一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备技术方案

本申请公开了一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备，属于模拟数字转换技术领域。该带参考通道的TIADC互校准方法包括：对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；在利用第一采样时钟在子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；将子通道ADC的进行复合，得到复合子通道ADC；在利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校。本申请的应用使得参考通道进行误差估计外，也进行对模拟信号的采样，充分发挥参考通道作用。

【技术实现步骤摘要】
一种带参考通道的TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备
本申请涉及模拟数字转换
，特别是一种带参考通道TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备。
技术介绍
通信系统、雷达、图像/视频处理等现代电子系统需要高速、高精度的模数转换器。传统的单通道模数转换器要在保证高精度的同时实现高速度将面临物理上的限制，特别是随着深亚微米CMOS工艺向更低电源电压、更小特征尺寸方向发展将使采用传统结构的高精度、高速模数转换器的设计变得越发困难。时间交织模数转换器通过并行采集技术可以突破工艺因素带来的限制，使模数转换器的速度成倍的提高，但制造过程中工艺的偏差严重限制了TI模数转换器的系统精度。有研究表明，不论单通道模数转换器的精度如何，呈正态分布的标准差1％的通道间失配便会将多通道系统的精度限制在7bit以下。在使用时间交织模数转换器TIADC对模拟信号进行采样时，因为采样通道间存在采样时间误差、增益误差等，因此需要对采样过程进行校准。现有的校准方法包括：使用交织模数转换器中的一个子通道ADC为基准，校准其他的子通道ADC时间误差，进而消除时间误差，该方法难以设计，且算法复杂；另外一种校准方法是设计以参考通道ADC，以参考通道ADC为基准，估算其他子通道ADC的时间误差，并进行消除。此种方法容易设计且算法简单，但参考通道ADC只起到误差估计的作用，当校准工作完成后，便不发挥作用，浪费参考通道ADC的性能以及参考通道ADC的占用面积无法有效的利用。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述技术问题，本申请提供一种带参考通道TIADC互校准方法、系统、存储介质及设备。在本申请的一个技术方案中，提供一种带参考通道的TIADC互校准方法，包括对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；在利用第一采样时钟在子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；若第一数量为一个，将一个子通道ADC作为复合子通道ADC，若第一数量为多个，将多个子通道ADC进行复合，得到复合子通道ADC；在利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校准。在本申请的另一技术方案中，提供一种带参考通道的TIADC互校准系统，包括，分频电路，其对系统采样时钟进行分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；子通道ADC采样模块，其利用第一采样时钟在子通道ADC中对模拟信号进行采样，以及使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；第一数据复合模块，若第一数量为一个，将子通道ADC作为复合子通道ADC，若第一数量为多个，将多个子通道ADC进行复合，得到复合子通道ADC；参考通道ADC采样模块，其利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样，以及使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校准。在本申请的另一技术方案中，提供一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其中计算机指令被操作以执行方案一中的带参考通道TIADC互校准方法。在本申请的另一技术方案中，提供一种计算机设备，其包括处理器和存储器，存储器存储有计算机指令，其中，处理器操作计算机指令以执行方案一中的带参考通道TIADC互校准方法。本申请的有益效果是：本申请的使用使得在对带参考通道的TIADC校准过程中，能够充分发挥参考通道ADC的作用，完成对时间交织模数转换器TIADC的子通道ADC的采样过程的校准，同时作为采样通道对模拟信号进行采样，使得参考通道ADC的功能最大化。附图说明图1是本申请带参考通道TIADC互校准方法的一个具体实施方式的流程示意图；图2是本申请带参考通道TIADC互校准系统的一个具体实施方式的组成示意图；图3是本申请带参考通道TIADC互校准系统的一个具体实例的组成示意图；图4是本申请带参考通道TIADC互校准系统的一个实例的时钟关系图；图5是本申请带参考通道TIADC互校准系统的一个实例的时钟关系图。具体实施方式为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。图1示出了本申请带参考通道TIADC互校准方法的一个具体实施方式。在图1所示的具体实施方式中，本申请的带参考通道的TIADC互校准方法包括：过程S101，对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；过程S102，在利用第一采样时钟在子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用参考通道ADC对子通道ADC的采样过程进行校准；过程S103，若第一数量为一个，将一个所述子通道ADC作为复合子通道ADC，若第一数量为多个，将多个子通道ADC进行复合，得到复合子通道ADC；以及过程S104，在利用第二采样时钟在参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用复合子通道ADC对参考通道ADC的采样过程进行校准。在图1所示的具体实施方式中，本申请的带参考通道的TIADC互校准方法包括：过程S101，对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC。对系统时钟通过分频电路进行分频处理，分别得到第一采样时钟和第二采样时钟，其中，第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC。第一采样时钟及第二采样时钟的时钟频率和第一数量及二数量按照一定的规则进行确定。在本申请的一个具体实施例中，根据系统采样时钟、第一整数以及第二整数确定第一数量和第二采样时钟。其中所述第二整数小于所述第一数量。在该具体实施例中，其中根据系统采样时钟确定第一数量与第二采样时钟的关系的公式可表示为：fref＝fs/(P·Msub+q)(公式1)其中，fref表示第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，包括：/n对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，所述第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，所述第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；/n在利用所述第一采样时钟在所述子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准；/n若所述第一数量为一个，将一个所述子通道ADC作为复合子通道ADC，若所述第一数量为多个，将多个所述子通道ADC进行复合，得到所述复合子通道ADC；/n在利用所述第二采样时钟在所述参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述复合子通道ADC对所述参考通道ADC的采样过程进行校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，包括：
对系统采样时钟经过分频得到第一采样时钟和第二采样时钟，所述第一采样时钟对应第一数量的子通道ADC，所述第二采样时钟对应第二数量的参考通道ADC；
在利用所述第一采样时钟在所述子通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准；
若所述第一数量为一个，将一个所述子通道ADC作为复合子通道ADC，若所述第一数量为多个，将多个所述子通道ADC进行复合，得到所述复合子通道ADC；
在利用所述第二采样时钟在所述参考通道ADC对模拟信号进行采样过程中，使用所述复合子通道ADC对所述参考通道ADC的采样过程进行校准。


2.如权利要求1所述的带参考通道的TIADC互校准方法，其特征在于，还包括：
将所述参考通道ADC进行复合，得到复合参考通道ADC，对所述复合参考通道ADC和所述复合子通道ADC校准后输出。


3.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，根据所述系统采样时钟、第一整数以及第二整数确定所述第一数量和所述第二采样时钟，所述一整数和所述第二整数互质。


4.如权利要求1所述的带参考通道的TIADC互校准方法，其特征在于，所述第二采样时钟、所述第二数量的乘积与所述第一采样时钟和所述第一数量的乘积相等。


5.如权利要求1所述的带参考通道TIADC互校准方法，其特征在于，所述使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准过程中，若所述第二数量为一个，使用所述参考通道ADC对所述子通道ADC的采样过程进行校准，若所述第二数量为多个，根据多个所述参考通道ADC的采样顺序...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴景生，葛颖峰，徐祎喆，朱勇，
申请(专利权)人：重庆百瑞互联电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50