电位比较器制造技术

本发明专利技术是关于一种电位比较器，包括：输入配线３、４，用于输入从检查物件２所输出的差动信号；高阈值侧分压生成部５，从输入配线３、４分别取入差动信号，且生成输出根据设定的高阈值电位Ｖ↓［ＯＨ］及取入的差动信号的电位的分压，即第１分压及第２分压；高阈值侧电位比较器６，用于导出从高阈值侧分压生成部５所输出的第１分压、第２分压间的大小关系。高阈值侧分压生成部５包括第１分压生成部１６及第２分压生成部１７，分别生成第１分压与第２分压。其中，高阈值侧分压生成部５所生成的第１分压与第２分压的值使高阈值侧电位比较器６的第１分压、第２分压间的大小关系，对应于正信号.负信号间的电位差和高阈值电位间的大小关系。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术是关于一种对检查物件所输出的差动信号(differential signal)形 成时所需的一对信号间的电位差、以及所设定的阈值电位之间的大小关系 予以导出的电位比较器。
技术介绍
在习知技术中，已知有一种检测电子电路的特性等的检查装置。该检 查装置具体地具有对从作为检查物件的电子电路所输出的电气信号，利用 电位比较器与设定的阈值电压进行比较，并根据比较结果来判定电子电路 的好坏等的机能。因此，利用检查装置所进行的检查的可靠性较大地依存 于进行电位比较的电位比较器的比较精度，而构成检查装置的电位比较器 从检查的可靠性等观点来看，变得非常重要。然而，为了传送速度的高速化，耐杂讯性能的提高等，提出一种利用 所谓的差动传送方式的技术以取代此之前的单端式传送。差动传送方式为 一种利用2条传送线进行信号传送的技术，具体地说，是根据经由2条传 送线进行传送的2个电气信号间的电位差，进行High或Low的判定。与利 用这种差动传送方式的电子电路的增加相对应，在进行电子电路的特性检 查等检查装置的领域，也要求实现一种具有对应于差动传送方式的电位比 较器的检查装置。作为对应于差动传送方式的检查装置的一个例子，有一种对构成差动 信号的2个电气信号分别进行电位比较的构成的检查装置。但是，在采用 该构成的情况下，与对单端传送进行检查的情况相比，存在着所需的电位 比较器的个数增加的问题。而且，在对例如各个黾气信号混入了共通的杂 讯的情况下(亦即，在导出电气信号间的电位差时杂讯被消除，且从信号传 送的观点来看没有问题时的情况)，有可能在各个电气信号检测出传送错误， 会在检查的可靠性方面产生问题。因此，作为另外的检查装置的一个例子，已知有一种将所输入的电气 信号间的电位差导出用的类比减法电路予以内置，并对利用类比减法电路 所导出的差分信号，与单端信号进行相同的电位比较的构成。在采用该构 成的情况下，不会产生上述那样的问题，且具有能够沿用关于利用单端传 送方式的电子电路的电位比较器的技术等优点。而且，作为另外的检查装 置的一个例子，已知还有一种具有偏移加法部和 该偏移加法部使差动信号的一个电位同样地进行变化(偏移)，电位比较器将 变化后的一个电气信号和另一个电气信号进行比较(例如参照专利文献1)。专利文献1:日本专利特开平9-197018号公报但是，习知的检查装置具有构造复杂化的问题。亦即，作为类比减法 电路的具体的构成，特别是在减法物件的差动信号具有高速且宽幅的电位 变动范围的情况下，使良好地维着持线形性的减法器构成用的电子电路的 难度提高，且构造复杂化的可能性也高。而且，关于使差动信号的一个电位偏移的检查装置，在构造复杂化这 一点上也是同样的。亦即，从使偏移电压高度稳定化的观点来看， 一些回 馈机构是必需的，所以在习知的检查装置中，除了专利文献1的图2所述 的电路以外，需要另外的设置新的回馈机构等，与具有类比减法器的情况 同样地，使构造变得复杂化。而且，在利用了偏移加法部的检查装置中， 就像由专利文献1的图2中可明确得知者那样，偏移加法部是一种含有射 极随耦器(emitter follower)的构成，在输入信号高速化的情况下，也具有对 波形的上升.下降的回应变得非对称，以及关于形成构成要素的电晶体的电 气特性的非线形性对偏移电压的精度产生影响等问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是实现一种电位比较器，其鉴于上述问题而形成，借由 不利用类比减法电路等的单纯构成，而将形成差动信号的信号间的电位差 和设定的阈值电位之间的大小关系，高精度地予以导出。