一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机，其中测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，包括：加固件、锁紧圈以及锁紧柱，加固件用于固定测试板，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述紧固件；锁紧圈套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动，带动所述压合块将所述加固件压紧。

【技术实现步骤摘要】
一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机
本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。
技术介绍
芯片测试之前，通常需要先将测试板固定到加固件上，然后将该加固件放置在测试机上，最后使用测试机锁定。使得PCB板与弹簧针良好接触，完成电气联通，并保证联通可靠性；同时固定PCB，方便后续测试，但是现有的加固件在固定的时候非常的麻烦，为此，提出一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。
技术实现思路
本技术将解决现有的芯片测试机在固定加固件进而固定测试板时非常麻烦的技术问题，提供一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。本技术提供的技术方案如下：一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，包括：加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试头上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述紧固件；锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，其特征在于，包括：/n加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试机台上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述加固件；/n锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；/n锁紧柱，所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合...

【技术特征摘要】
1.一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，其特征在于，包括：
加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试机台上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述加固件；
锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；
锁紧柱，所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动；
其中，所述驱动装置带动所述锁紧柱沿所述测试机台周向运动时，所述锁紧柱沿所述配合槽的侧壁斜向上运动，以使所述锁紧圈向下运动，带动所述压合块将所述加固件压紧。


2.根据权利要求1所述的一种测试机测试板锁固机构，其特征在于：所述压合块呈楔形结构，且所述紧固槽与所述压合块相匹配，以使所述锁紧圈运动时，所述压合块的楔形斜面挤压所述紧固槽的内壁。


3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁建，罗雄科，
申请(专利权)人：上海泽丰半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31