对自动测试装置中电压降的补偿制造方法及图纸

本发明专利技术通过补偿器件中减小的电压而不改变器件的内部电路从而提供了一种对被测器件（ＤＵＴ）的可靠测试。该ＤＵＴ具有多个连接到测试装置的连接端子，该多个连接端子至少包括第一和第二电源连接端子，这两个端子都连接到ＤＵＴ的内部电源总线。适配器板配置为经由用于固定ＤＵＴ的可拆卸附着插座连接到ＤＵＴ的多个连接端子。测试器通过适配器板向ＤＵＴ供电。该适配器板被配置为通过第一电源连接端子从测试器向ＤＵＴ供电并且监控在第二电源连接端子的电压。该测试器包括补偿单元，补偿单元基于在第二电源连接端子处监控的电压来控制电力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动测M置，更M而言，本专利技术涉&寸由自动测*置向 4皮测II^M^的电力进^ft^测^M尝。
技术介绍
員电路的产品测试^^I通用自动试验装置(ATE)和专用适配器板#[壬 意的集成电路被测辦(DUT)连接到标准ATE接口 。典型的itS己器狄印刷 电膝仗(PCB),该印刷电路 tgb^接到ATE并包括用于可拆卸iiyt入DUT的插 座。在测试中，尤其是在高性能测试中，提,DUT的电力经常跨DUT和插 座之间的连接存在电压降。因为插座和DUT之间连接电阻的变化，该电压降对 于^^DUT插A^是不同的。jtb^卜，该电压降并不表示在恭降的现场使用期间 ，條的电压降，在该现场4M期间，该器件可以经由具有较^^触电阻的持久 附着插座连接。^^插座的电压降可以斷氐在DUT中的内部总线的电力，并导致不可靠测 试。因此，测^^置M要提高为向DUT供电而^a的电压，以便^hj尝i^t 座的电压降并产生可靠的测试。因为跨^r^座的电压降对于每个DUT插A^是不同的，因此，预定的电压 提高并不能^M尝电压降。不仅如此，测试装置可能需要^l^每个DUT插入 增加的独特电压，以便4hf尝在DUT中的内部总线处减少的电压。US 申请No.2004/0051551提出了对该问题的解决方案，但^^斤提出的 解决方案需要MDUT的内部电路。这些解决方案需要向DUT增加额夕卜的电压感应连接端子，以^J&^L内部总线的电压。这些解决方案涉^^调整;^p给 DUT的电力，直到在感应连接端子监控的电压等于目标电压。这些现有的解决 方案存在需要改变DUT设计的问题，il^:昂贵的并JL5叶于DUT的实际现场使 用产生意想不到的结果。因此，存^it样的需要，即，^f狄测錄置通过;^尝在DUT中的内部总线 处减小的电压来提供可靠的测试，^te地不改变DUT的内部电路。
技术实现思路
本专利技术这里利用专利技术人的观察许多受测试的DLT，如专用集成电路 (ASIC),具有用于供电的多个电源连接端子。即使多个电源连接端子中的一 些不用来供电，这些器件仍然会令人满意的工作'otb^卜，因为多个电源连接端 子4^P连接到DUT的内部电源总线，因此一些连接端子可以在测试期间用来监 控器件的内部电源总线的电压，同时还育tW场^t期间支持应用电源*。因此，#^^#征，本专利技术提供DUT的测试，该DUT具有多个连接端 子，该多个连接端子包括至少第-"^第二电源连接端子，这两个端子都连接到 DUT的内部电源总线。测试装置包^it配器板，该适配器M己置为经由用于固 定DUT的可拆卸附着插座连接到DUT的多个连接端子，该测试装置还包拾测 试器，该测试器通itit配器;^送测试信号给DUT和从DUT接收测试信号并 Jitiiit配器板向DUT供电。该适配器板净颠己置为通it^一电源连接端子絲'J 试器向DUT供电并JUfe控在第二电源连接端子的电压。该测试器包括^M尝单元，其基于在第二电源连接端子^Ji控的电压綠制电力。预测淑M尝步骤补^^條DUT的电力，以便使彬魂鄉二电源连接端子所监控的内部总线处 的电力&'J目标电压。此后，测皿iti^接端子前iio由于Jii^布置，通常不需要^DUT的内部电路即可对DUT的内部总线 的电压进行监控。因此，该布置产生可靠的测试，而不会导致附加的成本且不 会产生与改变DUT内部电路有关的不希望结果。^^专利技术的另一个方面，适配器板*§己置为通皿冲器监控电压，以便减 小电压噪声。低通滤波器可以用作緩冲器。在本专利技术的另一个方面，测M置在预测，式和测，式下运行，并且 錄预测鄉式下控制电力，在测鄉式下电力不变。在本专利技术的另一个方面，当提^DUT的电力足以使得在第二电源连接端 子处监控的电压等于目标电压时，测试装置从预测，式切换到测试模式。