一种大并测分区测试机构制造技术

本实用新型专利技术提出了一种大并测分区测试机构，包括安装板，所述安装板上设有若干个用于测试的测试基座，每个所述测试基座上方均设有压板，所述压板和所述安装板之间设有气缸，所压板固定在所述气缸的活塞杆上，所述气缸固定在所述安装板上，每个所述压板上均设有感应片，每个感应片设有对应设置的感应器，所述感应器固定在所述安装板上。本实用新型专利技术所提供的一种大并测分区测试机构，其上设有多个用于测试IC产品的测试基座，能够同时对多个IC产品进行测试，具有结构简单、操作方便，测试效率高的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种大并测分区测试机构
本技术涉及测试装置
，具体为一种大并测分区测试机构。
技术介绍
IC产品在在加工完成后，需对IC产品进行测试，现有的IC产品测试装置在对IC产品进行测试时，每次所测试的数量较少，不能实现同时并测，且结构复杂操作复杂，大大降低了IC产品的测试效率。
技术实现思路
针对
技术介绍
中指出的问题，本技术提出一种结构简单、操作方便且测试效率高的大并测分区测试机构。本技术的技术方案是这样实现的：一种大并测分区测试机构，包括安装板，其特征在于：所述安装板上设有若干个用于测试的测试基座，每个所述测试基座上方均设有压板，所述压板和所述安装板之间设有气缸，所压板固定在所述气缸的活塞杆上，所述气缸固定在所述安装板上，每个所述压板上均设有感应片，每个感应片设有对应设置的感应器，所述感应器固定在所述安装板上综上所述，本技术的有益效果为：本技术所提供的一种大并测分区测试机构，其上设有多个用于测试IC产品的测试基座，能够同时对多个IC产品进行测试，具有结构简单、操作方便，测试效率高的特点。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术的结构示意图；图2为本技术A部结构的放大图。附图标记：1、安装板；2、测试基座；3、压板；4、气缸；5、感应片；6、感应器。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如下参考图1—2对本技术进行说明：一种大并测分区测试机构，包括安装板1，所述安装板1上设有若干个用于测试的测试基座2，每个所述测试基座2上方均设有压板3，所述压板3和所述安装板1之间设有气缸4，所压板3固定在所述气缸4的活塞杆上，所述气缸4固定在所述安装板1上，每个所述压板3上均设有感应片5，每个感应片5设有对应设置的感应器6，所述感应器6固定在所述安装板1上。以上所述的仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大并测分区测试机构，包括安装板(1)，其特征在于：所述安装板(1)上设有若干个用于测试的测试基座(2)，每个所述测试基座(2)上方均设有压板(3)，所述压板(3)和所述安装板(1)之间设有气缸(4)，所压板(3)固定在所述气缸(4)的活塞杆上，所述气缸(4)固定在所述安装板(1)上，每个所述压板(3)上均设有感应片(5)，每个感应片(5)设有对应设置的感应器(6)，所述感应器(6)固定在所述安装板(1)上。/n

【技术特征摘要】
1.一种大并测分区测试机构，包括安装板(1)，其特征在于：所述安装板(1)上设有若干个用于测试的测试基座(2)，每个所述测试基座(2)上方均设有压板(3)，所述压板(3)和所述安装板(1)之间设有气缸(4)，...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁大明，
申请(专利权)人：上海中艺自动化系统有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31