一种测量液晶透过波前的干涉仪制造技术

本发明专利技术公开了一种测量液晶透过波前的干涉仪，包括基座和安装在基座上的工控机；所述基座上设置有光路结构；所述基座上安装有相机，相机连接工控机；所述光路结构包括光源设备和对应光源设备的反射参考镜；光源设备与反射参考镜之间依次设置有分光棱镜、第一准直镜和透射参考镜；所述分光棱镜上另一侧位置对应相机，且相机的镜头与分光棱镜之间设置有第二准直镜。本发明专利技术是一种基于激光的干涉仪，采用线偏振光输出，且偏振方向与液晶盲孔或液晶面板的双折射O光方向一致，实现液晶盲孔或液晶面板的透过波前测量的正确。

【技术实现步骤摘要】
一种测量液晶透过波前的干涉仪
本专利技术涉及干涉仪领域，具体而言，涉及一种测量液晶透过波前的干涉仪。
技术介绍
手机摄像孔的材质是光学玻璃，其透过波前的测量，采用传统的激光干涉仪即可满足。随着全面屏技术的发展，手机前置摄像孔开始采用液晶盲孔方案，而液晶具备双折射特性，传统的激光干涉仪不再能够准确测量液晶孔透过波前。传统激光干涉仪是圆偏振输出，光束穿过待测液晶时，会分解为o光和e光，两种光束回到干涉仪的采集相机后，会形成两套干涉条纹。两套干涉条纹叠加在一起，且存在一定的错位量，最终形成一套存在阴影干扰的条纹图。由这样的条纹图得到的解析结果，与液晶的透过波前实际数值有很大偏离。图1是传统结构的激光干涉仪测试光路图，激光器1发出的光线经过聚光镜2后进入到偏振分光棱镜3中，然后依次经过1/4波片4、准直镜5、透视参考镜6后照射到待测液晶板7上。光线穿过待测液晶板7后照射到发射参考镜8上，按照原路返回到偏振分光棱镜3上，再从另一个角度的准直镜10进入到相机8中，实现成像检测。上述方法的缺陷是：激光器输出的是圆偏振光，光束穿过液晶板后，最终本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量液晶透过波前的干涉仪，与待测的液晶板相对应，包括基座和安装在基座上的工控机；/n其特征在于：/n所述基座上设置有光路结构；/n所述基座上安装有相机，相机连接工控机；/n所述光路结构包括光源设备和对应光源设备的反射参考镜；光源设备与反射参考镜之间依次设置有分光棱镜、第一准直镜和透射参考镜；所述分光棱镜上另一侧位置对应相机，且相机的镜头与分光棱镜之间设置有第二准直镜。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量液晶透过波前的干涉仪，与待测的液晶板相对应，包括基座和安装在基座上的工控机；
其特征在于：
所述基座上设置有光路结构；
所述基座上安装有相机，相机连接工控机；
所述光路结构包括光源设备和对应光源设备的反射参考镜；光源设备与反射参考镜之间依次设置有分光棱镜、第一准直镜和透射参考镜；所述分光棱镜上另一侧位置对应相机，且相机的镜头与分光棱镜之间设置有第二准直镜。


2.根据权利要求1所述的一种测量液晶透过波前的...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝沛，
申请(专利权)人：上海乾曜光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31