在本专利技术的另一个方面，所述内部电源总线包括Vdd组件和Vss组件，第 一和第二电源连接端子都连接到Vdd组件，第三和第四电源连接端子都连接到 Vss组件。适配器板^^置为通it^ 第^i^接端子从测试器向DUT供电， 并且监^第二和第四电源连接端子处的电压。4hf尝单^于在第二和第四电 源连"^端子处j^控的电压#制电力。在本专利技术的另一个方面，该多个连接端子包括多个信号连接端子，并JL^斤 述测M置在测^^莫^ifit^输入信号连接端子;^口输入信号到DUT，经输出 信号连接端子从DUT提Mr出信号，并且将输出信号的值和测^Lv范中的值比 较，来进4亍测试。^E^专利技术的另一个方面，DUT包絲用絲电路(ASIC)。 DUT可以提供 在4W阵列(PGA)封^tt阵列(BGA)封装中。在本专利技术的另一个方面，所舰配器板包括印刷电械(PCB),并且插座 可拆卸附着到该印刷电路敗。该插座可以包括弹簧针。^L专利技术的另一个方面，提供了一种在测^^置中向DUT供电的方法。 DUT具有用于连接到测^^置的多个连接端子，该多个连接端子至少包括第一 和第二电源连接端子，这两个端子都连接到DUT的内部电源总线。该方法包括 配置测试装置以便向第一电源连接端子供电的配置步骤，监控在第二电源连接 端子处的电压电平的监控步骤，和基于在第二电源连接端子处监控的电压电平 控制:|€^^第一电源连4^端子的电力的控制步骤。^M^专利技术的另一个方面，所述内部电源总线包括Vdd组^Vss组件，都 连接到Vdd组件的第一^第二电源连接端子，^MP连接到Vss组件的第^第 四电源连接端子。配置步骤配置测^^置来向第-^笫三连接端子供电，并且 监^第二和第四电源连接端子处的电压电平。控制步骤基于在第二和第四电 源连接端子处监控的电压电平^制施加到第-"^第三电源连接端子的电力。提供以上概述以便快速理解本专利技术的本质。通过参考以下详细说明、所附权力要求和附图可以获得对本专利技术更完全的理解。 附图说明 图i A^示^it本专利技术示例性实施例的配置用于测试器件的测试装置的图示o图2 示^^本专利技术示例性实施例的配置用于测试教降的测^置的示 意图。图3是显示用于测试被测||#的处理步骤的流程图。 M实施方式图1 ^示才 本专利技术示例性实施例的被测教降(DUT)和配置用来测试 DUT的测"^置的图示。该测试装置包^dt配器板:i礎配器板120和测试器如 测试器110。糾140是DUT，如专用集成电路(ASIC)半#器件，或者4封可其它 合适的DUT。 H# 140包^i^接端子，如连接端子261到268和271到278。 具有4W阵列(PGA， pin grid array)封装的旨的连接端子是针，具有* 阵列(BGA， ball grid array)封装的糾的连接端子;ljkf^球。如图2所示，器件140包括内部电源总线，该内部电源总线包括Vdd組件 如Vdd 241，和Vss组^f^ Vss 242。 jtb^卜，DUT140包括内部电路，如电路243， 其是受到测试的电路，即测"^t象。内部电源总线和内部电路经由内部电路路 才^i接到皿的连接端子，用于接收电力和用于发i^N^收测试信号。两个或多个电源连接端子连接到以任何方式定位的内部电源总线的每个组 件。糾140具有连接到内部电源总线的8个电源连接端子，连接到Vdd 241的4个电源本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于被测器件（ＤＵＴ）的测试装置，包括：适配器板，该适配器板配置为经由用于固定所述ＤＵＴ的可拆卸附着插座连接到所述ＤＵＴ的多个连接端子；测试器，该测试器通过所述适配器板发送测试信号给所述ＤＵＴ并从所述ＤＵＴ接收测试信号，并且通过所述适配器板向所述ＤＵＴ供电；其中，所述适配器板被配置为通过所述ＤＵＴ的第一电源连接端子从所述测试器向所述ＤＵＴ供电，并且监控在所述ＤＵＴ的第二电源连接端子处的电压；并且其中，所述测试器包括补偿单元，该补偿单元基于在第二电源连接端子处监控的电压来控制提供给所述ＤＵＴ的电力。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：埃兰蒂尔伯，莫尔代基韦斯布兰姆，迈克尔格林菲尔德，
申请(专利权)人：马维尔以色列MISL有限公司，
类型：发明
国别省市：IL[以色列]