一种基板检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电子产品检测设备技术领域，具体公开了一种基板检测装置。该基板检测装置包括框体和支撑机构，支撑机构用于支撑待检测的基板，支撑机构滑动连接于框体，以在第一状态和第二状态之间切换，支撑机构处于第一状态和第二状态时在基板上形成的投影不重合。首先支撑机构处于第一状态，位于第一状态的支撑机构在基板上会形成投影，位于框体下侧的CCD相机无法检测到支撑机构在基板上的投影的区域，该区域为第一不检区。然后支撑机构在框体上滑动至第二状态，位于第二状态的支撑机构在基板上的投影形成第二不检区，处于第一状态和第二状态的支撑机构在基板上的投影不重合，进而使得基板的下表面均能够被检测到，保证检测结果的准确性。

A substrate detection device

【技术实现步骤摘要】
一种基板检测装置
本专利技术涉及电子产品检测设备
，尤其涉及一种基板检测装置。
技术介绍
各类基板，如液晶面板、OLED(OrganicLight-EmittingDisplay)面板、触控面板、玻璃基板等，在出厂前需要对其上下表面进行检测，以确保基板为合格品。在对基板进行检测时，一般将基板放置到检测装置上，基板检测装置包括多个间隔设置的支撑条，用于支撑基板。基板检测装置的上侧和下侧均设置CCD相机，以采集基板上下表面的图像。现有技术中，支撑条会遮挡部分基板的下表面，位于下侧的CCD相机无法检测到基板被支撑条遮挡的部分，从而形成不检区。由于基板尺寸越来越大，需要更多的支撑条支撑，因此不检区的面积变大，影响检测结果的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基板检测装置，以避免出现不检区，提高检测结果的准确性。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：一种基板检测装置，包括：框体；支撑机构，用于支撑待检测的基板，所述支撑机构滑动连接于所述框体，以在第一状态和第二状态之间切换本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基板检测装置，其特征在于，包括：/n框体(1)；/n支撑机构(2)，用于支撑待检测的基板，所述支撑机构(2)滑动连接于所述框体(1)，以在第一状态和第二状态之间切换，所述支撑机构(2)处于所述第一状态和所述第二状态时在所述基板上的投影不重合。/n

【技术特征摘要】
1.一种基板检测装置，其特征在于，包括：
框体(1)；
支撑机构(2)，用于支撑待检测的基板，所述支撑机构(2)滑动连接于所述框体(1)，以在第一状态和第二状态之间切换，所述支撑机构(2)处于所述第一状态和所述第二状态时在所述基板上的投影不重合。


2.根据权利要求1所述的基板检测装置，其特征在于，所述支撑机构(2)包括上支撑组件，所述上支撑组件包括：
第一支撑条(21)，多个所述第一支撑条(21)沿第一方向(L)平行设置，以支撑所述基板；所述第一支撑条(21)沿第二方向(M)延伸，所述第一支撑条(21)沿所述第二方向(M)的两端分别沿所述第一方向(L)滑动连接于所述框体(1)；所述第一方向(L)与所述第二方向(M)垂直；
当所述支撑机构(2)处于所述第一状态时，所述第一支撑条(21)滑动至第一位置，当所述支撑机构(2)处于所述第二状态时，所述第一支撑条(21)滑动至第二位置。


3.根据权利要求2所述的基板检测装置，其特征在于，所述上支撑组件还包括：
第一连接板(22)，所述第一支撑条(21)沿所述第二方向(M)的两端均连接有所述第一连接板(22)，相邻的两个所述第一支撑条(21)通过所述第一连接板(22)连接。


4.根据权利要求2所述的基板检测装置，其特征在于，所述上支撑组件还包括：
上导向组件，所述上导向组件包括第一导轨(26)和与所述第一导轨(26)滑动连接的第一滑块(27)；
所述第一导轨(26)的长度方向与所述第一方向(L)平行，所述第一支撑条(21)沿所述第二方向(M)的两端均连接有所述第一滑块(27)，所述框体(1)上与所述第一滑块(27)对应的位置设置有所述第一导轨(26)。


5.根据权利要求3所述的基板检测装置，其特征在于，所述上支撑组件还包括：
第一驱动件(23)，设置于所述框体(1)上，所述第一驱动件(23)的输出端与所述第一支撑条(21)或所述第一连接板(22)连接，以驱动所述第一支撑条(21)沿所述第一方向(L)移动。


6.根据权利要求2所述的基板检测装置，其特征在于，所述支撑机构(2)还包括下支撑组件，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：候志翰，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32