一种垂直发光芯片测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电机，所述旋转支撑上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨，所述圆形滑轨上方滑动连接有滑块，所述滑块上方通过螺钉连接有所述旋转座，所述旋转支撑内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机。有益效果在于：本实用新型专利技术通过在旋转座和旋转支撑之间设置圆形滑轨和圆形滑块，为旋转座的转动提供精准的导向，可以提高旋转座旋转过程中的平稳性，进而提高旋转座在固定位置停留时的重复定位精度，增强测试效果，同时，可以通过升降调节开关可以控制电动推杆动作，对CCD检测镜头的高度进行调整，使得CCD检测镜头与芯片的距离调整到最佳位置，进而提高检测测试的质量。

【技术实现步骤摘要】
一种垂直发光芯片测试装置
本技术涉及芯片测试装置
，具体涉及一种垂直发光芯片测试装置。
技术介绍
芯片是集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，垂直发光芯片是芯片中的一种，在垂直发光芯片的生产中，需要对成品发光芯片进行质量测试，以测定发光芯片的内部电路是否联通。但是现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，同时，现有的装置在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为了克服现有技术不足，现提出一种垂直发光芯片测试装置，解决了现有的垂直发光芯片测试装置在对芯片测试过程中，芯片的移动精度不是很高，在固定位置停留时存在一定的误差，影响芯片检测测试的质量，以及在对CCD测试镜头的高度进行调整时，大都通过手动方式进行，调整效率和精度较低的问题。(二)技术方案本技术通过如下技术方案实现：本技术提出了一种垂直发光芯片测试装置，包括旋转支撑、旋转座和伺服电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：包括旋转支撑(7)、旋转座(8)和伺服电机(16)，所述旋转支撑(7)上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨(14)，所述圆形滑轨(14)上方滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)上方通过螺钉连接有所述旋转座(8)，所述旋转支撑(7)内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机(16)，所述伺服电机(16)输出端与所述旋转座(8)通过键连接，所述伺服电机(16)与所述旋转支撑(7)转动连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：包括旋转支撑(7)、旋转座(8)和伺服电机(16)，所述旋转支撑(7)上方外围通过螺钉固定有圆形滑轨(14)，所述圆形滑轨(14)上方滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)上方通过螺钉连接有所述旋转座(8)，所述旋转支撑(7)内上方中部通过螺栓连接有所述伺服电机(16)，所述伺服电机(16)输出端与所述旋转座(8)通过键连接，所述伺服电机(16)与所述旋转支撑(7)转动连接。


2.根据权利要求1所述的一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：所述旋转座(8)上方外侧通过螺钉连接有放料位(9)，所述放料位(9)一侧通过螺钉连接有扩展位(10)，所述扩展位(10)一侧通过螺钉连接有检测位(11)，所述检测位(11)一侧通过螺钉连接有修正位(12)。


3.根据权利要求1所述的一种垂直发光芯片测试装置，其特征在于：所述旋转支撑(7)下方通过螺栓连接有工作台(1)，所述工作台(1)下方四角处设...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振峰，杨国良，邱德明，
申请(专利权)人：武汉盛为芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42