温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种用于集成电路芯片的辐射测试系统，包括用于插接待测芯片的测试板、用于向待测芯片供电的电源以及PXI数据处理系统，其中测试板被布置在测试室中，且测试室内还布置有用于辐照待测芯片的辐照源；电源和PXI数据处理系被布置在控制室中...
该专利属于北京锐达芯集成电路设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京锐达芯集成电路设计有限责任公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。