金相显微缺陷定位检测标尺制造技术

技术编号:2612942 阅读:322 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种金相显微缺陷定位检测标尺,其包括一标尺,所述标尺大于金相样品,其中心开有小圆孔,所述圆孔周围设有十字刻痕;为方便标尺固定于轧辊表面,所述标尺由软磁材料制成;针对一般金相样品和微小缺陷的大小,所述标尺制成50×50毫米,所述圆孔直径是2毫米。由于本实用新型专利技术的金相显微缺陷定位检测标尺采用了上述技术方案,即制作合适的标尺,且在标尺中心开有圆孔,将该圆孔对准轧辊表面的微小缺陷,按小于标尺的尺寸制成金相样品并在标尺上做好划线标记,样品制成后,再按做好的标记覆上标尺,此时通过现场显微镜在标尺中心孔的Φ2mm部位,能快速、方便的检测到轧辊表面的微小缺陷。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于金相显微缺陷定位的检测标尺。
技术介绍
在冶金企业中,轧机轧辊的表面缺陷往往影响钢板表面的质量,轧辊表面 缺陷还会引起轧辊表面的大面积剥落,因此在对轧辊表面进行探伤发现缺陷 时,常常须要用金相检测对缺陷性质进行判定。通常用磁粉探伤对轧辊表面进 行金相检测, 一般轧辊表面的微小缺陷约为0.2 lmm,在金相检测过程中对轧 辊表面的微小缺陷部位进行金相制样,经砂纸粗磨、精磨、抛光,并在显微镜 下观察缺陷;金相样品的大小约为40X40mm,显微镜在40X40mm的样品中査 找0.2 lmm的肉眼难以观察到的微小缺陷,容易漏检,并化费大量时间,如果 捕捉不到该微小缺陷,再次进行磁粉探伤显示缺陷,则金相样品会受到污染, 而使显微镜下无法观察。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种金相显微缺陷定位的检测标 尺,能快速、方便地在现场显微镜下检测出轧辊表面的微小缺陷。为解决上述技术问题,本技术金相显微缺陷定位检测标尺,包括一标 尺,所述标尺大于金相样品,其中心开有小圆孔,所述圆孔周围设有十字刻痕。为方便标尺固定于轧辊表面,所述标尺是由软磁材料制成。针对一般金相样品和微小本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种金相显微缺陷定位检测标尺,包括一标尺,其特征在于:所述标尺大于金相样品,其中心开有小圆孔,所述圆孔周围设有十字刻痕。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:程永红
申请(专利权)人:上海宝钢工业检测公司
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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