一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法技术

本发明专利技术公布了一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法，涉及X射线荧光光谱分析样品制备技术领域。本发明专利技术通过使用单独地线来消除人体与设备表面的静电，通过使用除静电器减弱砂岩粉末之间的静电，保证了砂岩粉末能够在不添加粘合剂的情况下进行粘合压片，提高了检测的准确性；并且降低了设备的条件，使得利用普通压样机能够对砂岩粉末进行直接压片制样，不使用镶边衬底，避免使用高压压样机，减少了成本；制样的过程简易，耗时少，制样速度快。

【技术实现步骤摘要】
一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法
本专利技术涉及X射线荧光光谱分析样品制备
，尤其是一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法。
技术介绍
X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光，每一种元素会放射出特定对应的二次X射线，测量这些放射出来的二次X射线(X射线荧光)的类别及强度，可以转换成样品中各种元素的种类及含量。在进行X射线荧光光谱法分析时需要制备样品，通常制备石英砂岩样品的方法有如下几种，1、熔片法：熔片法的制样过程通常为①研磨；②干燥；③与熔剂比例混合；④熔化；⑤模具成型；⑥X射线荧光光谱分析。样品与熔剂比例通常为1:10，熔化过程涉及会使用贵重金属器皿，铂黄坩埚，并且检测耗时约4—6小时，时间较长；并且制样过程步骤多，涉及称量、高温、模具清洗。熔片法的缺点为：检测成本高，铂金器皿损耗、制样耗时长、高温危险因素、痕量元素由于加入熔剂稀释，降低了待测样品中元素浓度，导致检出限降低。2、混合压片法：在粉末中添加粘结剂后压制，其缺点为：需要精确控制掺加比例，掺加的粘合剂会带入污染，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法，其特征是，包括以下步骤；/n(1)制备砂岩粉末与设备放置/n①将石英砂岩进行烘干，利用振动磨进行粗磨；②将粗磨的石英砂岩通过行星式球磨机进行细磨，粗磨过的所述石英砂岩经过细磨后形成砂岩粉末；所述砂岩粉末的细度为200目；③将塑料环放置在制样用的托盘上端面；所述塑料环呈圆形环状，其内径为34mm，其侧壁厚度为3mm，其高度为5mm；/n(2)排除粉末静电/n①将除静电器接触步骤(1)中所述砂岩粉末，以消除所述砂岩粉末静电；/n(3)排除设备、人体静电/n①使用湿抹布对压样机的压头进行擦拭；②人体双手触摸单独地线；③使用加湿装置局部增加空...

【技术特征摘要】
1.一种用于X射线荧光光谱法分析石英砂岩化学成分的制样方法，其特征是，包括以下步骤；
(1)制备砂岩粉末与设备放置
①将石英砂岩进行烘干，利用振动磨进行粗磨；②将粗磨的石英砂岩通过行星式球磨机进行细磨，粗磨过的所述石英砂岩经过细磨后形成砂岩粉末；所述砂岩粉末的细度为200目；③将塑料环放置在制样用的托盘上端面；所述塑料环呈圆形环状，其内径为34mm，其侧壁厚度为3mm，其高度为5mm；
(2)排除粉末静电
①将除静电器接触步骤(1)中所述砂岩粉末，以消除所述砂岩粉末静电；
(3)排除设备、人体静电
①使用湿抹布对压样机的压头进行擦拭；②人体双手触摸单独地线；③使用加湿装置局部增加空气湿度；
(4)将所述托盘接触所述单独地线，将步骤(2)中已被消除静电的所述砂岩粉末用不锈钢勺逐次均匀摊布在所述塑料环内部，摊铺在所述塑料环内部的所述砂岩粉末的质量为3.8g；
(5)常规塑料环粉末直接压片制样
①使用所述压样机对步骤(4)中的位于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李欣，杨红岩，吴宏，韩艳丽，王长军，
申请(专利权)人：河北南玻玻璃有限公司，中国南玻集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：河北;13