高双折射光纤拍长测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于利用光电子方法测量光纤性能的技术领域。本发明专利技术是利用高双折射光纤的法拉第效应实现对高双折射光纤拍长测量的一种新方案，其主要优点是可不需破坏高双折射光纤的保护层进行无损检测、分辨率高、测量速度快，测量结果不受光纤摆放状态影响，并适于低耗高双折射光纤测量，可测出拍长沿光纤长度的分布。（*该技术在2007年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于利用光电子方法测量光纤性能的
随着相干光通讯和光纤传感技术的不断发展，对光纤的传输特性提出了单模保偏振的要求。普通单模光纤由于剩余应力、芯径不均匀、外部压力等因素导致双折射，其大小一般为每米几十度至几百度。双折射大小和快慢轴方向将影响光纤的偏振传输特性。因此，普通单模光纤不能适应保偏振应用的要求。高双折射光纤正是为了克服普通单模光纤的上述缺点而产生的，高双折射光纤与普通光纤结构不同，其横截面是非园对称的。如图1所示纤芯1-1，包层1-2，扇形夹层1-3。由于扇形夹层1-3与纤芯1-1、包层1-2的力学参数不一致，在光纤成型冷却后形成非均匀的应力分布，即产生应力双折射，双折射的快慢轴与光纤横截面的对称轴平行。双折射的大小用拍长表示，一个拍长相当于产生360°相移的光纤长度，其大小一般为毫米至厘米量级。高双折射光纤以其单模保偏振的优点得到广泛应用，因此，如何准确测量高双折射光纤的拍长成为近年来人们关注的课题。目前一种用来测量高双折射光纤拍长的方法是散射光弹法。(《实验应力分析》P281～288机械工业出版社1981.9;《应用光学》1975年第14卷P2406本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高双折射光纤拍长的测量方法，其特征在于当入射光的振动方向平行于光纤的快轴或慢轴时，在沿光纤长度方向加一小于拍长的局部交流磁场并移动其位置，光电探测装置检测到的交流信号连续出现三次零点所对应的磁场移动的距离就是一个拍长的大小。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：廖延彪，陈国霖，吴庚生，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]