一种测量轴孔规格的装置制造方法及图纸

本发明专利技术所提供的一种测量轴孔规格的装置，其中，包括：多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。本发明专利技术所述装置基于光谱共焦原理即可实现对不同规格轴孔的内径或外径的测量，且测量精度高，操作简便。

【技术实现步骤摘要】
一种测量轴孔规格的装置
本专利技术涉及尺寸测量
，尤其涉及的是一种测量轴孔规格的装置。
技术介绍
目前，对于轴孔内径或外径的测量采用的测量方式分为接触式和非接触式，其中，接触式的仪器包括：塞规、千分尺、卡尺等，此种方式适用于对精度要求低的工件，且工件的规格不能过小，在进行测量时需人工手动操作仪器进行测量，会存在人工误差，难以保证测量精度；非接触式方法包括：气动测量和电容式测量方法等，此种方法适用于对精度要求高的工件，其中，气动测量方法对供气要求高，且仪器响应时间长，不利于快速测量，且操作繁琐；而电容式测量方法易受到外界环境的干扰，进而影响测量结果。可见，以上用于测量轴孔内径或外径的方式存在测量精度与测量速率难以兼顾的问题。因此，现有技术存在缺陷，有待改进与发展。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种测量轴孔规格的装置，旨在解决现有技术中的在进行轴孔内径或外径测量时，现有的测量工具难以兼顾测量精度与测量速率的问题。本专利技术解决技术问题所采用的技术方案如下：一种测量轴孔规格的装置，其中，包括：多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。进一步地，所述预设角度为钝角，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；所述支撑结构上与所述镜面相对的位置上均开设有第一通孔。能够实现对单个被测轴孔的内径进行测量，且测量精度高，操作简单。进一步地，所述预设角度为锐角，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；不相邻反光镜之间相贯通，在所述支撑结构与所述镜面相对的位置上均开设有第二通孔。进一步地，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；不相邻反光镜之间相贯通；当所述预设角度为钝角时，在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第一通孔；当所述预设角度为锐角时，在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第二通孔。进一步地，所述支撑结构上开设有所述第一通孔和第二通孔；所述装置还包括嵌于所述支撑结构中的另一反光镜，所述另一反光镜的镜面背对所述反光镜设置，且与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈所述预设角度。进一步地，所述反光镜与所述支撑结构活动连接，当转动所述反光镜至所述预设角度为钝角时，所述反光镜的镜面与所述第一通孔相对；当转动所述反光镜至所述预设角度为锐角时，所述反光镜的镜面与所述第二通孔相对。进一步地，所述支撑结构中还嵌入有反光镜支撑座，所述反光镜支撑座上设置的斜面与所述光谱共焦传感器探头和所述镜面相对，所述反光镜贴于所述斜面上。进一步地，不相邻反光镜之间开设有桥洞。进一步地，所述支撑结构为环形。进一步地，所述光谱共焦传感器探头设置有两个。能够实现对多种规格的轴孔进行内径测量，或者外径测量，提高了本专利技术所述的测量轴孔规格的装置使用灵活性与测量效率，且保证了测量精度与简便性。本专利技术所提供的一种测量轴孔规格的装置，其中，包括：多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。本专利技术所述装置基于光谱共焦原理即可实现对不同规格轴孔的内径或外径的测量，且测量精度高，操作简便；且能够被配置为同时测量不同规格的轴孔的内径或外径，提高了本专利技术所述装置的使用灵活性。附图说明图1是本专利技术中第一实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的剖视图。图2是本专利技术中第一实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。图3是本专利技术中第二实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的剖视图。图4是本专利技术中第二实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。