不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术实施例提供一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质，通过单号扫描仪获取LED产品的流程单号，接收输入的至少一个不良项目信息，并以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况，从而使得最终的不良统计结果能够以流程单号为单位获取，使得对LED不良情况的统计可以追溯至对应的LED产品，实现LED产品中不良情况的统计分析，统计结果分类更加细致；另外，对不良LED的统计计数技术不再依赖于人工的称重计数，提升了统计结果的准确性。本发明专利技术实施例还提供不良LED处理系统、设备及计算机可读存储介质，能够为不良LED出现原因的分析以及LED产品生产工艺的改进提供更可靠的数据依据，提升生产效率。

【技术实现步骤摘要】
不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及LED领域，尤其涉及一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
贴片LED灯珠在封装、烘烤完成后，须将不良的灯珠剔除后才能将其与支架载体批量剥离，防止不良混入正常品中。为了便于后续分析不良LED的出现原因，并加以改进，还需要对贴片LED灯珠中的不良LED进行分类，并统计各不良项目下的LED数目。所以，在现有技术中，会设置三个岗位来完成上述工作：岗位1：外观岗，主要职责是利用显微镜对贴片LED灯珠中的LED进行检查，用漆笔标记不良LED以及不良LED对应的不良项目；岗位2：剥料岗，主要职责是根据岗位1中的标记，用镊子剥离不良LED，并将剥落的不良LED分类放入对应不良项目所属的盒子中；岗位3：计数岗，主要职责是对岗位2中剥离的不良LED按批次按不良项目进行汇总，并完成称重计数与数据的系统录入。在现有技术中，对不良LED的统计计数是按批次进行的，无法追溯确定每一片贴片LED灯珠的不良情况，另外，因为称重计数是人工进行的，因此，统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种不良LED处理方法，其特征在于，包括：/n通过单号扫描仪扫描LED产品上携带的流程单号，获取所述LED产品的流程单号，所述LED产品中包括镂空支架载体以及设置在所述镂空支架载体上的至少两个LED；/n接收输入的至少一个不良项目信息，所述不良项目信息与LED的一种质量因素唯一对应，表征LED在所述质量因素方面表现不良；/n以所述流程单号为单位统计所述LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况。/n

【技术特征摘要】
1.一种不良LED处理方法，其特征在于，包括：
通过单号扫描仪扫描LED产品上携带的流程单号，获取所述LED产品的流程单号，所述LED产品中包括镂空支架载体以及设置在所述镂空支架载体上的至少两个LED；
接收输入的至少一个不良项目信息，所述不良项目信息与LED的一种质量因素唯一对应，表征LED在所述质量因素方面表现不良；
以所述流程单号为单位统计所述LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况。


2.如权利要求1所述的不良LED处理方法，其特征在于，还包括：
在接收到输入的不良项目信息后，控制击落机构的击落头移动至观察显微镜载物底板的通孔上方，所述通孔连通所述载物底板上方区域与位于所述载物底板下方的接料盘；所述载物底板用于放置所述LED产品；
控制所述击落头垂直向下移动将当前位于所述通孔上方的目标LED从所述镂空支架上冲落，通过所述通孔落至接料盘中。


3.如权利要求2所述的不良LED处理方法，其特征在于，所述载物底板上的通孔设置在所述载物底板上与所述物镜对应的区域；所述目标LED为所述LED产品中当前正处于所述物镜观察区域的LED。


4.一种不良LED处理系统，其特征在于，包括输入设备以及处理设备，所述输入设备与所述处理设备通信连接；
所述输入设备用于获取LED产品的流程单号，并接收输入的至少一个不良项目信息，所述LED产品中包括镂空支架载体以及设置在所述镂空支架载体上的至少两个LED，所述不良项目信息与LED的一种质量因素唯一对应，表征LED在所述质量因素方面表现不良；所述处理设备用于以所述流程单号为单位统计所述LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况。


5.如权利要求4所述的不良LED处理系统，其特征在于，所述输入设备包括单号扫描仪和输入键盘，所述单号扫描仪用于扫描LED产品上携带的流程单号...

【专利技术属性】
技术研发人员：冉洪杰，邢美正，
申请(专利权)人：深圳市聚飞光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44