一种用于集成电路芯片的辐射测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，包括用于插接待测芯片的测试板、用于向待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中测试板被布置在测试室中，且测试室内还布置有用于辐照待测芯片的辐照源；电源和PXI数据处理系被布置在控制室中；PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，数据采集卡用于采集待测芯片产生的测试数据；源测量单元板卡用于接收测试数据、对测试数据进行分析并获得分析结果；数字板卡用于接收测试数据和分析结果并进行存储。本实用新型专利技术提供的用于集成电路芯片的辐射测试系统，可以提高实验测试结果的准确性，避免出现错判或漏判问题，以及实现测试数据的存储和记录。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路芯片的辐射测试系统
本技术涉及微电子
，具体涉及一种用于集成电路芯片的辐射测试系统。
技术介绍
随着科学技术的飞速发展，尤其是空间技术、航空航天技术和核技术的发展，越来越多的电子元器件、电子设备需要在辐射环境中使用。电子设备中的一些元器件受到外部环境中的辐射、光照等因素影响，导致一些电参数发生改变，严重时可能会导致电子元器件失效，进而使电子设备不能正常的工作、运行。鉴于上述情况，对用于空间技术、航空航天
和核
的元器件进行总剂量辐照测试试验是集成电路芯片研发和生产工作中非常重要的一环。总剂量辐照测试试验是通过测试集成电路芯片的某些电参数在辐照环境下的改变情况，进而据此分析集成电路芯片的抗辐射能力。目前，开展总剂量辐照测试试验，主要是利用地面室的辐照源模拟空间射线对集成电路芯片的辐射进行效应评估。现阶段进行测试试验的困难在于，一般集成电路芯片的测试多借助于示波器等传统仪器，尤其是通过示波器展示输出信号波形的变化。但是在实际辐照环境下，由于波形的变化频率非常快，单纯依靠肉眼观察示波器，并不能准确捕捉本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，其特征在于，包括：用于插接待测芯片的测试板、用于向所述待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中所述测试板被布置在测试室中，且所述测试室内还布置有用于辐照所述待测芯片的辐照源；所述电源和所述PXI数据处理系统被布置在控制室中；/n所述PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，其中，/n所述数据采集卡的输入端与测试板的输出端连接，以采集所述待测芯片产生的测试数据；/n所述源测量单元板卡的输入端与所述数据采集卡的输出端连接，以接收来自于所述数据采集卡的测试数据、对所述测试数据进行分析并获得分析结果；/n所述数字板卡的输入端与所述数据采集...

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，其特征在于，包括：用于插接待测芯片的测试板、用于向所述待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中所述测试板被布置在测试室中，且所述测试室内还布置有用于辐照所述待测芯片的辐照源；所述电源和所述PXI数据处理系统被布置在控制室中；
所述PXI数据处理系统包括数据采集卡、数字板卡和源测量单元板卡，其中，
所述数据采集卡的输入端与测试板的输出端连接，以采集所述待测芯片产生的测试数据；
所述源测量单元板卡的输入端与所述数据采集卡的输出端连接，以接收来自于所述数据采集卡的测试数据、对所述测试数据进行分析并获得分析结果；
所述数字板卡的输入端与所述数据采集卡的输出端连接，以接收来自于所述数据采集卡的测试数据并进行存储；所述数字板卡的输入端还与所述源测量单元板卡的输出端连接，以接收所述分析结果并进行存储。

【专利技术属性】
技术研发人员：关凯博，张薇，刘刚，
申请(专利权)人：北京锐达芯集成电路设计有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京;11