一种垂直发光芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机。有益效果在于：本实用新型专利技术通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果，同时，可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种垂直发光芯片测试装置
本技术涉及芯片测试装置
，具体涉及一种垂直发光芯片测试装置。
技术介绍
芯片是集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，垂直发光芯片是芯片中的一种，在垂直发光芯片的生产中，需要对成品发光芯片进行质量测试，以测定发光芯片的内部电路是否联通。但是现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，同时，现有的装置在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为了克服现有技术不足，现提出一种垂直发光芯片测试装置，解决了现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，以及在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低的问题。(二)技术方案本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机，所述伺服电机输出端与所述旋转座通过键连接，所述伺服电机与所述旋转支撑转动连接。通过采用上述技术方案，通过在所述旋转座和所述旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为所述旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而，提高所述旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果。进一步的，所述旋转座上方外侧通过螺钉连接有放料位，所述放料位一侧通过螺钉连接有扩展位，所述扩展位一侧通过螺钉连接有检测位，所述检测位一侧通过螺钉连接有修正位。通过采用上述技术方案，可以将需要检测的芯片放置在所述放料位上，然后在所述修正位置后，通过外部的机械手等部件对芯片的位置进行修正，抵达所述CCD检测镜头下方时，对芯片进行检测测试，到达所述扩展位处进行扩展。进一步的，所述旋转支撑下方通过螺栓连接有工作台，所述工作台下方四角处设置有支撑腿，所述支撑腿与所述工作台通过螺栓连接。进一步的，所述工作台上方一侧通过螺栓连接有立板支撑，所述立板支撑一侧壁上通过螺钉连接有升降调节开关。通过采用上述技术方案，所述升降调节开关可以控制所述电动推杆动作，对所述CCD检测镜头的高度进行调整，使得所述CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。进一步的，所述立板支撑上方通过螺栓连接有顶部支撑，所述顶部支撑下方一侧通过螺栓连接有电动推杆。通过采用上述技术方案，所述顶部支撑可以为所述电动推杆提供稳定的支撑。进一步的，所述电动推杆下方通过螺钉连接有检测镜头支撑，所述检测镜头支撑为圆柱形。通过采用上述技术方案，所述检测镜头支撑主要支撑所述CCD检测镜头。进一步的，所述检测镜头支撑下方中部通过螺钉连接有CCD检测镜头，所述CCD检测镜头外围通过螺钉连接有照明灯，所述照明灯的个数为四。通过采用上述技术方案，可以通过所述照明灯为芯片检测测试过程提供照明，所述CCD检测镜头主要用来对芯片进行检测测试工作。(三)有益效果本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：1、为解决现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量的问题，本技术通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果；2、为解决现有的垂直发光芯片测试装置在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低的问题，本技术可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。附图说明图1是本技术所述一种垂直发光芯片测试装置的主视图；图2是本技术所述一种垂直发光芯片测试装置中旋转座和旋转支撑部位的主剖视图；图3是本技术所述一种垂直发光芯片测试装置中检测镜头支撑、CCD检测镜头和照明灯的连接关系示意图。附图标记说明如下：1、工作台；2、支撑腿；3、立板支撑；4、顶部支撑；5、电动推杆；6、检测镜头支撑；7、旋转支撑；8、旋转座；9、放料位；10、扩展位；11、检测位；12、修正位；13、升降调节开关；14、圆形滑轨；15、滑块；16、伺服电机；17、CCD检测镜头；18、照明灯。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图1-图3所示，本实施例中的一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑7、旋转座8和伺服电机16，旋转支撑7上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨14，圆形滑轨14上方滑动连接有滑块15，滑块15上方通过螺钉连接有旋转座8，旋转支撑7内上方中部通过螺栓连接有伺服电机16，伺服电机16输出端与旋转座8通过键连接，伺服电机16与旋转支撑7转动连接，通过在旋转座8和旋转支撑7之间设置圆形滑轨14和圆形滑块15，为旋转座8的转动提供精准的导向，可以提高旋转座8旋转过程中的平稳性，进而，提高旋转座8在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果。如图1-图3所示，本实施例中，旋转座8上方外侧通过螺钉连接有放料位9，放料位9一侧通过螺钉连接有扩展位10，扩展位10一侧通过螺钉连接有检测位11，检测位11一侧通过螺钉连接有修正位12，可以将需要检测的芯片放置在放料位9上，然后在修正位12置后，通过外部的机械手等部件对芯片的位置进行修正，抵达CCD检测镜头17下方时，对芯片进行检测测试，到达扩展位10处进行扩展，旋转支撑7下方通过螺栓连接有工作台1，工作台1下方四角处设置有支撑腿2，支撑腿2与工作台1通过螺栓连接，电动推杆5下方通过螺钉连接有检测镜头支撑6，检测镜头支撑6为圆柱形，检测镜头支撑6主要支撑CCD检测镜头17，检测镜头支撑6下方中部通过螺钉连接有CCD检测镜头17，CCD检测镜头17外围通过螺钉连接有照明灯18，照明灯18的个数为四，可以通过照明灯18为芯片检测测试过程提供照明，CCD检测镜头17主要用来对芯片进行检测测试工作。如图1、图3所示，本实施例中，工作台1上方一侧通过螺栓连接有立板支撑3，立板支撑3一侧壁上通过螺钉连接有升降调节开关13，立板支撑3上方通过螺栓连接有顶部支撑4，顶部支撑4下方一侧通过螺栓连接有电动推杆5，顶部支撑4可以为电动推杆5提供稳定的支撑，升降调节开关13可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：包括旋转支撑(7)、旋转座(8)和伺服电机(16)，所述旋转支撑(7)上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨(14)，所述圆形滑轨(14)上方滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)上方通过螺钉连接有所述旋转座(8)，所述旋转支撑(7)内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机(16)，所述伺服电机(16)输出端与所述旋转座(8)通过键连接，所述伺服电机(16)与所述旋转支撑(7)转动连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：包括旋转支撑(7)、旋转座(8)和伺服电机(16)，所述旋转支撑(7)上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨(14)，所述圆形滑轨(14)上方滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)上方通过螺钉连接有所述旋转座(8)，所述旋转支撑(7)内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机(16)，所述伺服电机(16)输出端与所述旋转座(8)通过键连接，所述伺服电机(16)与所述旋转支撑(7)转动连接。


2.根据权利要求1所述的一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：所述旋转座(8)上方外侧通过螺钉连接有放料位(9)，所述放料位(9)一侧通过螺钉连接有扩展位(10)，所述扩展位(10)一侧通过螺钉连接有检测位(11)，所述检测位(11)一侧通过螺钉连接有修正位(12)。


3.根据权利要求1所述的一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：所述旋转支撑(7)下方通过螺栓连接有工作台(1)，所述工作台(1)下方四角处设...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振峰，杨国良，邱德明，
申请(专利权)人：武汉盛为芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42