本实用新型专利技术是关于一种具有调整功能的基材检测装置，包括有至少一发光二极管光源箱，在各发光二极管光源箱内部设置复数个发光二极管，在发光二极管光源箱内部设置的发光二极管所发出的光，可以为单色光或多色光照射于基材的照射点上，或以多个发光二极管光源箱发出多色光混色照射于基材的照射点上，各发光二极管光源箱可以作上、下、左、右位置的调整，各发光二极管光源箱亦可以调整其照射角度，由于发光二极管使用直流电，完全不会使发光二极管产生闪烁的问题，可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成基材误判问题。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种具有调整功能的基材检测装置，特别是涉及一种可令摄影元件与光源调整其相对于基材上的位置与角度而发挥反射效果，达到判别与分析目的的基材检测装置。
技术介绍
现今在合成材料(基材)应用越来越广泛，在合成材料上通常是以织品利用含浸程序而覆盖有一层树脂或多层纤维、纸及玻璃材料，并可制成有热固性的薄片状成品，以目前使用基材运用在生产物品上是需要有极良好的品质，才可制成高价值的产物，故在现今有以半自动化方式以检测基材本身的品质良率，但综观以前的检测手段，是以基材表面含浸的树脂将使光源产生不同的反射变化特性，来达到人工半自动或摄影元件全自动的检测方式，有时该基材本身会有非正常性的物理变化，其虽与品质无关，但以固定方向的光源照射时将会使检测装置误判基材本身的良好程度。如图8所示，在常态下，摄影元件90与基材91保持在90度的摄影角度，该光源92与基材91保持在45度的照射角度，前述的光源92一般采用可发出具有颜色光的荧光灯管，而荧光灯管所采用的电源为交流电，由于交流电会使荧光灯管产生闪烁问题，连带会影响摄影元件90拍摄基材91的画面结果不够稳定，而影响到检测的正确率，其正确率大概只有60％左右，因而，极容易造成基材91误判的情况。当基材91出现物理变化(例如凹陷)时，但其并非是杂质或不良瑕疵品，基材91的凹陷处(如图9中所示)将使摄影元件90接受基材91上光源的反射光源改变，会令控制电脑误判为杂质或瑕疵品的光源信号，因此对于此问题仍需以不同的摄影角度与照射角度来排除基材因物理变化所造成反射光源特性改变的误判动作。由此可见，上述现有的基材检测装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决基材检测装置存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的基材检测装置，便成了当前业界极需改进的目标。有鉴于上述现有的基材检测装置存在的缺陷，本设计人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的具有调整功能的基材检测装置，能够改进一般现有的基材检测装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本技术。
技术实现思路
本技术的目的在于，克服现有的基材检测装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的具有调整功能的基材检测装置，所要解决的技术问题是使其可以改善现有技术存在的问题，主要可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成基材误判的问题，从而更加适于实用。本技术的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现的。依据本技术提出的一种具有调整功能的基材检测装置，其特征在于其包括至少一发光二极管光源箱，发光二极管光源箱内部设置复数个发光二极管，各发光二极管可发光，透光弧面设置于发光二极管光源箱上，发光二极管发出的光是由透光弧面透出，并照射于基材的照射点上，在照射点上藉由摄影元件摄影，摄影元件设置于一架体间，在架体上设横向杆，横向杆下侧形成有一滑槽，横向杆上以间隔距离设置数个孔，螺丝穿过孔；在架体下侧的前、后位置分别设置一具有高度的立杆，该立杆上侧形成一凸部，凸部组装于滑槽内，在凸部内部设置螺孔，螺丝穿过孔螺合于螺孔处；在立杆的左、右侧分别设置纵向贯通的凹槽，数个以间隔距离设置的孔形成于立杆上；立杆两侧的凹槽处分别设置第一、第二横杆，第一、第二横杆相对于各凹槽处分别设置一凸块，由各凸块端部分别设有螺孔，分别以一螺丝穿过对应的孔螺合于各螺孔处；在第一、第二横杆上分别设置对应的孔，发光二极管光源箱的端部分别设置具有螺纹的固定支架，各固定支架分别穿过第一、第二横杆上的孔，藉螺帽将发光二极管光源箱锁固固定于特定的角度位置；发光二极管光源箱可作上、下、左、右与调整其照射角度。