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本发明属于测定矿物的物理性能的方法和装置．目前国内外测定矿物是否具有半导体特征均采用直接或间接测定该矿物电阻率的方法如两针法、四针法等．但不适于对一些表面形状不规则，体积很小的物质，如矿物颗粒进行测定．本发明基于新的原理来检测表面不规则体积...
该专利属于辽宁省地质实验研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过辽宁省地质实验研究中心授权不得商用。

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