【技术实现步骤摘要】
一种制备高质量氮化铝模板的方法
本专利技术涉及半导体薄膜
,具体涉及一种制备高质量氮化铝模板的方法。
技术介绍
传统硅基等半导体材料已经无法满足当前电子器件的发展要求。氮化铝(AlN)作为第三代/第四代半导体材料的典型代表,具有超宽禁带、高热导率、高击穿场强、高电子迁移率、耐腐蚀、耐辐射等优越物理化学性能,特别适合于制造光电子器件、射频通信器件、高功率/高频电力电子器件等,是紫外LED、紫外探测器、紫外激光、5G高功率/高频射频、5G通信SAW/BAW器件等最佳衬底材料,广泛应用于环保、电子、无线通讯、印刷、生物、医疗、军事等领域,如紫外净化/灭菌(污水处理、饮用水消毒、空气杀菌、表面杀菌、除臭等)、紫外固化、紫外催化、防伪检测、高密度存储、医学光照治疗、药物研发、移动通信及保密通信、紫外空间探测等领域。GaN是宽禁带半导体中另一个极具发展潜力的半导体材料,2014年诺贝尔物理学奖授予GaN基蓝光LED的三位研究者,表明其重要的应用价值。然而,由于缺少理想的商业衬底,基于AlxGa1-xN的光电器件,例如紫外发 ...
【技术保护点】
1.一种制备高质量氮化铝模板的方法,包括如下步骤:/nS1、准备衬底材料和氮化铝单晶片;/nS2、基于剥离键合技术转印氮化铝薄膜;/nS3、对转印后的氮化铝薄膜进行热处理。/n
【技术特征摘要】
1.一种制备高质量氮化铝模板的方法,包括如下步骤:
S1、准备衬底材料和氮化铝单晶片;
S2、基于剥离键合技术转印氮化铝薄膜;
S3、对转印后的氮化铝薄膜进行热处理。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S1具体包括:
S11、获取衬底材料和氮化铝单晶片;
S12、对衬底材料和氮化铝单晶片进行低温预处理。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S1中,所述衬底材料为硅、锗衬底材料,或者是氧化硅、氧化锌、蓝宝石、碳化硅、氮化镓、氮化铝、砷化镓、磷化铟、铌酸锂或钽酸锂化合物衬底材料。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S1中,所述氮化铝单晶片的位错密度小于105cm-2,高分辨摇摆曲线0002衍射面的半高宽小于400arcsec,预处理的表面粗糙度小于2nm。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,步骤S2具体包括:
S21、对氮化铝单晶片进行离子注入形成离...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴亮,付丹扬,王琦琨,朱如忠,龚建超,刘欢,
申请(专利权)人:奥趋光电技术杭州有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。