【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种测定矿物的物理性能的方法及装置。目前检测半导体物质的方法有多种，如接触测量的二探针法、四探针法，非接触测量的微波测量法，电感测量法。探针法是测量试样的电阻率，方法简单。但对试样的形状体积要求比较苛刻，要求试样有一定的接触面积，接触面要平整。而且由于接触电阻项的存在，测量结果会产生很大偏差。非接触的微波测量法。电感测量法也都是间接通过电阻测量来判定试样电阻率的方法，虽然理论上讲非接触测量结果比较精确，但试样需精确成形是一个最大的缺点。这样，对于形状不规则天然矿物特别是体积很小的矿物颗粒，上述两类检测方法都无能为力。ⅡB型天然金钢石的测定就是这种情况。天然金钢石根据含氮量多少可以划分为三种类型Ⅰ型、Ⅱ型、过渡型，这三类金钢石的区分是通过红外分光光度计完成的。Ⅱ型金钢石又分为ⅡA和ⅡB两个亚型，ⅡA为绝缘体，具有很高的热传导性能，可以作为红外窗口材料，ⅡB型具有半导体性能，耐高温，有较高的机械强度和抗腐蚀性能，可以制成金钢石整流器，金钢石三极管等器件，这些金钢石半导体器件具有体积小、功率大、耐高温等优点。检测出半导体金钢石有很重要的意义，目前国际上检测金...
【技术保护点】
一种检测矿物是否具有半导体性能的方法，其特征在于：将矿物试样置于两个由导电材料制成的电极之间，并使矿物试样与其中一个电极形成整流接触，与另一个电极形成欧姆接触，构成一个类似肖特基二极管结构，然后通以交流信号，看其是否具有整流特性以判定该矿物是否为半导体，如果有整流特性，则该结构成肖特基二极管，该矿物为半导体。
【技术特征摘要】
1.一种检测矿物是否具有半导体性能的方法，其特征在于将矿物试样置于两个由导电材料制成的电极之间，并使矿物试样与其中一个电极形成整流接触，与另一个电极形成欧姆接触，构成一个类似肖特基二极管结构，然后通以交流信号，看其是否具有整流特性以判定该矿物是否为半导体，如果有整流特性，则该结构成肖特基二极管，该矿物为半导体。2.一种利用权利要求1所述方法而设计的矿物半导体检测仪器，该仪器由工作主机、载装...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵亨达，
申请(专利权)人：辽宁省地质实验研究中心，
类型：发明
国别省市：21[中国|辽宁]
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