多用元器件电性能参数测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及测试技术领域，且公开了多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚；本实用新型专利技术通过PCB板、测试台、第一凹槽、第二凹槽、测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件的设置，使得该测试治具可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率，解决了现有SOT23‑6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。

【技术实现步骤摘要】
多用元器件电性能参数测试治具
本技术涉及测试
，具体为多用元器件电性能参数测试治具。
技术介绍
SOT23-6产品的测试治具是用于测试元器件电性能参数的治具，但是现有SOT23-6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，这种治具仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品，为此提出一种可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率的测试治具以解决上述存在的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供多用元器件电性能参数测试治具，具备可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率的优点，解决了现有SOT23-6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，这种治具仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板(1)，其特征在于：所述PCB板(1)前侧的中部栓接有测试台(2)，所述测试台(2)前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽(3)和第二凹槽(4)，所述第一凹槽(3)位于第二凹槽(4)的顶部，所述第一凹槽(3)的内部栓接有测试金属上脚(5)，所述第二凹槽(4)的内部栓接有测试金属下脚(6)，所述测试金属上脚(5)和测试金属下脚(6)均与PCB板(1)电性连接，所述PCB板(1)前侧的两端均焊接有测试金属杆(7)，所述测试金属杆(7)的数量为六个，所述测试金属杆(7)的后端与PCB板(1)电性连接，所述PCB板(1)的表面并位于测试台(2)的附近焊接有检测...

【技术特征摘要】
1.多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板(1)，其特征在于：所述PCB板(1)前侧的中部栓接有测试台(2)，所述测试台(2)前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽(3)和第二凹槽(4)，所述第一凹槽(3)位于第二凹槽(4)的顶部，所述第一凹槽(3)的内部栓接有测试金属上脚(5)，所述第二凹槽(4)的内部栓接有测试金属下脚(6)，所述测试金属上脚(5)和测试金属下脚(6)均与PCB板(1)电性连接，所述PCB板(1)前侧的两端均焊接有测试金属杆(7)，所述测试金属杆(7)的数量为六个，所述测试金属杆(7)的后端与PCB板(1)电性连接，所述PCB板(1)的表面并位于测试台(2)的附近焊接有检测件(8)，所述检测件(8)的后端与PCB板(1)的表面电性连接，所述检测件(8)的数量为十个，所述检测件(8)均匀的分布于测试台(2)的两侧。


2.根据权利要求1所述的多用元器件电性能参数测试治具，其特征在于：所述测试台(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊，
申请(专利权)人：深圳市三合微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44