盘片冲击试验装置制造方法及图纸

一种盘片冲击试验装置，其特征在于包含：　　　　一基座，其具有一盘片承载部，该盘片承载部中央形成有一开口；　　　　一落锤组件，其具有一锤体及一杆部，该锤体正对该开口，该杆部的一端与该锤体连接，其另一端背向该开口延设；　　　　一上承板，该杆部穿设该上承板，而该锤体位于该上承板及该基座之间；　　　　一支撑部，其连接并固定该基座及该上承板；　　　　一横向导杆，其与该落锤组件连接并与该杆部垂直而设；以及　　　　一第一纵向导杆，其二端分别与该上承板及该基座连接，并与该杆部平行而设，该横向导杆的一端与该第一纵向导杆滑接。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是关于一种测试装置，特别是关于一种盘片冲击试验装置。
技术介绍
随着信息与多媒体时代的来临，消费者对于储存媒体容量的需求急剧地增加。其中，由于盘片型光学储存媒体可以储存大量的资料、具有可携带性、且能够长久保存资料，所以利用盘片型光学储存媒体来储存资料已经是越来越普及的资料储存方式。一般而言，光学储存媒体通常为圆盘盘片状，请参照图1所示，盘片1的中央具有一开孔11；当盘片1被置放在读取装置中，如光驱，不佳的盘片1会因为在读取装置中的高速旋转作动下，发生自开孔11破裂的情形。熟悉该项技术者都了解，造成上述不佳的盘片1的原因乃是因于其成形过程中应力释放不完全，而残留的应力会集中在浇口切割处，结果造成盘片1的开孔11的内圈部分易破裂。针对上述的问题，现有的测试方法是利用人工方式敲击盘片的开孔处，然后观察所制得的盘片是否能够承受敲击，以便判断开孔是否容易因为读取装置的高速旋转而破裂。然而，此种测试方式无法将测试值量化，因而无法对盘片作有效的测试及管理。如上所述，如何提供一种能够有效进行盘片型光学记录媒体的耐冲击测试的盘片冲击试验装置，，正是当前产业界的重要课题之一。
技术实现思路
为了克服现有技术中的不足之处，本技术的目的为提供一种能够针对盘片的开孔处进行耐冲击测试，并且能够将测试值量化的盘片冲击试验装置。本技术的特征是具有一用以容置盘片的盘片承载部，而且具有一能够对盘片的开孔处进行冲击测试的落锤组件。因此，为达上述目的，依本技术的盘片冲击试验装置包括一基座、一落锤组件、一上承板、一支撑部、一横向导杆以及一第一纵向导杆。在本技术中，基座具有一盘片承载部，且盘片承载部的中央形成有一开口；落锤组件具有一锤体及一杆部，锤体正对盘片承载部的开口，杆部的一端与锤体连接，其另一端背向开口延设，且杆部穿过上承板而设，而锤体位于上承板与基座之间；支撑部连接并固定基座及上承板；横向导杆与落锤组件连接并与落锤组件的杆部垂直而设，且其一端与第一纵向导杆滑接；第一纵向导杆的二端分别与上承板及基座连接，并与落锤组件杆部平行而设。承上所述，因依本技术的盘片冲击试验装置具有针对盘片设计的盘片承载部，而且针对盘片的开孔处设置有一落锤组件，所以能够对盘片的开孔处进行耐冲击测试，进而能够将测试值量化，以确保盘片型光学记录媒体的品质。附图说明图1为一示意图，显示盘片式光学记录媒体的示意图；图2为一示意图，显示依本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置的示意图；以及图3A及3B为示意图，显示依本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置进行测试的示意图。具体实施方式以下将参照附图，说明依本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置，其中相同的组件将以相同的参照符号加以说明。请参照图2所示，依本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置2包括一基座21、一落锤组件22、一上承板23、一支撑部24、一横向导杆25、一第一纵向导杆26、以及一第二纵向导杆27。基座21具有一盘片承载部211，且盘片承载部211中央形成有一开口212；另外，基座21还具有至少一挟持单元213。在本实施例中，如图3A及3B所示，盘片承载部211用以承载一待测盘片3，而待测盘片3的中央形成有一开孔31，其与开口212重叠，挟持单元213用以挟持固定待测盘片3。