本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上技术方案可知，为了达到上述目的，本技术提供了一种具有调整功能的基材检测装置，包括有至少一发光二极管光源箱，各发光二极管光源箱内部设置复数个发光二极管，发光二极管光源箱内部设置的发光二极管所发出的光，可以为单色或多色光照射于基材的照射点上，或是以多发光二极管光源箱以多色的混色照射于基材的照射点上，各发光二极管光源箱亦可作上、下、左、右位置上的调整，各发光二极管光源箱亦可调整其照射角度。本技术所提供的创新设计，可以获得的具体功效增进包括可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果，准确性高，并可避免造成基材误判问题由于各发光二极管光源箱内部设置的发光二极管所发出的光，可以为单色或混色照射于基材的照射点上，各发光二极管光源箱可以作上、下、左、右位置的调整，各个发光二极管光源箱亦可以调整其照射的角度，并由于发光二极管使用直流电，完全不会使发光二极管于发光时产生闪烁的问题，可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成基材误判的问题。经由上述可知，本技术是有关于一种具有调整功能的基材检测装置，包括有至少一发光二极管光源箱，在各发光二极管光源箱内部设置复数个发光二极管，在发光二极管光源箱内部设置的发光二极管所发出的光，可以为单色光或多色光照射于基材的照射点上，或以多个发光二极管光源箱发出多色光混色照射于基材的照射点上，各发光二极管光源箱可以作上、下、左、右位置的调整，各发光二极管光源箱亦可以调整其照射角度，由于发光二极管使用直流电，完全不会使发光二极管产生闪烁的问题，可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成基材误判问题。借由上述技术方案，本技术具有调整功能的基材检测装置至少具有下列优点由于发光二极管光源箱内部设置的发光二极管所发出的光，可以为单色或多色的混色照射于基材的照射点上，各发光二极管光源箱并可作上、下、左、右的调整，各个发光二极管光源箱亦可以调整其照射角度，并因发光二极管使用直流电，完全不会使发光二极管于发光时产生闪烁，令摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成误判基材的问题。综上所述，本技术特殊结构的具有调整功能的基材检测装置，主要可使摄影元件于基材上所拍摄的画面结果准确性高，以避免造成基材误判的问题。其具有上述诸多的优点及实用价值，并在同类产品中未见有类似的结构设计公开发表或使用而确属创新，其不论在装置结构或功能上皆有较大的改进，在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的基材检测装置具有增进的多项功效，从而更加适于实用，而具有产业的广泛利用价值，诚为一新颖、进步、实用的新设计。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1是本技术的立体外观图。图2是本技术的立体分解图。图3是本技术的剖面图。图4是本技术的实施例平面图。图5是本技术于上、下调整位置时的平面示意图。图6是本技术于左、右调整位置时的平面示意图。图7是本技术于调整本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种具有调整功能的基材检测装置，其特征在于其包括： 至少一发光二极管光源箱，发光二极管光源箱内部设置复数个发光二极管，各发光二极管可发光，透光弧面设置于发光二极管光源箱上，发光二极管发出的光是由透光弧面透出，并照射于基材的照射点上，在照射点上藉由摄影元件摄影，摄影元件设置于一架体间，在架体上设横向杆，横向杆下侧形成有一滑槽，横向杆上以间隔距离设置数个孔，螺丝穿过孔； 在架体下侧的前、后位置分别设置一具有高度的立杆，该立杆上侧形成一凸部，凸部组装于滑槽内，在凸部内部设置螺孔，螺丝穿过孔螺合于螺孔处； 在立杆的左、右侧分别设置纵向贯通的凹槽，数个以间隔距离设置的孔形成于立杆上；立杆两侧的凹槽处分别设置第一、第二横杆，第一、第二横杆相对于各凹槽处分别设置一凸块，由各凸块端部分别设有螺孔，分别以一螺丝穿过对应的孔螺合于各螺孔处； 在第一、第二横杆上分别设置对应的孔，发光二极管光源箱的端部分别设置具有螺纹的固定支架，各固定支架分别穿过第一、第二横杆上的孔，藉螺帽将发光二极管光源箱锁固固定于特定的角度位置； 发光二极管光源箱可作上、下、左、右与调整其照射角度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李辉雄，
申请(专利权)人：捷将科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]
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