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本发明公开了一种测量液晶透过波前的干涉仪，包括基座和安装在基座上的工控机；所述基座上设置有光路结构；所述基座上安装有相机，相机连接工控机；所述光路结构包括光源设备和对应光源设备的反射参考镜；光源设备与反射参考镜之间依次设置有分光棱镜、第一准...
该专利属于上海乾曜光学科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海乾曜光学科技有限公司授权不得商用。

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