图5是本专利技术中第三实施例中所述测量轴孔规格的装置的较佳实施例的立体图。标注说明：10、光谱共焦传感器探头；20、反光镜支撑座；30、反光镜；40、第一通孔；50、支撑结构；60、第二通孔；70、另一被测轴孔；80、被测轴孔。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术基于光谱共焦原理设计了一种测量轴孔规格的装置，所述装置能够测量轴孔的内径或者外径。其中，光谱共焦原理为：控制器发射出一束宽光谱的复色光(呈白色)通过光纤传入至光谱共焦传感器探头中，探头上的色散镜头将复色光折射成多束单色光。每一个波长的单色光的焦点都对应一个距离值。当单色光射到轴孔内径或外径表面被反射回来，只有满足共焦条件的单一颜色的光可以被光谱共焦传感器探头感测到，最后进入控制器中的光谱仪进行波长分析以确定轴孔的位置。通过计算被感测到的焦点的波长，将波长换算成光谱共焦探头至轴孔内径或外径的距离，进而可以得到轴孔的内径或外径尺寸。使用光谱共焦原理进行测量能够保证测量精度达到微、纳米级，且对被测轴孔表面状况要求较低，同时，也可允许被测轴孔表面有较大的倾斜角度，能够实现对被测轴孔的精准测量。而本专利技术则通过对光谱共焦传感器探头进行设置，以实现使用光谱共焦传感器探头进行轴孔内径或外径的测量，由于本专利技术所述的装置并未涉及到对控制器以及光谱仪的改进，故而，本专利技术所述的结构并未对于光谱共焦传感器探头连接的控制器和光谱仪进行描述，可以理解地，通过本专利技术所述的光谱共焦传感器探头即可直接表示与其相连接的控制器和光谱仪的工作原理，且由于光谱共焦原理为现有技术，故而，在以下的描述中并不进行赘述。本专利技术提供了一种测量轴孔规格的装置，所述装置包括：多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头10；多个反光镜30，多个所述反光镜30分别设于每个光谱共焦传感器探头10的底端，所述反光镜30的镜面与所述光谱共焦传感器探头10的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜30围成的中轴之间的夹角。具体地，通过反光镜30将从光谱共焦传感器探头10所发出的测量光进行反射，以使反射光照射到轴孔的内径壁或外径壁上，进而实现对轴孔的测量。本专利技术所述装置既可以用来测量轴孔的内径，也可以用来测量轴孔的外径，由于基于本专利技术构思所能够实现测量轴孔内径或外径的结构有多种类型，当然地，所述光谱共焦传感器探头10也可设置为两个、三个或三个以上，此处并不做过限定，在以下描述中以设置为两个或三个进行举例说明，以解释本专利技术所述装置。以下仅举例说明本专利技术所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量轴孔规格的装置，其特征在于，包括：/n多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；/n多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量轴孔规格的装置，其特征在于，包括：
多个相互连接且相互平行的光谱共焦传感器探头；
多个反光镜，多个所述反光镜分别设于每个光谱共焦传感器探头的底端，所述反光镜的镜面与所述光谱共焦传感器探头的轴向呈预设角度，所述预设角度为所述镜面与所有反光镜围成的中轴之间的夹角。


2.根据权利要求1所述的测量轴孔规格的装置，其特征在于，所述预设角度为钝角，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；
所述支撑结构上与所述镜面相对的位置上均开设有第一通孔。


3.根据权利要求1所述的测量轴孔规格的装置，其特征在于，所述预设角度为锐角，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；
不相邻反光镜之间相贯通，在所述支撑结构与所述镜面相对的位置上均开设有第二通孔。


4.根据权利要求1所述的测量轴孔规格的装置，其特征在于，所述装置还包括支撑结构，所述支撑结构中嵌入有所述光谱共焦传感器探头的底端和所述反光镜；不相邻反光镜之间相贯通；
当所述预设角度为钝角时，在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置上开设有第一通孔；
当所述预设角度为锐角时，在所述反光镜与所述支撑结构相对的位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：周飞，王国安，吴伟锋，罗伟峰，
申请(专利权)人：海伯森技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44