为了解决上述课题并达成上述目的，关于本专利技术的第1项的电位比较 器为一种将形成差动信号的第1信号、第2信号间的电位差和设定的阈值 电位之间的大小关系导出的电位比较器，其特征在于，包括将形成比较 物件的2个电位的大小关系导出的电位比较装置；生成作为设定的第1电 位和前述第1信号的电位之间的分压的第1分压，并将该第1分压作为前 述电位比较装置中的一个比较物件而予以输出的第1分压生成装置；以及 第2分压生成装置，其生成第2分压，第2分压是根据前述第1电位及前 述阈值电位所确定的第2电位、与前述第2信号的电位之间的分压，第2 分压与前述第1分压间的大小关系，对应于前述第1信号、第2信号间的 电位差和前述阈值电位之间的大小关系，并将该第2分压作为前述电位比 较装置中的另 一个比较物件而输出。如利用该第1项的专利技术，则不进行类比减法(analog subtracting)处理等 复杂的处理，借由将形成差动信号用的第l信号、第2信号的电位等所生 成的设定的第1分压、第2分压间的大小关系予以导出，而导出差动信号 间的电位差和设定的阈值电位之间的大小关系，所以可利用简单的构成来实现电位比较器。而且，关于本专利技术的第2项的电位比较器的特征在于在上述的专利技术中，前述第1分压生成装置依次配置有供给前述第1 电位的第1电位供给源；在该第1电位供给源与传送前述第1信号的输入 配线之间的第1电阻部、第2电阻部。其中，前述第1分压生成装置从前 述第1电阻部、第2电阻部间的连接部分输出前述第1分压。前述第2分 压生成装置依次配置有供给前述第2电位的第2电位供给源；在该第2 电位供给源与传送前述第2信号的输入配线间，与前述第1电阻部、第2 电阻部间的电阻比成为相等的电阻比的第3电阻部、第4电阻部。而且， 前述第2分压生成装置从前述第3电阻部、第4电阻部间的连接部分输出 前述第2分压。前述第2电位供给源所供给的电位是将与前述第1电位 的差分值，成为使前述第3电阻部的电阻值除以前述第4电阻部的电阻值 后所得的值再乘以前述阈值电位后所得之值的电位，以作为前述第2电位。而且，关于本专利技术的第3项的电位比较器，其特征在于在上述的发 明中，前述第1电阻部、第2电阻部间的电阻及前述第3电阻部、第4电 阻部间的电阻比为2: 1;前述第1电位供给源将从设定的基准电位减去前 述阈值电位后所得的值的电位，作为第1电位而进行供给；前述第2电位 供给源将在设定的基准电位上加上前述阈值电位后所得之值的电位，作为 第2电位而进行供给。而且，关于本专利技术的第4项的电位比较器，其特征在于在上述的发 明中，前述第2电阻部、第4电阻部由具有相同电阻值的相同构造的电阻 元件形成，且前述第1电阻部、第3电阻部借由将前述电阻元件2个串联 连接而形成。关于本专利技术的电位比较器，不进行类比减法处理等复杂的处理，借由 将形成差动信号用的第1信号、第2信号的电位等所生成的设定的第1分 压、第2分压间的大小关系予以导出，而导出差动信号间的电位差和设定 的阈值电位之间的大小关系，所以可起到利用简单的构成来实现电位比较器的效果。另外，上述专利技术的概要并未列举本专利技术的必要特征的全部，这些特征 群的子(sub)集也可又形成专利技术。附图说明图1所示为关于实施形态1的电位比较器的构成的模式图。 图2所示为关于实施形态1的变形例1的电位比较器的构成的模式图。 图3所示为关于实施形态1的变形例2的电位比较器的构成的模式图。 图4所示为关于实施形态2的电位比较器的构成的模式图。图5所示为关于实施形态3的电位比较器的构成的模式图。1:电位比较器2:检查物件3、4:输入配线5:高阈-f直侧分压生成部本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电位比较器，为一种将形成差动信号用的第１信号１、第２信号间的电位差、以及设定的阈值电位之间的大小关系导出的电位比较器，其特征在于，包括：电位比较装置，将作为比较物件的２个电位的大小关系导出；第１分压生成装置，生成作为设定 的第１电位和前述第１信号的电位之间的分压的第１分压，并将该第１分压作为前述电位比较装置中的一个比较物件而输出；以及第２分压生成装置，作为根据前述第１电位及前述阈值电位所确定的第２电位与前述第２信号的电位之间的分压，生成使与前述第１分 压间的大小关系，对应于前述第１信号、第２信号间的电位差和前述阈值电位之间的大小关系的第２分压，并将该第２分压作为前述电位比较装置中的另一个比较物件而输出。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：小岛昭二，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]