【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于辐射源的靶、用于生成侵入性电磁辐射的辐射源、辐射源的用途、以及产生用于辐射源的靶的方法
本专利技术涉及一种靶、一种辐射源、辐射源的用途、以及一种用于生产靶的方法。特别地,本专利技术涉及一种具有靶元件的暴露表面的靶。在将对应的辐射源与靶元件一起使用时,可以用粒子、尤其电子来照射暴露表面,以生成侵入性电磁辐射。
技术介绍
侵入性辐射、尤其X-射线辐射用于工业计算机断层摄影应用(CT)。所检查对象的所得射线照片的图像品质尤其取决于为了产生侵入性辐射而被辐射到辐射源的所谓靶上的粒子束(尤其电子束)的功率密度(辐射通量密度),在靶中产生侵入性辐射。粒子在靶中减速,由此侵入性电磁辐射变成所谓的轫致辐射。供粒子与靶在空间上相互作用的区域还被称为焦斑。粒子束的功率密度对许多应用旨在尽可能高,以实现侵入性辐射的高辐射功率并且因此获得良好的图像品质。然而,如果粒子束具有过高的功率密度,则靶可能在焦斑处汽化、并且因此被损坏。避免此类损坏的一种可能性包括使粒子束扩展。接着靶上的焦斑扩大,从而辐射通量密度减小。然而,由此在靶上引起的较大光斑大小在较小的程度上对应于从源发出的电磁辐射的点辐射源、减小了射线照片的图像清晰度、并且因此还降低了可实现的图像品质。如果侵入性辐射的功率减小,则可以采用较小的光斑大小。然而,在低功率的情况下,已知的用于检测侵入性辐射并用于生成对象的射线照片的检测器生成具有低信噪比的图像。
技术实现思路
因此,需要提供生成侵入性电磁辐射的解决方案,以能够以高辐射功率以及小的光斑 ...
【技术保护点】
1.一种用于侵入性电磁辐射的辐射源(1)的靶(10),/n包括至少一个靶元件(20),该至少一个靶元件被配置用于在用粒子照射后生成侵入性电磁辐射、并且联接至基材装置(28)以从该靶元件(20)耗散热量,/n其中,该靶元件(20)具有形成该靶元件(20)的外表面的第一部分的外围表面,其中,该靶元件(20)的外表面另外由该靶元件(20)的侧表面(38)形成,其中,该侧表面(38)的范围限定该靶元件(20)的厚度(D;D1,D2,D3),其中,该侧表面(38)的外围线形成该外围表面的边际线,/n其中,该靶(10)具有端面(22),作为该端面的一部分,该靶元件(20)的侧表面(38)以暴露的方式布置以被所述粒子照射,/n并且其中,该基材装置(28)与该外围表面相接触,/n其中,该靶元件(20)以层状的方式实施并且具有比该厚度(D)更大的宽度(B),其中,该外围线的总长度由该厚度(D)和该宽度(B)限定,其中,该基材装置在沿该厚度(D)的方向彼此相反的两侧与该外围表面相接触,/n其特征在于,/n该层状靶元件(20)在该侧表面(38)处的厚度(D)随着在该宽度(B)的方向上的范围增大而增大。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180126 DE 102018201245.81.一种用于侵入性电磁辐射的辐射源(1)的靶(10),
包括至少一个靶元件(20),该至少一个靶元件被配置用于在用粒子照射后生成侵入性电磁辐射、并且联接至基材装置(28)以从该靶元件(20)耗散热量,
其中,该靶元件(20)具有形成该靶元件(20)的外表面的第一部分的外围表面,其中,该靶元件(20)的外表面另外由该靶元件(20)的侧表面(38)形成,其中,该侧表面(38)的范围限定该靶元件(20)的厚度(D;D1,D2,D3),其中,该侧表面(38)的外围线形成该外围表面的边际线,
其中,该靶(10)具有端面(22),作为该端面的一部分,该靶元件(20)的侧表面(38)以暴露的方式布置以被所述粒子照射,
并且其中,该基材装置(28)与该外围表面相接触,
其中,该靶元件(20)以层状的方式实施并且具有比该厚度(D)更大的宽度(B),其中,该外围线的总长度由该厚度(D)和该宽度(B)限定,其中,该基材装置在沿该厚度(D)的方向彼此相反的两侧与该外围表面相接触,
其特征在于,
该层状靶元件(20)在该侧表面(38)处的厚度(D)随着在该宽度(B)的方向上的范围增大而增大。
2.如权利要求1所述的靶(10),其中,该外围表面大于该侧表面(38)。
3.如权利要求1或2所述的靶(10),其中,该靶元件(20)具有不同边长的多边形基本轮廓,并且其中,该侧表面(38)限定所述基本轮廓的、没有最大边长的边。
4.如权利要求1至3中任一项所述的靶(10),其中,该靶元件(20)以圆柱形的方式实施,并且其中,该侧表面(38)形成该靶元件的椭圆形或圆形端表面。
5.如前述权利要求中任一项所述的靶(10),其中,该靶(10)包括具有不同厚度(D1,D2,D3)的多个靶元件(20),并且其中,所述暴露侧表面(38)沿着共同的线布置。
6.如前述权利要求中任一项所述的靶(10),其中,该基材装置(28)至少部分地包绕该靶元件(20)。
7.如前述权利要求中任一项所述的靶(10),其中,该基材装置(28)具有第一基材元件(30)和第二基材元件(32),用于在其间接纳该靶元件(20)的至少一个部分。
8.如前述权利要求中任一项所述的靶(10),其中,该基材装置(28)被接纳在被连接或可连接至冷却装置的散热元件或散热装置(34)中。
9.如前述权利要求中任一项所述的靶(10),其中,该基材装置(28)包括金刚石或含金刚石的材料,和/或其中,该靶元件(20)包括钨。
10.一种用于生成侵入性电磁辐射的辐射源(1),包括:
-如前述权利要求中任一项所述的靶(10);
-被配置用于将粒子束辐射到该靶(10)上的粒子...
【专利技术属性】
技术研发人员:M·埃尔勒,
申请(专利权)人:卡尔蔡司工业测量技术有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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