三轴磁传感器的测试方法技术

本发明专利技术公开一种三轴磁传感器的校准方法，包括步骤：（１）产生零磁场空间；（２）置入被测三轴磁传感器于零磁场空间；（３）依次计算出被测三轴磁传感器三个方向的标准磁场值；（４）用步骤（３）得出的三个场强计算标准值ｃ依次对三轴磁传感器三个方向上的显示值进行校准，得到测试结果。不要求被测三轴磁传感器对准轴，因此在任一方向放置传感器，都可以进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量技术，尤其涉及在弱磁场矢量测量中对三轴磁传感器磁场强度的测试方法。
技术介绍
随着科技进步和现代工业的发展，在许多工业领域，弱磁场应用越来越广泛，由于对仪器仪表的技术指标要求不断提高，现有的测量标准已经不能适应现代技术发展的需要。在弱磁场(0.01nT～100000nT)测量中，三轴磁传感器应用非常广泛，准确地测试三轴磁传感器在实际工作中非常重要。但现有技术中仍缺乏有关三轴磁传感器测试的标准和规范，影响测试的一个重要问题是三轴磁传感器是矢量传感器，测量值的准确与否和测量中磁传感器的摆放位置和方向有很大的关系。即使测量角度偏差0.1度，磁传感器垂直向的偏差将达到0.2％，在实际测量中，位置的偏差往往在几度至十几度的范围内，测量误差很大。而矢量磁场测试系统是一个三坐标标准场发生系统，磁传感器也是一个三坐标系统，由于放置造成的偏差，使得这两个坐标系不能重叠，从而产生了测量误差。
技术实现思路
为了克服现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种，可有效地解决因磁传感器的摆放位置和方向不准，而产生的测量误差。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是本专利技术，包括以下本文档来自技高网...

【技术保护点】
三轴磁传感器的测试方法，包括以下步骤：（１）产生零磁场空间，即用数字表监视标准三轴磁传感器的三个输出值，调整零磁场电流，使得该标准三轴磁传感器的三个方向输出值均为零；（２）置入被测三轴磁传感器，即将被测三轴磁传感器置于由步骤（１）产生的零磁空间内；（３）用数字表监视被测三轴磁传感器的三个输出值，调整标准磁场电流，使得被测三轴磁传感器中的两个方向的磁场强度为零，根据线圈常数，通过下述公式计算出第三个方向的标准磁场值，再调整标准磁场电流，使得被测三轴磁传感器中的另两个方向的磁场强度为零，又计算出另一个第三个方向的标准磁场值，依次计算出三个方向的标准磁场值，＊＊＊其中：ａ↓［ｓｘ］为Ｘ轴上的标准场强...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵晓光，
申请(专利权)人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]