需注意的是，待测盘片3可以是任意一种盘片型光学记录媒体，例如是CD、或DVD。请再参考图2所示，落锤组件22具有一锤体221、一杆部222及一止部223。在本实施例中，锤体221正对开口212，杆部222沿着开口212的轴心线设置，其二端分别与锤体221及止部223连接。需注意者，锤体221为可更换，以便以不同重量的锤体进行冲击测试。上承板23与基座21相对而设，而杆部222穿过上承板23，锤体221及止部223分别位于上承板23的两侧。因此，落锤组件22能够沿着上承板23的轴向移动。支撑部24连接并固定基座21及上承板23。在本实施例中，支撑部24包括二侧板，其与上承板23及基座21垂直而设，如图2所示，基座21、上承板23及支撑部24构成一空间，而锤体221位于此空间中。横向导杆25与落锤组件22连接并与杆部222垂直而设；而第一纵向导杆26及第二纵向导杆27的二端分别与上承板23及基座21连接，并与杆部222平行而设。在本实施例中，横向导杆25连设于锤体221上，而且横向导杆25的二端分别与第一纵向导杆26及第二纵向导杆27滑接；因此，锤体221能够沿着开口212的轴心线以自由落体的方式向基座21移动。另外，依本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置2可以还包括一力感测组件28，其连接至盘片承载部211以测试锤体221施于一设置在盘片承载部211的待测盘片的冲击力大小。为使本技术的内容更容易理解，以下将参考图3A及3B、并举一实例，以说明利用本技术较佳实施例的盘片冲击试验装置2来测试一待测盘片3的步骤，其以一设置在盘片承载部211的待测盘片3的临界冲击值作为待测盘片3脆性破坏的检测标准。首先，装上适当重量的锤体221，并接着将锤体221升至一定高度。在本实施例中，锤体221落下并施于待测盘片3的冲击值可以由锤体221的重量与其高度的乘积求得；另外，熟知技术者亦可以利用前述的力感测组件28来量测待测盘片3所受到的冲击值，此冲击值可以直接自力感测组件28中读取而得。其次，将待测盘片3设置在盘片承载部211，并利用挟持单元213将待测盘片3固定在盘片承载部211中。在本实施例中，待测盘片3的中央具有一开孔31，其设置于盘片承载部211的开口212上方；而待测盘片3可以是任意一种盘片型光学记录媒体，例如是圆盘盘片、或是名片式盘片。接着，释放落锤组件22，此时，由于横向导杆25会沿着第一纵向导杆26及第二纵向导杆27滑动，再加上杆部222穿过上承板23移动，所以锤体221会朝向待测盘片3的开孔31前进，并撞击开孔31的内缘，借以有效地针对待测盘片3的开孔31处进行耐冲击测试。另外，由于杆部222的另一端连设有止部223，所以可以利用止部223来卡住上承板23，并藉以控制落锤组件22下落的范围。最后，熟知技术者可以利用锤体221的重量及高度来求得待测盘片3的开孔31处所承受的冲击力；另外，熟知技术者亦可以利用力感测组件28直接测得其冲击力。其中，力感测组件28可以由任何可量化的感测装置取代；在本实施例中，力感测组件28是直接连接至待测盘片3。本实施例是利用上述方法，并以增加落锤重量或落锤高度的方式来增加对待测盘片3的开孔31处的冲击力，当冲击力超过一临界点时，待测盘片3的开孔31处会发生破裂的情形。而本实施例借此定义出造成破裂情形的冲击程度，借以作为检定盘片脆性破坏的依据，并提供检验盘片在射出成型与工艺传递过程中孔洞容易破裂的问题。需注意者，在本技术另一较佳实施例中，仅需设置一纵向导杆，如第一纵向导杆或第二纵向导杆，便可以达到使锤体以自由落体方式冲击待测盘片的开孔处的目的。综上所述，由于依本技术的盘片冲击试验装置是利用盘片承载部来承载盘片，而且针对盘片的开孔处设置有一落锤组件，所以能够对盘片的开孔处进行耐冲击测试；另外，利用锤体的重量及高度来改变测试的冲击力，所以能够定义出造成开孔破裂情形的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王文志，纪政宏，张结雄，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：