从所述透过光照射构件照射光而拍摄到的所述线状物的反射光图像，
所述运算部基于所述透过光图像及所述反射光图像获取所述线状物的三维形状。


3.根据权利要求1或2所述的线状物的三维测量装置，其特征在于，
所述立体照相机包含第一照相机及第二照相机，
在未从所述透过光照射构件照射光的状态下，获取使用所述第一照相机所拍摄到的所述线状物的第一反射光图像及使用所述第二照相机所拍摄到的所述线状物的第二反射光图像，
在从所述透过光照射构件向所述线状物照射光的状态下，获取使用所述第一照相机所拍摄到的所述线状物的第一透过光图像及使用所述第二照相机所拍摄到的所述线状物的第二透过光图像，
所述运算部使用所述第一反射光图像及所述第一透过光图像获取第一补充图像，
使用所述第二反射光图像及所述第二透过光图像获取第二补充图像，
使用所述第一补充图像及所述第二补充图像获取所述线状物的三维形状。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的线状物...

【专利技术属性】
技术研发人员：北井基善，佐藤稔久，
申请(专利权)人：仓敷纺绩株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP