DDR测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种DDR测试装置，该DDR测试装置包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，测试面板设置于底座的上端面，测试主板位于测试面板与底座之间，多组测试组件并列设置于测试面板中，且分别与测试主板电连接，测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。本实用新型专利技术通过在同一测试面板上布置多个测试组件，使得一个操作人员可以同时兼顾多个DDR芯片的测试过程，从而可节约人力和测试时间。除此以外，操作员可直接于测试面板上操作测试按钮，并通过指示灯直观获得测试结果，使得操作过程更为便捷，因此进一步提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
DDR测试装置
本技术涉及芯片测试领域，具体涉及一种DDR测试装置。
技术介绍
DDR(LowPowerDoubleDataRateSDRAM)，是DDRSDRAM的一种，以低功耗和小体积著称，专门用于移动式电子产品。目前，DDR测试设备一般包括底座、测试组件和屏幕，其中，测试组件设置于底座上，屏幕固定于底座一侧，测试组件包括手机主板、测试按钮和芯片插座，手机主板分别与芯片插座、屏幕和测试按钮电连接，检测时，通过按下不同测试按钮测试芯片的各项功能，并通过屏幕观察测试结果。该DDR测试设备单次只能对一个DDR芯片进行功能测试，因此效率较为低下。
技术实现思路
本技术的主要目的是提出一种DDR测试装置，旨在解决现有技术中DDR测试设备单次只能对一个DDR芯片进行功能测试造成的效率低下的问题。为实现上述目的，本技术提出一种DDR测试装置，该DDR测试装置包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，所述测试面板设置于所述底座的上端面，所述测试主板位于所述测试面板与所述底座之间，多组所述测试组件并列设置于所述测试面板中，且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DDR测试装置，其特征在于，包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，所述测试面板设置于所述底座的上端面，所述测试主板位于所述测试面板与所述底座之间，多组所述测试组件并列设置于所述测试面板中，且分别与所述测试主板电连接，所述测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。/n

【技术特征摘要】
1.一种DDR测试装置，其特征在于，包括底座、测试面板、测试主板和多组测试组件，所述测试面板设置于所述底座的上端面，所述测试主板位于所述测试面板与所述底座之间，多组所述测试组件并列设置于所述测试面板中，且分别与所述测试主板电连接，所述测试组件包括芯片插座、若干指示灯和若干测试按钮。


2.根据权利要求1所述的DDR测试装置，其特征在于，所述底座呈阶梯状，具有高低间隔的两个上端面，每个所述上端面上分别设有所述测试面板。


3.根据权利要求2所述的DDR测试装置，其特征在于，所述芯片插座、指示灯和测试按钮沿所述底座的两上端面高度渐低的方向依次布置。


4.根据权利要求1所述的DDR测试装置，其特征在于，所述测试主板包括与多组所述测试组件一一对应电连接的多个测试区，所述测试组件还包括开关，所述开关用于将所述测试主板上对应的测试区与电源连接。


5.根据权利要求4所述的DDR测试装置，其特征在于，每个所述测试组件中所述指示灯的数量为两个，其中一个指示灯在DDR芯片正常上电时点亮，另一指示灯在所述DDR芯片测试完成时点亮。


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【专利技术属性】
技术研发人员：刘冲，李振华，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44