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本发明实施例提供一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质，通过单号扫描仪获取LED产品的流程单号，接收输入的至少一个不良项目信息，并以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况，从而使得最终的不良统计结果能...
该专利属于深圳市聚飞光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市聚飞光电股份有限公司授权不得商用。

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