一种极高波形捕获率数字存储示波器制造技术

本发明专利技术公开了一种极高波形捕获率数字存储示波器，输入测试信号经调理后送入ＡＤＣ转换模块进行采样，在触发和时基电路的控制下送入采集存储器缓存；完成一次波形采集后，并行协处理器采集数据映射成与显示屏点阵相对应的波形点阵数据，映射完成后又重新开始新一轮的采集与映射；与此同时，微处理器进行管理工作，当到达显示屏定时刷新时间时，即刻启动显示刷新控制逻辑，自动将波形点阵数据和点阵数据在显示存储器中进行组合，并更新显示屏的显示。本发明专利技术采用信号波形采集处理与微处理器并行工作的构架，让微处理器从繁重的波形处理和显示中脱离出来，降低了盲区时间，提高了波形捕获率，增大了发现瞬态异常信号的几率，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种数字存储示波器，具体来讲，涉及一种极高波形捕获率数 字存储示波器
技术介绍
随着数字信号处理技术的发展，基于高速取样时域信号分析方面技术的研 究越来越深入，数字化时域测试仪器也得到了迅猛发展，数字存储示波器作为 一种最典型时域测试仪器，得到了广泛应用。波形捕获率是评价数字存储示波器性能优劣的重要指标之一。所谓"波形 捕获率"就是指单位时间内数字示波器捕获并显示的波形次数。波形捕获率不 足将使多数瞬态偶发信号无法发现，信号抖动分析及眼图分析更无从谈起。如图1，传统的数字存储示波器通常采用一种串行的处理结构，采样的数据 .从采集存储器传送到微处理器，经微处理器处理、计算参数，最终送达显示。 在微处理器进行波形数据处理的这段时间内，示波器不能对信号波形进行采集， 这段时间称为"盲区时间"。通常，示波器采样捕捉时间大约只占总观测时间的1% 。因此，在盲区时间内将会漏掉99%波形细节，波形捕获率不足，使测试效 率大大降低，很多情况下，无法满足实时测试应用需求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种波形捕获率极高的数字 存储示波器，以提高测试效率。为实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种极高波形捕获率数字存储示波器，包括：信号调理模块、ＡＤＣ转换模块、触发和时基电路、采集存储器、微处理器、显示存储器、显示屏，其特征在于，还包括一并行协处理器；输入测试信号经信号调理模块调理后送入ＡＤＣ转换模块进行采样，在触发和时 基电路的控制下将采样数据送入采集存储器缓存；完成一次波形采集后，并行协处理器将采集存储器中的采集数据映射成与显示屏点阵相对应的波形点阵数据，映射完成后又重新开始新一轮的采集与映射；与此同时，微处理器进行菜单管理、人机接口管理 工作，当到达显示屏定时刷新时间时，即刻启动显示刷新控制逻辑，自动将并行协处理器中的波形点阵数据和...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾浩，张沁川，邱渡裕，滕志超，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]