一种测试太阳电池组件效率的方法技术

本发明专利技术提供了一种测试太阳电池组件效率的方法。现有技术在测试太阳电池组件效率时存在浪费人力成本及设备成本的问题。本发明专利技术的方法先提供一参考太阳电池组件，并测得该组件的光强修正参数及效率修正参数；然后将该待测组件和参考组件设置在同样的环境中，且测得该环境的测试温度，并分别测得两组件的短路电流；接着依据参考组件的短路电流以及光强修正参数计算出测试光强；之后依据所计算出的测试光强以及待测组件的短路电流计算出该待测组件在标准测试光强下的短路电流；最后依据所计算出的该待测组件的短路电流、测试温度以及效率修正参数计算出待测太阳电池组件在标准环境下的转换效率。采用本发明专利技术的方法可大大节约成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及太阳电池领域，特别涉及。
技术介绍
在太阳电池领域，制作大面积及高功率的太阳电池组件成为发展的必然趋 势，但是大的组件在测试时非常的不方便，需要专门的人员将其抬到测试机台 上进行测试，另外测试机台也需根据该组件面积的增大而做调整，甚至需制作 新的测试机台来测试该大面积的太阳电池组件，如此高的测试机台成本及人力 成本就会阻碍太阳电池组件朝大面积高功率方向发展。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供，通过所述方法 可大大节约测试成本。本专利技术的目的是这样实现的 ，用于在 测试光强S大于一预定值时测试太阳电池组件的转换效率，该方法包括以下步 骤(1)提供一参考太阳电池组件，并测得该参考组件的光强修正参数As及 效率修正参数Aeff; ( 2 )将该待测太阳电池组件和参考太阳电池组件设置在同 样的环境中，且测得该环境下的测试温度T，并分别测得待测组件及参考组件的 短路电流Ip及Isc; ( 3 )依据参考组件的短路电流Isc以及光强修正参数As 计算出测试光强S; ( 4 )依据所计算出的测试光强S以及待测组件的短路电流 Ip计算出该待测组件在标准测试光强Sc下的短路电流I本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试太阳电池组件效率的方法，用于在测试光强Ｓ大于一预定值时测试太阳电池组件的转换效率，其特征在于，该方法包括以下步骤：（１）提供一参考太阳电池组件，并测得该参考组件的光强修正参数Ａｓ及效率修正参数Ａｅｆｆ；（２）将待测太阳电池组件和该参考太阳电池组件设置在同样的环境中，且测得该环境下的测试温度Ｔ，并分别测得待测组件及参考组件的短路电流Ｉｐ及Ｉｓｃ；（３）依据参考组件的短路电流Ｉｓｃ以及光强修正参数Ａｓ计算出测试光强Ｓ；（４）依据所计算出的测试光强Ｓ以及待测组件的短路电流Ｉｐ计算出该待测组件在标准测试光强Ｓｃ下的短路电流Ｉｓ；（５）依据所计算出的短路电流Ｉｓ、测试温度Ｔ以及效率修正参数Ａｅｆ...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范远恒，王艳丽，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]