一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机，其中测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，包括：加固件、锁紧圈以及锁紧柱，加固件用于固定测试板，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述紧固件；锁紧圈套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动，带动所述压合块将所述加固件压紧。

【技术实现步骤摘要】
一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机
本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。
技术介绍
芯片测试之前，通常需要先将测试板固定到加固件上，然后将该加固件放置在测试机上，最后使用测试机锁定。使得PCB板与弹簧针良好接触，完成电气联通，并保证联通可靠性；同时固定PCB，方便后续测试，但是现有的加固件在固定的时候非常的麻烦，为此，提出一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。
技术实现思路
本技术将解决现有的芯片测试机在固定加固件进而固定测试板时非常麻烦的技术问题，提供一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机。本技术提供的技术方案如下：一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，包括：加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试头上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述紧固件；锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；锁紧柱，所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动；其中，所述驱动装置带动所述锁紧柱沿所述测试机台周向运动时，所述锁紧柱沿所述配合槽的侧壁斜向上运动，以使所述锁紧圈向下运动，带动所述压合块将所述加固件压紧。在本技术方案中，通过设置锁紧圈和加固件，以及在锁紧圈上开设倾斜的配合槽，使得锁紧柱在沿着测试机台周向运动时，能够促使配合槽与锁紧柱之间发生相对位置变化，锁紧圈会发生侧向的运动，又由于紧固槽的限位，致使锁紧圈无法发生侧向运动，从而使得锁紧圈发生向下的运动，当锁紧圈发生向下的运动时，带动压合块将加固件压紧，以至于最终的加固件在测试头上不会出现松动。优选地，所述压合块呈楔形结构，且所述紧固槽与所述压合块相匹配，以使所述锁紧圈运动时，所述压合块的楔形斜面挤压所述紧固槽的内壁。在本技术方案中，压合块呈楔形，且紧固槽也是呈楔形的，两者是相匹配，在锁紧圈一开始被锁紧柱带动转动时，压合块的楔形斜面会与紧固槽的楔形斜面发生相互挤压，且紧固槽的楔形斜面会对压合块的楔形斜面起到限位作用，以使锁紧圈不能够进一步旋转，由于配合槽的作用，锁紧圈就会向下运动，从而将加固件压紧。优选地，所述配合槽设置在所述锁紧圈的下端侧壁上。优选地，所述配合槽有一倾斜段和一竖直段构成，且竖直段位于所述锁紧圈的下端；所述锁紧圈套设在测试机台上时，所述锁紧柱卡合在所述配合槽的直段与倾斜段的交汇处，所述压合块位于所述紧固槽内。在本技术方案中，通过将配合槽的位置设置在锁紧圈的侧壁下端，且配合槽设有一段竖直段和一段斜向上的倾斜段，这样不仅有利于放置锁紧圈，也有利于拿走锁紧圈，便于随时检修以及随时更换，配合槽的竖直段能够使放置的锁紧圈不会出现位置上的移位，而倾斜段则会使锁紧圈在紧固槽限位的作用下，能够向下运动将压合块压紧。优选地，所述配合槽呈周向等距分布。优选地，所述加固件由一内圈和一外圈组成，且所述外圈和所述内圈通过若干连接件连接。优选地，所述内圈上开设有若干固定孔，用于固定所述测试板。优选地，所述限位件为两个，且两个限位件呈对称设置。一种芯片测试机，包含上述任一所述的一种测试机测试板锁固机构。与现有技术相比，本技术提供的一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机具有以下有益效果：1、本技术通过螺钉将测试板固定在加固件上，然后锁紧圈锁紧加固件间接的固定测试板，使得测试板能够很好的与测试头上的弹簧针接触，保证测试板与机台电气连接。2、本技术通过限位件对所述加固件位置进行限位，同时在锁固时，锁紧圈始终会压紧加固件，使得加固件不会出现松动，保证测试板位置固定，不发生位移。3、本技术通过环形等距设置压合块，使得锁紧圈对加固件施加均衡的力，以保证加固件的边缘受力均衡，以保证测试板边缘受力平稳，一不会使测试板受损。附图说明下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。图1是本技术加固件的结构示意图；图2是本技术锁紧圈的结构示意图；图3是本技术部分结构示意图；图4是本技术装配后的结构示意图。附图标号说明：加固件100、紧固槽101、限位孔102、固定孔103、内圈104、连接件105、外圈106；锁紧圈200、压合块201、配合槽202；测试机台300、限位件301、测试头302、锁紧柱303。具体实施方式为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本技术的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与专利技术相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。根据本技术提供的一种实施例，如图1-4所示，一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台300上，用于锁固测试板，在具体实施时，测试板需要借助加固件100进行固定，因此在本实施例中，通过对加固件100进行锁固以使得测试板能够被锁固，且测试机台300上安装有测试头302，测试头302用于测试芯片，测试头302上设有用于测试芯片的弹簧针，测试头302上安装有至少两个限位件301，锁固结构包括：加固件100、锁紧柱303、锁紧圈200以及连接在锁紧圈200上的压合块201，加固件100用于固定测试板，在具体实施时，测试板与加固件100间的固定方式可以通过螺钉固定，在本实施例中，测试板和加固件100之间的固定方式不局限与螺钉连接这一种方式，只需要测试板能够固定在加固件100上，以使得加固件100被锁固之后，测试板能够被锁固在测试机台300上，测试板能够更好的与测试头302接触，保证良好的电气连接；如图1所示，加固件100上开设有与限位件301相匹配的限位孔102，限位件301插入限位孔102，使得加固件100放置在测试头302上时，不会出现移位，以使加固件100能够更好的放置在测试头302上，加固件100的边缘开设有若干紧固槽101，用于锁紧加固件100；如图2所示，锁紧圈200套设在测试机台300外，且锁紧圈200的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽202；压本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，其特征在于，包括：/n加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试机台上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述加固件；/n锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；/n锁紧柱，所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动；/n其中，所述驱动装置带动所述锁紧柱沿所述测试机台周向运动时，所述锁紧柱沿所述配合槽的侧壁斜向上运动，以使所述锁紧圈向下运动，带动所述压合块将所述加固件压紧。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，其特征在于，包括：
加固件，用于固定测试板，所述加固件上开设有与所述限位件相匹配的限位孔，以使所述加固件放置在所述测试机台上，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述加固件；
锁紧圈，套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；
锁紧柱，所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动；
其中，所述驱动装置带动所述锁紧柱沿所述测试机台周向运动时，所述锁紧柱沿所述配合槽的侧壁斜向上运动，以使所述锁紧圈向下运动，带动所述压合块将所述加固件压紧。


2.根据权利要求1所述的一种测试机测试板锁固机构，其特征在于：所述压合块呈楔形结构，且所述紧固槽与所述压合块相匹配，以使所述锁紧圈运动时，所述压合块的楔形斜面挤压所述紧固槽的内壁。


3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁建，罗雄科，
申请(专利权)人：上海泽丰半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31