一种具有X射线背散射和断层扫描的成像装置制造方法及图纸

一种具有Ｘ射线背散射和断层扫描的成像装置，其包括Ｘ射线源，探测扫描机构、旋转装置和驱动机构，还包含处理电路；所述的探测扫描机构设置于Ｘ射线源的前端，其包含准直器，背散射探测器和透射探测器；所述的背散射探测器设置于所述准直器的前面，所述的透射探测器设置于所述背散射探测器的对面；本实用新型专利技术提供一种具有Ｘ射线背散射和断层扫描的成像装置，对被探测物质进行背散射和断层扫描，通过对三维图像和背散射图像的处理，区分不同的物质，提高判定炸药、雷管等危险品的能力。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具有Ｘ射线背散射和断层扫描的成像装置，其特征在于，包括Ｘ射线源（１０１），探测扫描机构、旋转装置（１０３）和驱动机构（１０４）；　　　　所述的探测扫描机构设置于Ｘ射线源（１０１）的前端，其包含准直器（２０１），背散射探测器（２０２）和透射探测器（２０３）；　　　　所述的准直器（２０１）一侧的中部设置有水平的直线槽（２０１１），该准直器（２０１）的另一侧上设置一小孔（２０１２），在驱动机构（１０４）带动准直器（２０１）绕旋转装置（１０３）进行旋转时，Ｘ射线通过所述准直器（２０１）上的小孔（２０１２），就形成飞点；　　　　所述的背散射探测器（２０２）设置于所述准直器（２０１）的前面，所述的透射探测器（２０３）设置于所述背散射探测器（２０２）的对面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王满仓，王国岭，梁石磊，屈俊健，
申请(专利权)人：上海英迈吉东影图像设备有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]