一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法技术

本发明专利技术涉及一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法包括如下步骤：S1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；S2、建立扁线绕组损耗解析模型，考虑转子的旋转效应影响，获取负载试验温度下单相基频交流电阻修正值以及高频交流电阻值；S3、对相电流进行傅里叶分解，对各个频次下的焦耳损耗进行叠加得到单相绕组交流损耗；S4、各相绕组交流损耗求和得到电机定子绕组总的交流损耗。与现有技术相比，本发明专利技术综合考虑集肤效应、邻近效应以及转子的旋转效应对电机扁线绕组损耗的影响，提高了扁线绕组损耗测试的准确性，解决了扁线永磁同步电机绕组交流损耗测试难的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法
本专利技术涉及电机测试
，尤其是涉及一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法。
技术介绍
在车用驱动电机高功率密度的发展趋势下，扁线电机技术成为驱动电机新的发展方向。相对于传统的圆导线电机，扁线电机的定子绕组受到高频集肤效应和邻近效应的影响更加显著，使得绕组的涡流损耗增大，进而使得绕组的交流电阻无法用一直流电阻完全代替；同时，扁线绕组的交流电阻随温度的变化呈现非线性变化的趋势。此外，由于电机实际工作在PWM供电模式下，电流谐波也会导致扁线绕组的附加损耗。故三相永磁同步电动机测试标准(GB/T22669-2008)中的绕组损耗测试方法已也不再适用于扁线电机绕组交流损耗的测试应用。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法提高了扁线永磁同步电机绕组损耗测试的准确性。本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现：一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法包括如下步骤：S1、获取负载试验温度下电机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：/nS1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；/nS2、建立扁线绕组损耗解析模型，考虑转子的旋转效应影响，获取负载试验温度下单相基频交流电阻修正值以及高频交流电阻值；/nS3、对相电流进行傅里叶分解，对各个频次下的焦耳损耗进行叠加得到单相绕组交流损耗；/nS4、各相绕组交流损耗求和得到电机定子绕组总的交流损耗。/n

【技术特征摘要】
1.一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
S1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；
S2、建立扁线绕组损耗解析模型，考虑转子的旋转效应影响，获取负载试验温度下单相基频交流电阻修正值以及高频交流电阻值；
S3、对相电流进行傅里叶分解，对各个频次下的焦耳损耗进行叠加得到单相绕组交流损耗；
S4、各相绕组交流损耗求和得到电机定子绕组总的交流损耗。


2.根据权利要求1所述的一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，其特征在于，步骤S1具体包括：
S11、保持电机的转子静止不动，测量电机定子出线端的电阻得到电机的直流相电阻R1，同时获取定子绕组温度T1；
S12、进行电机的负载试验，得到电机在不同转速与转矩下得到稳态后的定子绕组温度值Tt以及对应的电流波形，Tt确定为负载试验温度，进而求取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值Rdc：



其中，K为常数。


3.根据权利要求1所述的一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，其特征在于，步骤S2具体为：
S21、基于扁线绕组损耗解析模型确定扁线绕组的交流电阻增大系数与电阻率之间的函数关系；
S22、基于交流电阻增大系数和负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值确定基频交流电阻值以及高频交流电阻值；
S23、考虑电机转子旋转效应的影响，将由转子旋转引起的定子绕组附加损耗与定子绕组直流损耗的比值作为交流电阻的修正系数Kf；
S24、根据修正系数Kf对基频交流电阻值进行修正得到基频交流电阻修正值。


4.根据权利要求3所述的一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，其特征在于，步骤S21中某相绕组的交流电阻增大系数表示为：












其中，Kr为交流电阻增大系数，N1为每相绕组所占同相槽的个数，N2为每相绕组所占异相槽的个数，Kri为电机定子同相槽中扁线导体的平均交流电阻增大系数，Krh为电机定子异相槽中扁线导体的平均交流电阻增大系数，n为槽内导体总数，f为频率，θ为上下双层异相槽中上层电流超...

【专利技术属性】
技术研发人员：康劲松，母思远，武凯丽，姜后晓，
申请(专利权)人：同济大学，
类型：发明
国别省市：上海;31