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本发明涉及一种扁线永磁同步电机绕组损耗测试方法，该方法包括如下步骤：S1、获取负载试验温度下电机定子绕组的直流电阻值；S2、建立扁线绕组损耗解析模型，考虑转子的旋转效应影响，获取负载试验温度下单相基频交流电阻修正值以及高频交流电阻值；S3、...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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