一种测量真空紫外用荧光粉光学参数的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术的真空紫外用荧光粉的光学参数测量装置包括带真空泵的真空箱，真空箱内设有和驱动装置联接的托架，托架上分布有若干个放荧光粉的样品盘，在驱动装置伸出真空箱端装有检测样品盘编号的编码装置，在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。本实用新型专利技术由驱动装置驱动托架运转，使激发光源直接照射相应编号样品盘中的试样，利用光电测量仪，接收处于真空或惰性气体保护的荧光粉试样的发射光，可测得真空紫外荧光粉的光谱分布，相对亮度、色品坐标、色纯度、色温、峰值发射波长及辐射度、带宽等诸多光学参数。它结构简单、价格低，测量参数较全，精度高，信号强，使用方便。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量真空紫外用荧光粉光学参数的装置。
技术介绍
高清晰度大屏幕平板显示已成为当前信息技术发展的热点和趋势，采用高能量的真空紫外激发的彩色等离子体平板显示(简称PDP)，已经成为大屏幕平板显示的佼佼者，也使挂壁彩电成为现实。PDP所用的关键材料之一是荧光粉，由于PDP技术的迅猛突起，所用的荧光粉及其相应的测试急待完善。由于PDP荧光粉采用光子能量较强的真空紫外线激发，而通常所用的光谱和光学参数测量仪器是在紫外一可见区，因此，无法使用。目前，可以用于测量真空紫外用荧光粉光学参数的方法，文献中主要有三种。一是在高能同步辐射加速器上，利用某一节点输出的真空紫外光激发荧光粉发光，再经光谱仪测量荧光粉的发射光谱。此法不仅需要用同步加速器，而且要附加一整套光学引出系统，因此结构复杂，体积庞大，价格极其昂贵，难以在实际生产中获得应用；二是可利用高温等离子体辐射源，在不断注入所需惰性气体并使其处于高温等离子体状态下电离，并发射出所需的真空紫外光，激发荧光粉发光，再经光谱仪测量荧光粉光谱数据。此法的系统也较庞大，且需不断注入惰性气体和形成高温等离子体，在实际应用中也有许多不便；第三种方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量真空紫外用荧光粉光学参数的装置，其特征在于它包括带真空泵［１０］的真空箱［５］，真空箱内设有和驱动装置［８］联接的托架［７］，托架［７］上分布有若干个放荧光粉的样品盘［６］，在驱动装置伸出真空箱［５］端装有检测样品盘编号的编码装置［９］，在真空箱上安装有至少一个向样品盘照射光的激发光源［１］和至少一个接收样品发射光的光电测量仪。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：牟同升，洪广言，王建平，王立昌，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：实用新型
国别省市：86[中国|杭州]